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黑龙江省教育厅科学技术研究项目(12511120)

作品数:5 被引量:6H指数:2
相关作者:王东兴朱敏张月王晓林庞超更多>>
相关机构:哈尔滨理工大学更多>>
发文基金:黑龙江省教育厅科学技术研究项目更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 4篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 3篇肖特基
  • 2篇酞菁
  • 2篇酞菁铜
  • 2篇光电
  • 2篇二极管
  • 2篇C/C
  • 2篇ZNO薄膜
  • 1篇低驱动电压
  • 1篇电场
  • 1篇电晶体
  • 1篇电特性
  • 1篇载流子
  • 1篇载流子迁移率
  • 1篇势垒
  • 1篇势垒高度
  • 1篇气敏
  • 1篇气敏特性
  • 1篇迁移率
  • 1篇驱动电压
  • 1篇紫外探测

机构

  • 5篇哈尔滨理工大...

作者

  • 5篇王东兴
  • 2篇朱敏
  • 2篇张月
  • 1篇赵洪
  • 1篇刘晓廉
  • 1篇王长昊
  • 1篇王玥玥
  • 1篇殷景华
  • 1篇罗双超
  • 1篇刘跃
  • 1篇焦兵兵
  • 1篇庞超
  • 1篇王泽英
  • 1篇陈嘉宾
  • 1篇王晓林

传媒

  • 5篇哈尔滨理工大...

年份

  • 3篇2014
  • 2篇2012
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
Al/CuPc/Cu肖特基气敏二极管制备与特性被引量:2
2012年
实验采用溅射和蒸发镀膜工艺,制备了一种新型的Al/CuPc/Cu三明治结构NO2气敏传感器.这种器件对NO2气体具有较高的敏感性,制备工艺简单,成本较低.通过研究其在NO2气体中电学特性的变化,来表征其敏感特性.研究结果表明,在10 ppm的NO2气体环境中,器件的正向电流明显增大.通过比较器件在空气和NO2气体中器件的肖特基势垒高度的变化,发现通入NO2气体50分钟后,CuPc/Al势垒高度降低了60 meV,正向整流电流增加77倍.
王东兴刘晓廉焦兵兵刘跃
关键词:肖特基酞菁铜敏感度势垒高度
酞菁铜薄膜光电晶体管的制备与特性被引量:2
2014年
无机光敏器件难于做成大面积光电传感器,且其生产成本高、工艺复杂,而有机光敏器件多采用二极管或平面场效应三极管结构,导致光电流增益小或驱动电压较大.针对这些问题,提出一种新的器件结构.采用真空蒸镀和溅射的方法,制备了结构为氧化铟锡(ITO)/酞菁铜(Cu Pc)/铝(Al)/酞菁铜(Cu Pc)/铜(Cu)的有机光电晶体管.对器件的光电特性进行了测试分析,结果显示晶体管的I-V特性表现出显著的不饱和特性和光敏特性.当发射极集电极偏压为3 V时,器件无光照时电流放大系数为16.5,当625 nm光照射时的电流放大系数为266.2.
朱敏张永霜王玥玥王泽英王东兴殷景华
关键词:酞菁铜Ⅰ-Ⅴ特性
MgAl/PbPc/Cu有机薄膜二极管的制备与气敏特性分析
2014年
选用酞菁铅作为有机半导体气敏材料,用真空热蒸镀、磁控溅射等镀膜方法制备器件,所制备薄膜二极管的结构为MgAl/PbPc/Cu,使用Keithley 4200半导体测试仪与气敏测量系统分析器件肖特基二极管的气敏特性,通过对电流-电压特性的实测数据进行深入的理论分析,比较出器件对不同浓度NO2气体的敏感程度.经过测试结果可知:当器件置于10-5的NO2气体74 min后,正向电流减小65倍,对应的MgAl/PbPc肖特基势垒高度约上升了20 meV.同时由于被吸附NO2气体的PbPc薄膜少数载流子电子数目的增加,导致器件的反向电流增加4倍.
王东兴陈嘉宾张月山岳
关键词:薄膜二极管气敏特性
垂直结构ZnO薄膜晶体管制备与工作特性
2014年
针对目前发表的氧化物薄膜晶体管的研究成果中,存在着驱动电压高,工作电流小的问题,制备了垂直结构的氧化锌薄膜晶体管.器件制备是以石英玻璃为衬底,采用磁控溅射工艺,以氧化锌薄膜为有源层.测试结果表明,制备的晶体管驱动电压低、工作电流大、载流子迁移率高.在偏压条件VGS为0.2 V,VDS为3 V时,漏源极电流IDS达到9.15 mA,开启电压Vth仅在1.35 V左右,可以作为有机发光二极管的驱动单元,具备了实用化特性.
朱敏山岳张月罗双超王东兴
关键词:低驱动电压磁控溅射载流子迁移率
Al/ZnO/Ag肖特基二极管的制备与光电特性被引量:3
2012年
以Si(111)为衬底,采用射频磁控溅射与高温退火工艺制备ZnO薄膜.利用X射线衍射、扫描电子显微镜对ZnO薄膜进行表征及结构分析.结果表明,ZnO薄膜具有高度的C轴择优取向,样品表面光洁、平整.在此ZnO薄膜工艺条件下,在石英玻璃衬底上成功制备了Al/ZnO/Ag肖特基二极管紫外探测器.对该紫外探测器的暗电流和365 nm波长光照下的光电流进行了测试.室温下结果表明:Ag和ZnO已形成肖特基接触,根据I-V、C-V测试得到的有效势垒高度分别为0.60 eV和0.53 eV,理想因子为12.6,理论计算得到的空间电荷密度为3.1×1016cm-3.无光照3V偏压时,暗电流为24.19 mA,当用λ=365 nm的光照射Ag/ZnO肖特基结,在3 V偏压时,光生电流为3.28 mA,表明Al/ZnO/Ag紫外探测器有明显的光响应特性.
王长昊王东兴王晓林庞超赵洪
关键词:紫外探测肖特基二极管ZNO薄膜I-V特性
共1页<1>
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