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国家重点基础研究发展计划(2006CB00407)

作品数:2 被引量:14H指数:2
相关作者:郭庆韩志涛褚金奎孟凡涛更多>>
相关机构:大连理工大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域:理学机械工程金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 1篇亚波长
  • 1篇亚波长光栅
  • 1篇严格耦合波理...
  • 1篇耦合波
  • 1篇耦合波理论
  • 1篇消光比
  • 1篇面形
  • 1篇面形误差
  • 1篇光比
  • 1篇光栅
  • 1篇ELECTR...
  • 1篇FABRIC...
  • 1篇LITHOG...
  • 1篇MOLD
  • 1篇波长
  • 1篇NANOIM...
  • 1篇BEAM

机构

  • 1篇大连理工大学

作者

  • 1篇孟凡涛
  • 1篇褚金奎
  • 1篇韩志涛
  • 1篇郭庆

传媒

  • 1篇光子学报
  • 1篇Scienc...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
面形误差对亚波长金属光栅偏振器性能的影响被引量:8
2009年
基于严格耦合波理论分析了光栅面形误差对亚波长金属光栅偏振器偏振性能的影响.通过对数值结果的分析发现,光栅圆角误差、光栅侧壁倾斜误差和光栅表面粗糙误差对光栅的TM透射效率影响不大,但它们使得光栅的消光比明显降低.因此,面形误差使得光栅的偏振性能明显降低.理论分析表明,顶角为直角、侧壁垂直和表面光滑的理想矩形光栅结构的偏振性能最好.
孟凡涛褚金奎韩志涛郭庆
关键词:亚波长光栅面形误差严格耦合波理论消光比
Large area mold fabrication for the nanoimprint lithography using electron beam lithography被引量:6
2010年
The mold fabrication is a critical issue for the development of nanoimprint lithography as an effective low-cost and mass production process.This paper describes the fabrication process developed to fabricate the large area nanoimprint molds on the silicon wafers.The optimization of e-beam exposure dose and pattern design is presented.The overlayer process is developed to improve the field stitching accuracy of e-beam exposure,and around 10 nm field stitching accuracy is obtained.By means of the optimization of the e-beam exposure dose,pattern design and overlayer process,large area nanoimprint molds having dense line structures with around 10 nm field stitching accuracy have been fabricated.The fabricated mold was used to imprint commercial imprinting resist.
CHU JinKui1,2,MENG FanTao1,2,HAN ZhiTao1,2 & GUO Qing1,2 1 Key Laboratory for Micro/Nano Technology and System of Liaoning Province,Dalian University of Technology,Dalian 116024,China
关键词:NANOIMPRINTLITHOGRAPHYMOLDFABRICATIONELECTRONBEAMLITHOGRAPHY
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