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国家重点实验室开放基金(51487020104)

作品数：9 被引量：15H指数：2
相关作者：姜守达孙超刘晓东王建峰张礼勇更多>>
相关机构：哈尔滨工业大学哈尔滨理工大学海军驻航天三院军事代表室更多>>
发文基金：国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术交通运输工程兵器科学与技术更多>>

文献类型

  • 9篇中文期刊文章

领域

  • 7篇自动化与计算...
  • 1篇交通运输工程
  • 1篇兵器科学与技...

主题

  • 3篇电路
  • 3篇图像
  • 2篇支持向量
  • 2篇支持向量机
  • 2篇图像编码
  • 2篇微分进化
  • 2篇微分进化算法
  • 2篇向量
  • 2篇向量机
  • 2篇进化算法
  • 2篇集成电路
  • 2篇感兴趣区
  • 2篇JPEG20...
  • 1篇电路故障诊断
  • 1篇电视
  • 1篇电视制导
  • 1篇信息嵌入
  • 1篇制导
  • 1篇扫描电路
  • 1篇神经网

机构

  • 7篇哈尔滨工业大...
  • 3篇哈尔滨理工大...
  • 1篇海军驻航天三...

作者

  • 4篇孙超
  • 4篇姜守达
  • 3篇刘煜坤
  • 3篇张礼勇
  • 3篇王建峰
  • 3篇刘晓东
  • 2篇林连雷
  • 2篇张旭
  • 1篇钱进
  • 1篇郑媛

传媒

  • 1篇哈尔滨理工大...
  • 1篇电测与仪表
  • 1篇自动化学报
  • 1篇电子学报
  • 1篇西安电子科技...
  • 1篇弹箭与制导学...
  • 1篇哈尔滨工程大...
  • 1篇计算机测量与...
  • 1篇吉林大学学报...

年份

  • 1篇2010
  • 5篇2009
  • 3篇2008
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
一种提高测试序列质量的方法被引量：2
2009年
针对电路测试序列质量低而导致测试费用高的问题,提出了修改扫描选择子序列提高测试序列质量的方法.通过组合测试集转化生成测试序列,研究分析组合测试集与转化测试序列的质量.通过修改测试序列的扫描选择子序列,使其能在相同的测试时间内检测更多故障,减少测试所需时间,降低测试费用.基准电路实验结果表明,应用本文方法测试序列质量明显提高,相同故障覆盖率下,所需测试时间仅为典型方法的50%.
刘煜坤张礼勇张旭
关键词：集成电路故障仿真
基于微分进化算法的支持向量机参数与特征同步选择
2008年
为了提高支持向量机(SVM)参数选择和特征选择的效率,提出了一种基于微分进化(DE)算法的SVM参数与特征同步选择方法(DE-SVM)。在编码方式上将DE的个体分为参数维和特征维,参数维直接用于优化选择参数,特征维经过"取整二进制变换"后选择相应特征。在几个UCI标准数据集上的仿真试验证明了该方法的有效性,与基于微粒群算法的参数与特征同步选择方法(PSO-SVM)相比,DE-SVM具有更高的寻优效率和特征选择能力。
林连雷姜守达刘晓东
关键词：自动控制技术支持向量机微分进化算法
电视制导中的图像感兴趣区信息嵌入方法
2009年
在信道带宽有限的条件下,为了保证图像目标区域具有更高的清晰度,将感兴趣区(ROI)图像编码技术引入电视制导系统中。同时,为了有效地利用图像信道进行弹上信息的传输,提出了一种基于隐式ROI的图像信息嵌入方法,通过选择适当的码块及其位平面,利用替换的方式实现了信息的嵌入,并对因信息嵌入产生的误差进行了分析。实验结果表明,与普通编码方法相比,目标区域图像质量明显提高,且信息嵌入后对图像影响较小,更适用于电视制导系统。
孙超钱进王建峰
关键词：电视制导感兴趣区图像编码信息嵌入
一种有限扫描操作测试压缩方法
2009年
针对集成电路测试时间长,导致测试费用高的问题,提出了一种基于有限扫描操作的扫描电路静态测试压缩方法.利用有限扫描操作代替全扫描操作,用有限扫描操作合并测试对,通过减少移位操作次数减少测试时间.同时,将启发式方法用于限制候选测试对数量,给候选测试对进行排序,降低计算复杂度,加速压缩过程.基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,本方法所需平均测试时间仅为典型方法的50%左右.
刘煜坤孙超张礼勇
基于微分进化算法的SVM参数选择被引量：8
2009年
支持向量机(support vector machines,SVM)的性能在很大程度上取决于参数的设置,所以参数选择问题一直是SVM理论和应用研究中的重点问题.SVM的参数选择本质上是一个优化搜索过程,并且这个优化问题往往是多峰的.微分进化算法(differential evolution,DE)是一种实数编码的基于种群进化的优化算法,具有强劲的全局搜索能力,在多峰函数的寻优问题上已表现出优异的性能.为此,将DE算法用于SVM参数选择,提出了基于DE算法的SVM参数选择方法(DE-SVM).在标准数据集上的几个仿真实验证明了该方法的有效性.与基于微粒群算法(partical swarm algorithm,PSO)的参数选择方法相比,DE-SVM在复杂问题或多参数的寻优问题上具有更快的寻优速度.
林连雷姜守达刘晓东
关键词：支持向量机参数选择微分进化算法
一种基于EBCOT的感兴趣区图像编码算法被引量：4
2010年
优化截断嵌入式编码(Embedded block coding with optimized truncation,EBCOT)是JPEG2000的核心,EBCOT所采用的基于码块的率失真优化方式为实现图像感兴趣区(Region of interest,ROI)编码提供了良好的基础.本文分析了其中具有代表性的隐式ROI编码算法,并提出了一种改进方法.通过构造加权函数,合理地为ROI码块分配权重,在保证ROI信息被优先编码的同时,降低ROI码块中背景区域小波系数的影响,提高了重建图像ROI的质量.实验结果表明,算法在低码率下重建图像ROI质量提高明显,在高码率下也能够很好兼顾重建图像背景区域的质量.
孙超姜守达王建峰
关键词：感兴趣区JPEG2000
一种基于隐式ROI的自适应图像编码算法
2008年
针对JPEG2000中隐式ROI(Region of Interest)编码算法在低码率下重建图像感兴趣区质量较差的问题,提出了一种改进方法.利用拉格朗日插值法构造权重自适应函数,根据ROI码块中ROI小波系数个数所占比例及设定的目标码率,合理地为ROI码块分配权重,在保证更多ROI信息被优先编码的同时,降低背景小波系数的影响,从而提高了ROI小波系数在码流中的数据长度.实验结果表明,采用该算法,重建后感兴趣区图像质量较隐式ROI算法有明显提高.
孙超王建峰姜守达
关键词：JPEG2000
有限扫描集成电路测试生成方法
2009年
本文针对集成电路测试应用时间长,导致测试费用高的问题,提出了用有限扫描操作代替全扫描操作的有限扫描集成电路测试生成方法。通过将扫描输入端、扫描选择端和扫描输出端视为电路通用输入输出端,消除了测试生成过程中扫描操作与测试应用向量之间的差别,同时在扫描操作周期和功能时钟周期上检测故障响应,有效降低了测试时钟需求,在相同故障覆盖率下,明显缩短了测试应用所需时间。基准电路实验结果表明,本文提出方法所需测试应用时间仅为传统方法的50%左右。
张礼勇刘煜坤张旭
关键词：扫描电路
基于电流源激励的BP神经网络模拟电路故障诊断被引量：1
2008年
针对传统故障字典法对模拟电路故障诊断时存在的缺陷提出了新的故障字典法;将电流源激励下二端口网络输入端和输出端的电压增益比作为故障特征信息,在此基础上先直流测试,后利用BP神经网络交流测试;该方法充分考虑了电路元件的容差,减轻了BP神经网络诊断故障的负担,提高了故障诊断的速度、准确率以及故障覆盖率;利用MATLAB和PSPICE工具对该方法进行实例仿真,结果表明其能够实现快速、准确的故障定位。
刘晓东郑媛
关键词：模拟电路故障诊断BP神经网络
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