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国家高技术研究发展计划(2001AA311080)

作品数:8 被引量:57H指数:4
相关作者:李娟蒋民华胡小波徐现刚王继扬更多>>
相关机构:山东大学更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划国家自然科学基金教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 6篇理学
  • 4篇电子电信

主题

  • 8篇单晶
  • 7篇SIC单晶
  • 3篇碳化硅
  • 2篇大直径
  • 2篇生长速率
  • 2篇碳化硅单晶
  • 2篇硅单晶
  • 2篇SIC
  • 2篇6H-SIC
  • 2篇MICRO-...
  • 1篇单晶生长
  • 1篇抛光
  • 1篇平整度
  • 1篇翘曲度
  • 1篇热力学
  • 1篇微管
  • 1篇温度场
  • 1篇金刚石
  • 1篇晶体
  • 1篇晶体生长

机构

  • 9篇山东大学

作者

  • 7篇王继扬
  • 7篇徐现刚
  • 7篇胡小波
  • 7篇蒋民华
  • 7篇李娟
  • 6篇李现祥
  • 6篇姜守振
  • 6篇王丽
  • 6篇董捷
  • 4篇陈秀芳
  • 2篇韩荣江
  • 2篇马德营

传媒

  • 5篇功能材料
  • 2篇第五届中国功...
  • 1篇人工晶体学报
  • 1篇中国有色金属...
  • 1篇Journa...

年份

  • 1篇2007
  • 3篇2006
  • 1篇2005
  • 5篇2004
8 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
同步辐射白光形貌术观察SiC单晶中的微小多型结构
2006年
采用同步辐射白光形貌术观察了6H和4H-SiC单晶片中的微小多型结构。基于透射同步辐射形貌术的衍射几何和晶片的取向,计算了SiC晶体中3种主要多型在Lane像中对应不同反射的成像位置,并与实际结果进行了比较。鉴别出6H和4H-SiC单晶中分别存在着少量的4H-SiC和15R-SiC多型的寄生生长。
李现祥董捷胡小波李娟姜守振王丽陈秀芳徐现刚王继扬蒋民华田玉莲黄万霞朱佩平
关键词:SIC单晶
升华法生长大直径的SiC单晶被引量:4
2004年
采用高纯Si粉和C粉在适宜的温度和压力下合成了多晶SiC粉末,在此基础上采用升华法在低压高温下条件下生长了大直径6H SiC单晶,并根据热力学理论分析了SiC的分解。结果表明,在2300℃附近的生长温度下,Si,Si2C,SiC2是Si C热力学平衡下的主要物种,其平衡分压比同组分的SiC物种高出3个量级,因而是升华过程中的主要物种,其质量传输过程直接决定SiC的生长。另外,采用光学显微镜观察SiC单晶中的生长缺陷,分析了缺陷成因,提出了碳的包裹体是微管缺陷的重要来源,而调制掺氮可以抑制部分微管在[0001]方向上的延伸,并在此分析基础上调整生长参数,生长出了高质量的6H SiC单晶。
李娟胡小波王丽李现祥韩荣江董捷姜守振徐现刚王继扬蒋民华
关键词:SIC微管晶体生长热力学
温度及温度梯度对SiC单晶生长的影响
利用升华法在高温低压下生长大直径SiC单晶.通过实验发现:在相同的轴向温度梯度下,SiC晶体平均生长速率随籽晶温度的升高而变大.通过减小轴向温度梯度,降低晶体生长界面的径向过饱和度分布,可以抑制多型的生长.通过优化温场的...
李现祥李娟董捷王丽姜守振韩荣江徐现刚王继扬胡小波蒋民华
关键词:SIC单晶生长速率
文献传递
温度及温度梯度对SiC单晶生长的影响被引量:2
2004年
利用升华法在高温低压下生长大直径SiC单晶.通过实验发现:在相同的轴向温度梯度下,SiC晶体平均生长速率随籽晶温度的升高而变大.通过减小轴向温度梯度,降低晶体生长界面的径向过饱和度分布,可以抑制多型的生长.通过优化温场的径向温度梯度,利用φ50mm的籽晶进行生长,得到了φ57mm的SiC单晶,实现了晶体的扩径生长.
李现祥李娟董捷王丽姜守振韩荣江徐现刚王继扬胡小波蒋民华
关键词:SIC单晶生长速率
金刚石线锯切割大直径SiC单晶被引量:23
2005年
采用金刚石线切割大直径的SiC单晶,研究了金刚石线锯的切割机理和切割参数,给出切割SiC单晶的实验结果。研究了金刚石线的寿命及各切割参数对线径减少量、翘曲度、表面粗糙度的影响。用光学显微镜观察了磨损的金刚石线和切割表面。
陈秀芳李娟马德营胡小波徐现刚王继扬蒋民华
关键词:SIC翘曲度
Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构
利用激光拉曼光谱仪测量了SiC单晶中不同多型的显微Raman光谱。在Raman光谱中,最大强度的FTA模和FTO模应出现在其简约波矢x等于该多型的六角度h处,据此时4H-SiC单晶中的多型进行了鉴定。同时采用高分辨X射线...
王丽胡小波董捷李娟姜守振李现祥徐现刚王继扬蒋民华
关键词:SIC单晶
文献传递
Surface Polishing of 6H-SiC Substrates被引量:4
2007年
为硅碳化物擦亮的表面(原文如此)底层被调查 andresults 为机械擦亮被介绍( MP )并且chemo机械的擦亮( CMP ) .High qualitysurfaces 在 CMP 期间在物理的 MP anddetailed 和化学过程与擦伤的胶体的 silica.The 移动机制在 CMP 以后被获得是 MP 和 CMP 的 analyzed.The 效果在 thesurface 上,粗糙被光显微镜学( OM )估计,原子力量显微镜学( AFM )和高分辨率
Xiufang CHEN Xiangang XU Juan LI Shouzhen JIANG Lina NING Yingmin WANG Deying MA Xiaobo HU Minhua JIANG
关键词:6H-SIC衬底表面抛光碳化硅
SiC单晶片的超精密加工被引量:26
2006年
半导体晶片的加工质量和精度,直接影响到器件的性能。本文提出了一种超精密加工SiC晶片的方法,并详细论述了化学机械抛光的原理。加工后的SiC单晶片,平整度为±3μm,粗糙度<5nm,且应力较小。
李娟陈秀芳马德营姜守振李现祥王丽董捷胡小波徐现刚王继扬蒋民华
关键词:化学机械抛光粗糙度平整度
Micro-Raman光谱鉴定碳化硅单晶的多型结构被引量:4
2004年
利用激光拉曼光谱仪测量了SiC单晶中不同多型的显微Raman光谱.在Raman光谱中,最大强度的FTA模和FTO模应出现在其简约波矢x等于该多型的六角度h处,据此对4H-SiC单晶中的多型进行了鉴定.同时采用高分辨X射线衍射测量了该晶片不同区域的摇摆曲线,将不同多型体的计算衍射角与实验值加以比较,对SiC晶片中的多型进行了标注,所得结论与激光Raman光谱测定结果相一致,说明Raman光谱是一种简单、快速地鉴定多型结构的强有力的工具.实验结果表明,在升华法生长4H-SiC单晶过程中,容易出现寄生6H、15R多型同4H多型的竞争生长,简单分析了寄生多型产生的原因.
王丽胡小波董捷李娟姜守振李现祥徐现刚王继扬蒋民华
关键词:SIC单晶
6H-SiC单晶生长温度场优化及多型控制被引量:1
2006年
本文模拟了升华法生长6H-S iC单晶的不同温度场,并进行了相应的生长实验。结果表明:改变石墨坩埚和感应线圈的相对位置,可以改变温度场形状;下移石墨坩埚;可以增大温度场径向温度梯度。在不同的径向温度梯度下,6H-S iC晶体分别以凹界面、平界面和凸界面生长。晶体生长界面的形状和速率影响晶体多型的产生,在平界面,生长速率小于300μm/h的晶体生长条件下,可获得无多型的高质量6H-S iC单晶。
李现祥胡小波董捷姜守振李娟陈秀芳王丽徐现刚王继扬蒋民华
关键词:温度场
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