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龙芯处理器上的TLB性能优化技术被引量：1: 2011年; TLB(translation look-aside buffer)是分页式虚拟存储系统用于加速虚实地址转换的必不可少的性能优化部件.TLB处于访存的关键路径上,对系统性能有着至关重要的影响.同时TLB失效开销大,是龙芯处理器的系统性能瓶颈.因此,优化系统TLB的性能对于龙芯处理器系统性能的提升意义重大.实现了龙芯处理器上通过减少TLB失效次数以及降低TLB失效开销的TLB性能优化方法而分别采用的超页技术和软TLB技术,以及结合龙芯3号处理器新增的锁L2cache功能,进一步优化了的软TLB技术.; 张晓辉程归鹏从明; 关键词：龙芯处理器 TLB

龙芯3号互联系统的设计与实现被引量：23: 2008年; 龙芯3号的互联结构设计采用了一种基于二维Mesh的可伸缩分布式多核结构,可为芯片级、主板级和系统级的互联提供统一的拓扑结构和逻辑设计.龙芯3号的对外接口采用扩展的HyperTransport协议,既可以用于连接IO,又可以实现多芯片的互联.在龙芯3号的互联结构中还设置了软件路由配置机制,可以在板级直接构筑中等规模的CC-NUMA系统和更大规模的NCC-NUMA系统,提供高效的通信机制.介绍了基于龙芯3号的多处理器系统互联架构.采用了双层可伸缩互联结构:片内由二维Mesh连接多个结点,结点内由交叉开关连接多个处理器核和二级缓存模块.片间无需额外硬件支持即可通过支持缓存一致性的HyperTransport接口实现16核的多处理器系统.利用层次化目录技术,龙芯3号还可以支持更大规模的多处理器系统.龙芯3号的互联架构为搭建简洁、高效、灵活、高度可扩展的共享存储多处理器系统提供了有力支持.; 王焕东高翔陈云霁胡伟武; 关键词：多核体系结构互联处理器

龙芯处理器上的TLB性能优化技术: TLB（translation look-aside buffer）是分页式虚拟存储系统用于加速虚实地址转换的必不可少的性能优化部件.TLB处于访存的关键路径上,对系统性能有着至关重要的影响.同时TLB失效开销大,是龙芯...; 张晓辉程归鹏从明; 关键词：龙芯处理器 TLB; 文献传递

龙芯3A处理器封装的散热设计: 2009年; 随着处理器的性能越来越高,处理器的功耗和温度也随之攀升,这就对处理器的封装提出了更高的要求。本文针对龙芯3A高性能处理器对封装的散热问题,根据成熟的工艺水平选择了FC-BGA封装形式,并对散热和外加散热措施的方法进行了分析和研究。实验模拟结果表明,FC-BGA的封装形式完全能满足龙芯3A处理器对封装散热的要求。; 张瑾王剑; 关键词：龙芯3A 封装散热

使用支持向量机的微处理器验证向量优化方法被引量：1: 2010年; 为了解决微处理器仿真验证中随机验证向量质量不高的问题,提出了一种基于支持向量机(SVM)的验证向量优化方法。该方法将已仿真运行的验证向量及其覆盖率信息作为支持向量机的样本进行有监督学习,得到验证向量关于功能覆盖点的分类器。利用训练后的分类器对于新产生的验证向量进行预测,并丢弃预测中不能提高覆盖率的冗余验证向量。实验数据表明该方法能准确地过滤冗余验证向量,提高仿真运行的验证向量的质量。和完全随机的验证向量生成方法相比,该方法达到相同的功能覆盖率仅需要前者1/3的验证向量。; 王朋宇郭崎沈海华陈云霁张珩; 关键词：微处理器验证仿真验证

浮点乘加部件的自动化形式验证被引量：1: 2010年; 浮点运算部件的功能验证是处理器设计验证中重要的一环.相对于传统的模拟仿真方法,形式化方法具有验证完备且时间短的优点.给出了一种浮点乘加部件的形式化验证方法.该方法基于BDD和*PHDD,将设计分为3部分多种情况分别验证.其优点在于自动化程度高、划分粒度粗、可广泛适用于工业级设计.该方法已应用于龙芯3A浮点乘加部件的验证,验证结果显示出该方法具有良好的时空复杂度.; 陈博文郭琦沈海华; 关键词：形式化验证运算电路 BDD

浮点乘加部件的自动化形式验证: 浮点运算部件的功能验证是处理器设计验证中重要的一环.相对于传统的模拟仿真方法,形式化方法具有验证完备且时间短的优点.文章给出了一种浮点秉加部件的形式化验证方法.该方法基于BDD和PHDD,将设计分为三部分多种情况分别验证...; 陈博文郭琦沈海华; 关键词：形式化验证运算电路 BDD; 文献传递

基于龙芯2F处理器的硬件验证平台的设计与实现被引量：6: 2009年; 针对高性能处理器龙芯2F的逻辑验证和性能测试,本文设计和实现了一套硬件验证平台环境,既能验证处理器流片前的逻辑功能,也能测试处理器流片后的性能指标。实验结果表明,本文设计的硬件验证平台能够有效验证龙芯2F处理器的各项功能和性能指标。; 张瑾王剑; 关键词：龙芯2F 逻辑验证

覆盖率驱动的随机测试生成技术综述被引量：22: 2009年; 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点之一,其目标是通过覆盖率指导测试向量生成,减少重复测试向量,加速验证的收敛过程,提高验证的自动化程度和效率.文中全面综述了覆盖率驱动的随机测试生成技术的发展历程、研究现状和技术分类,并结合具体实例对各种方法及其面临的主要问题进行了讨论、评价和总结.; 沈海华卫文丽陈云霁; 关键词：VLSI

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国家高技术研究发展计划(2008AA110901)