您的位置: 专家智库 > >

中央高校基本科研业务费专项资金(CHD2010JC054)

作品数:2 被引量:14H指数:2
相关作者:张林肖剑邱彦章程鸿亮杨霏更多>>
相关机构:长安大学中国电子科技集团第十三研究所更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金西安市科技计划项目更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇势垒
  • 1篇双极型
  • 1篇碳化硅
  • 1篇偏压
  • 1篇肖特基
  • 1篇肖特基势垒
  • 1篇肖特基势垒二...
  • 1篇结型
  • 1篇结型场效应
  • 1篇结型场效应晶...
  • 1篇晶体管
  • 1篇抗辐射
  • 1篇功率
  • 1篇功率特性
  • 1篇二极管
  • 1篇辐照
  • 1篇TI
  • 1篇4H-SIC...
  • 1篇场效应
  • 1篇场效应晶体管

机构

  • 2篇长安大学
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 2篇邱彦章
  • 2篇肖剑
  • 2篇张林
  • 1篇谷文萍
  • 1篇程鸿亮
  • 1篇杨霏

传媒

  • 2篇物理学报

年份

  • 2篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
双极模式SiCJFET功率特性的研究被引量:3
2011年
研究了常关型SiC双极模式结型场效应晶体管(BJFET)的工作机理并建立了数值模型.仿真结果表明SiCBJFET的双极工作模式可以有效的降低器件的开态电阻,折中器件的正反向特性而不增加工艺难度.仿真结果还表明SiCBJFET的双极工作模式会延长器件的开关时间.
张林杨霏肖剑谷文萍邱彦章
关键词:碳化硅双极型结型场效应晶体管
Ti/4H-SiC肖特基势垒二极管抗辐射特性的研究被引量:11
2011年
本文采用γ射线、高能电子和中子对Ti/4H-SiC肖特基势垒二极管(SBD)的抗辐射特性进行了研究.研究发现对于γ射线和1MeV电子辐照,-30V辐照偏压对器件的辐照效应没有明显的影响.经过1Mrad(Si)的γ射线或者1×l013n/cm2的中子辐照后,Ti/4H-SiC肖特基接触都没有明显退化;经过3.43×1014e/cm2的1MeV电子辐照后Ti/4H-SiC的势垒高度比辐照前轻微下降,这是由于高能电子引入的电离损伤造成的,且可以在常温下退火恢复.分别经过1Mrad(Si)的γ射线和3.43×1014e/cm2的电子辐照后,器件反向电流的变化都比较轻微,显示了良好的抗辐射特性.实验同时还发现电子和中子辐照会造成器件串联电阻增加.
张林肖剑邱彦章程鸿亮
关键词:肖特基辐照偏压
共1页<1>
聚类工具0