安徽省高校省级自然科学研究项目(KJ2008B031)
- 作品数：4 被引量：36H指数：3
- 相关作者：詹文法梁华国黄正峰时峰陈田更多>>
- 相关机构：合肥工业大学安庆师范学院更多>>
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- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- 组扩展编码在测试数据压缩中的应用
- 为了减少SoC芯片的测试数据,本文提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测...
- 王保青梁华国詹文法
- 关键词：测试数据压缩
- 文献传递
- 一种容软错误的高可靠BIST结构
- 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误成为芯片失效的主导原因,文中给出一种容软错误的高可靠BIST结构:FT-CBILBO。该结构首先对并发内建逻辑块观察器（CBILBO）进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构...
- 黄正峰梁华国陈田詹文法孙科
- 关键词：软错误功能复用
- 文献传递
- 组扩展编码在测试数据压缩中的应用被引量：1
- 2008年
- 为了减少SoC芯片的测试数据,提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路。
- 王保青梁华国詹文法
- 关键词：测试数据压缩
- 一种容软错误的BIST结构被引量：9
- 2009年
- 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降低开销;在触发器输出端插入C单元,可有效地针对单事件翻转进行防护,阻塞瞬态故障引发的软错误.在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,FT-CBILBO面积开销为28.37%～33.29%,性能开销为4.99%～18.20%.
- 黄正峰梁华国陈田詹文法孙科
- 关键词：软错误功能复用
- 一种共游程码的测试数据压缩方案被引量：9
- 2008年
- 提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:共游程码(SRLCS)编码,它在使用较短的代码字来代替较长的游程的传统游程编码基础上,进一步充分利用了相邻游程之间的相关性,使用一位来代替与前一游程相同的整个后一游程,这样整个后一游程可以用一位来表示,达到从多位到一位的转换,进一步压缩了测试数据.由于测试数据中存在大量的无关位,对无关位适当的赋值,可以增加连续游程长度相同的概率,提出了一种针对共游程码的无关位填充算法.理论分析和实验结果证明该方案具有高数据压缩率、硬件实现简单等特点.
- 詹文法梁华国时峰黄正峰欧阳一鸣
- 关键词：测试数据压缩游程编码
- 混合定变长码的测试数据压缩方案被引量：21
- 2008年
- 文章提出了一种混合定变长码的测试数据压缩方案,该方案可以有效压缩芯片测试数据量.此压缩方案将代码字拆分为固定长度的首部和可变长度的尾部两部分.首部固定使解压过程简单,硬件开销小;尾部可变使编码灵活.同时采用了将尾部最高位隐藏的方法来进一步提高压缩率,还使用了特殊的计数器来进一步简单化解压电路.对ISCAS89部分标准电路的实验结果显示,文中提出的方案在压缩效率和解压结构方面都明显优于同类压缩方法,如Golomb码、FDR码、VIHC码、v9C码等.
- 詹文法梁华国时峰黄正峰
- 关键词：测试数据压缩内建自测试变长码
