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湖南省自然科学基金(851204013)

作品数:2 被引量:1H指数:1
相关作者:张红南徐君张志伟王松李向库更多>>
相关机构:湖南大学中国科学院长沙大学更多>>
发文基金:湖南省自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇动态功耗
  • 2篇扫描测试
  • 2篇组合逻辑
  • 2篇组合逻辑电路
  • 2篇逻辑电路
  • 2篇功耗
  • 2篇测试功耗
  • 1篇电压
  • 1篇电压控制
  • 1篇向量
  • 1篇静态功耗
  • 1篇测试向量

机构

  • 2篇湖南大学
  • 1篇长沙大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇张红南
  • 1篇李向库
  • 1篇文跃荣
  • 1篇王松
  • 1篇邓榕
  • 1篇张志伟
  • 1篇徐君

传媒

  • 2篇湖南大学学报...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种有效降低扫描结构测试功耗的方法被引量:1
2009年
提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案.通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播.同时,设计了时序优化算法以保持电路其他性能不发生大的改变.实验结果显示:通过采用ISCAS89基准测试程序进行分析,优化前无用动态功耗值约占总功耗的19.84%,优化后整体测试功耗降低约23%,有效地降低了无用动态功耗,并且此方案容易在已有的设计流程里实现.
张红南王松徐君李向库张志伟
关键词:扫描测试测试向量组合逻辑电路动态功耗
一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法
2011年
提出了一种通过电压控制来实现扫描测试低功耗优化的方法(压控法).该方法主要采用插入门控晶体管来控制组合逻辑单元供电,从而有效地解决了在扫描测试移入过程中测试信号向组合逻辑的无用传播,由于组合逻辑的供电受到控制,因此压控法不仅有效降低了无用的动态功耗,同时也大大降低了由于供电所产生的漏电静态功耗.而且门控晶体管的插入对于当前设计的面积和时序影响都很小.实验结果表明,压控法对面积和延迟的影响远远小于以往插入逻辑门单元的方法,同时对功耗的优化最高可达近32%的改善.
张红南文跃荣邓榕
关键词:动态功耗扫描测试组合逻辑电路静态功耗
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