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国家教育部博士点基金(2005070-0006)

作品数:1 被引量:1H指数:1
相关作者:高勇刘静更多>>
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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇二极管
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体二极管
  • 1篇SIGE

机构

  • 1篇西安理工大学

作者

  • 1篇刘静
  • 1篇高勇

传媒

  • 1篇电力电子技术

年份

  • 1篇2008
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
掺碳SiGe二极管反向阻断特性模拟与机理分析被引量:1
2008年
深入研究了掺碳SiGe(SiGeC)功率二极管的反向阻断特性,给出了详细的机理分析。与同结构SiGe二极管相比,SiGeC二极管的热稳定性显著提高,反向漏电流明显减小,击穿电压也有所增加,且随着温度的升高,其优势更加明显。与少子寿命控制技术相比,该SiGeC/Si异质结二极管有效协调了降低通态电压、减小反向漏电流、缩短反向恢复时间3者之间的矛盾。其较好的热稳定性降低了对器件后续制作工艺的限制,而且无需采用寿命控制技术,在制作过程中可调节Ge,C含量来对异质结能带结构进行剪裁,折中优化器件性能,给器件设计提供了更大的自由度。
刘静高勇
关键词:半导体二极管
共1页<1>
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