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国家自然科学基金(60377036)

作品数:6 被引量:40H指数:3
相关作者:袁祥辉孟丽娅黄友恕吕果林林聚承更多>>
相关机构:重庆大学更多>>
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相关领域:电子电信核科学技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇核科学技术

主题

  • 4篇微测辐射热计
  • 4篇测辐射热计
  • 3篇CTIA
  • 2篇电路
  • 2篇读出电路
  • 2篇衬底
  • 1篇虚拟仪器
  • 1篇数字图像
  • 1篇数字图像传感...
  • 1篇图像
  • 1篇图像传感器
  • 1篇温度补偿
  • 1篇温度相关
  • 1篇面阵
  • 1篇混合式
  • 1篇焦平面
  • 1篇焦平面阵列
  • 1篇红外
  • 1篇红外焦平面
  • 1篇红外焦平面阵...

机构

  • 6篇重庆大学

作者

  • 6篇袁祥辉
  • 5篇孟丽娅
  • 4篇黄友恕
  • 3篇吕果林
  • 1篇潘银松
  • 1篇林聚承
  • 1篇程瑶

传媒

  • 2篇光电工程
  • 2篇重庆大学学报...
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇激光与红外

年份

  • 2篇2006
  • 4篇2005
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
混合式IRFPA读出电路参数测试系统被引量:10
2006年
读出电路是红外焦平面阵列(IRFPA)的关键组成部分之一。它的质量直接影响到IRFPA的质量,因此读出电路参数的测试非常重要。本系统采用信号模仿的方法,对IRFPA读出电路注入电信号,调节电信号即可模拟不同的测试条件,利用读出电路的输出就可测试其主要参数的技术指标。系统采用虚拟仪器系统的精密数据采集卡(DAQ)和用于数据处理的软件(LabVIEW)来构建出混合式IRPFA读出电路参数测试系统。采集卡对读出电路输出信号进行采集,并利用软件的运算功能模块对采集的数据进行统计运算,就可定量得到各项参数指标,从而判断读出电路性能的好坏。采用本系统对128×128元读出电路进行测试,实验结果表明了系统的可行性,测试结果可以反映读出电路的质量。
程瑶袁祥辉
关键词:红外焦平面阵列读出电路参数测试虚拟仪器
微测辐射热计的建模与仿真被引量:1
2005年
微测辐射热计是一种应用前景广阔的非制冷型红外焦平面器件,本文对微测辐射热计进行了建模和仿真,并利用该模型分析、仿真了复位积分放大器CTIA(CapacitiveTransimped anceAmplifier)输出的微测辐射热计对不同黑体目标的输出电压和像元的响应率,为进一步设计、优化微测辐射热计读出电路打下了基础。
孟丽娅袁祥辉
关键词:微测辐射热计CTIA仿真
带衬底温度补偿的微测辐射热计读出电路
2006年
非致冷微测辐射热计具有较大不均匀性,并且输出响应受衬底温度影响很大.提出的读出电路在读出信号的同时能够扩大探测阵列的允许衬底温度.电路采用多列像素共享容式跨阻放大器(CTIA)和DAC,用补偿暗像元扣除静态电流,校正数据经DAC转换送至MOS管的栅极以控制偏置电流达到温度补偿目的.该电路灵敏度高、动态范围大,对于128×128面阵可以达到30Hz以上的帧频,通过PSPICE仿真验证了该读出电路的可行性.
孟丽娅袁祥辉吕果林黄友恕
关键词:微测辐射热计CTIACMOS读出电路
CTIA读出方式的微测辐射热计被引量:3
2005年
在微测辐射热计热敏元的热平衡模型基础上,分析了CTIA读出方式的微测辐射热计在不同背景和衬底温度下的输出响应率,仿真了探测器面阵在偏移-增益两点校正法校正后的输出。为衡量不同衬底温度下校正后残余非均匀性噪声的大小,考虑到响应率随背景温度和衬底温度变化的因素,提出了非均匀性噪声等效功率(NNEP)指标。研究结果表明,在采用20μs积分时间和5pF积分电容时,探测元响应率可以达到106V/W到107V/W;衬底温度的变化在约0.01K以内时,采用两点校正法可以对该读出方式的微测辐射热计输出进行良好的校正。
孟丽娅袁祥辉吕果林黄友恕
关键词:微测辐射热计CTIA温度相关
CMOS数字图像传感器研究进展被引量:25
2005年
CMOS图像传感器已从无源和有源像素结构发展到数字图像传感器(DPS),数字图像传感器是CMOS图像传感器的发展方向,DPS的优势在于可把整个图像系统集成在一块芯片上,构成单芯片成像系统,从而降低成本,节约系统功耗,改善成像质量.片上集成模数转换器(ADC)是CMOS图像传感器的关键部件,重点分析和比较了三类不同集成方式:芯片级、列级和像素级的原理、性能和特点.介绍了目前国内外数字图像传感器的发展现状及其未来的发展趋势.
潘银松袁祥辉林聚承孟丽娅黄友恕
关键词:CMOS数字图像传感器ADC
微测辐射热计的非均匀性校正新方法被引量:1
2005年
针对微测辐射热计的非均匀性校正对衬底温度要求较高的问题,从探测器的线性模型出发,提出了一种新型非均匀性校正方法。方法首先令阵列中不同探测单元的光响应率比和衬底温度响应率比分别相等,达到补偿衬底温度变化的目的;随后再执行传统的两点非均匀性校正。用数模转换器将存储在EPROM内的偏置电压输出到MOS管的栅极上,实现对偏置电流的控制,调节探测元及补偿元的响应率。仿真结果表明,该校正方法可以在变化范围约为4K的均匀衬底温度内达到良好校正效果。
孟丽娅袁祥辉吕果林黄友恕
关键词:微测辐射热计非均匀性校正衬底温度
共1页<1>
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