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国家自然科学基金(61274104)

作品数:1 被引量:8H指数:1
相关作者:李明高立明吴昊袁琰红更多>>
相关机构:上海交通大学更多>>
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相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇有限元
  • 1篇有限元分析
  • 1篇通孔
  • 1篇热应力
  • 1篇集成封装
  • 1篇封装
  • 1篇
  • 1篇尺寸

机构

  • 1篇上海交通大学

作者

  • 1篇袁琰红
  • 1篇吴昊
  • 1篇高立明
  • 1篇李明

传媒

  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2013
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
硅通孔尺寸与材料对热应力的影响被引量:8
2013年
通过有限元分析研究了单个硅通孔及两片芯片堆叠模型的热应力。采用单个硅通孔模型证实了应力分布受填充材料(铜,钨)的影响,提出钨在热应力方面的优越性,确定了硅通孔尺寸(通孔直径、深宽比等因素)与热应力大小间的对应关系。为寻找拥有最佳热应力的材料组合,采用两片芯片堆叠的二维模型,对常用材料的组合进行了仿真分析,发现以二氧化硅为隔离层,钨为填充金属,锡为键合层的模型具有最理想的热应力特性,此外,铜、ABF以及锡的组合也表现出良好的热应力特性。
袁琰红高立明吴昊李明
关键词:热应力有限元分析
共1页<1>
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