模拟集成电路重点实验室基金(9140C090406120C09037)
- 作品数：7 被引量：23H指数：4
- 相关作者：罗俊许斌赵胜雷陈世钗刘凡更多>>
- 相关机构：中国电子科技集团第二十四研究所西安电子科技大学中国电子科技集团第二十六研究所更多>>
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- 相关领域：电子电信更多>>
- 集成电路圆片级可靠性测试被引量：4
- 2013年
- 在集成电路制造厂的工艺监控体系中引入可靠性监控对于控制产品的可靠性十分重要。圆片级可靠性测试技术通过对集成电路产品的工艺过程进行可靠性检测,能够为集成电路制造工艺提供及时的可靠性信息反馈。圆片级可靠性测试通常是采用高加速应力对各种可靠性测试结构进行测试,以实现快速的工艺可靠性评价。对半导体集成电路圆片级可靠性测试的背景、现状和发展趋势进行了概况和探讨,介绍了目前在VLSI生产中应用最为广泛的栅氧化层经时击穿、电迁移和热载流子注入效应的可靠性测试结构。
- 秦国林许斌罗俊
- 关键词：集成电路制造热载流子注入电迁移
- 电子元器件加速寿命试验的挑战与对策被引量：6
- 2013年
- 加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法。详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故;探讨了如何基于上述挑战,改进加速寿命试验设计的措施,以期促进我国电子元器件加速寿命试验技术的发展。
- 许斌
- 关键词：高可靠性电子元器件加速寿命试验
- 半导体器件贮存可靠性快速评价方法被引量：3
- 2015年
- 为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。
- 罗俊代天君刘华辉杨勇张振宇杨少华
- 关键词：半导体器件加速寿命试验
- 半导体器件老炼筛选试验设计被引量：4
- 2014年
- 老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效的基本概念,并给出了半导体器件早期失效率的预计方法。在此基础上提出了半导体器件老炼筛选试验设计方法,以期最大限度地保证半导体器件出厂后的使用可靠性。
- 罗俊陈世钗胡盛东刘凡赵胜雷陈浩然晏开华王媛
- 关键词：半导体器件
- 基于泰勒展式的量化与反量化硬件设计
- 2014年
- 介绍了一种新的基于泰勒展式的量化与反量化硬件实现方法。该方法可广泛应用于多种音频的编解码系统,如MP3,AAC等。通过优化的方法,不仅能减少量化与反量化中数据存储区的大小,增加系数的准确性,还能减少计算系数时所需的运算量。与已有算法相比,在浮点运算下,新方法的性能得到显著提升。同时,给出了定点运算结果。实际测试结果表明,新方法有效提升了系统性能。该方法的算法还可用于伽玛校正。
- 向洵陈世钗刘凡
- 关键词：泰勒展式硬件设计反量化
- VLSI CMOS模拟集成电路可靠性仿真设计技术被引量：3
- 2013年
- 随着超大规模CMOS模拟集成电路工艺技术进入纳米阶段,模拟集成电路面临着日益严峻的可靠性挑战,可靠性仿真设计技术已经成为提升电路固有可靠性的重要途径。对现有的模拟集成电路可靠性仿真设计的文献资料进行了总结,探讨了集成电路可靠性仿真分析的高效方法,这些方法能够帮助电路设计师对电路进行分析,并找出其中的薄弱环节。介绍了典型的更具适应性和自愈能力的模拟集成电路设计技术。
- 许斌罗俊
- 关键词：超大规模集成电路模拟集成电路纳米CMOS
- 半导体器件的长期贮存失效机理及加速模型被引量：4
- 2013年
- 加速应力试验是评价长期贮存一次性使用半导体器件贮存可靠性的最重要途径之一。针对半导体器件不同的失效机理,选择合理、准确的加速应力模型,是定量分析半导体器件贮存寿命的基础。介绍了半导体器件在长期贮存时的主要失效机理及其加速应力模型,给出了这些模型的适用条件。
- 罗俊向培胜赵胜雷王毅刘涛陈光炳
- 关键词：半导体器件
