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温州市科技局资助项目(H20080004)

作品数:1 被引量:3H指数:1
相关作者:张方晖席俭飞更多>>
相关机构:陕西科技大学更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇引线
  • 1篇引线键合
  • 1篇平整度
  • 1篇键合
  • 1篇键合强度
  • 1篇AL
  • 1篇超声
  • 1篇超声引线键合

机构

  • 1篇陕西科技大学

作者

  • 1篇席俭飞
  • 1篇张方晖

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2009
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
平整度对细Al丝超声引线键合强度的影响被引量:3
2009年
为避免双键合点破坏性拉力实验不易准确的缺陷和剪切力测试不能评价键合点整体特性的缺陷,采用了破坏性单键合点的测试方法。在尽量排除其他干扰因素的情况下,通过实验比较了10种不同平整度条件下细Al丝超声引线键合的结果。结果表明,平整度对超声引线键合的强度有影响,随着平整度的提高,键合强度和稳定度也随之提高。实际测试键合拉力时发现,键合良好断裂点均在跟键(heel)处,采取补强的方式使1.25 mil(3.125×10-3cm)细Al丝超声键合后的键合强度均值可以达到0.1568 N。分析了以上实验现象产生的原因,探讨了键合强度形成的机理。
席俭飞张方晖
关键词:超声引线键合平整度键合强度
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