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中央高校基本科研业务费专项资金(SWJTU09BR063)

作品数：1 被引量：3H指数：1
相关作者：王鹏崔易高波曹开江罗杨更多>>
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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇酰亚胺
  • 1篇介电
  • 1篇介电谱
  • 1篇聚酰亚胺
  • 1篇聚酰亚胺薄膜
  • 1篇绝缘

机构

  • 1篇西南交通大学

作者

  • 1篇吴广宁
  • 1篇罗杨
  • 1篇曹开江
  • 1篇高波
  • 1篇崔易
  • 1篇王鹏

传媒

  • 1篇绝缘材料

年份

  • 1篇2011
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于介电谱分析聚酰亚胺薄膜的老化特征被引量：3
2011年
对纳米和普通聚酰亚胺薄膜进行了双极性脉冲电压下的老化试验,分析了薄膜老化前后的介电频率谱和温度谱,并借助电镜扫描分析,研究了薄膜老化前后的微观结构形态与宏观介电性能之间的关系。结果表明:老化使聚酰亚胺薄膜介电频率谱中的偶极子弛豫损耗峰向高频移动,低温区的界面极化损耗峰向高温移动;且老化使聚酰亚胺薄膜分子链断裂,生成分子量小的极性分子,使取向极化更易建立;纳米粒子的加入,削弱了老化因子对聚酰亚胺薄膜内部结构的破坏作用,使偶极子取向带来的弛豫损耗大大减小;纳米掺杂形成大量的界面缺陷,使界面极化带来的介质损耗大大增加。
高波吴广宁曹开江罗杨王鹏崔易
关键词：聚酰亚胺薄膜绝缘介电谱
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