陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室开放基金
- 作品数：17 被引量：66H指数：6
- 相关作者：李建平蒋百灵郭巧琴陈钦芳徐昌杰更多>>
- 相关机构：西安工业大学西安理工大学西安应用光学研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金陕西省教育厅科研计划项目陕西省自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术理学金属学及工艺更多>>
- 冷却方式对硫系玻璃性能的影响被引量：1
- 2015年
- 通过DSC、XRD、SEM、FT-IR 和显微硬度测试等分析手段,研究了冷却方式对99.75Ge23Se67Sb10G0.25RbI玻璃组织、热稳定性以及光学和力学等性能的影响.结果表明,采用空冷制得的试样在8-12μm 波段红外透过率达70%以上,高于水冷试样（64%）,但由于空冷冷速慢,氢在硒中的固溶度大,导致杂质吸收也大于水冷试样;空冷试样在280 ℃热处理20h可从XRD 检测发现明显Sb2Se3 和GeSe2 的结晶峰,而水冷试样在300℃热处理20h后才能检测到结晶峰;经过热处理,水冷试样的最大KIC值可达到0.414MPa·m1/2,较未热处理值提高了26%,且高于空冷试样的最大KIC（0.368 MPa·m1/2）,因此,水冷试样高温稳定性好,断裂韧性较大,更适合用作微晶化硫系红外玻璃.
- 常芳娥朱仲飞许军锋朱满坚增运
- 关键词：硫系玻璃冷却方式微晶化力学性能
- 抛物面反射镜光轴的确定被引量：6
- 2008年
- 介绍了一种确定抛物面反射镜光轴的新方法。当抛物面反射镜绕着机械旋转轴旋转时,利用2束平行光(一束与机械旋转轴平行的光和一束与机械旋转轴成一定角度的斜平行光)经抛物面反射镜反射的像点运动,调整抛物面反射镜的位置,使光轴与机械旋转轴重合。理论分析结果表明:其定轴的倾斜误差不大于1,′平移误差不大于5μm。该方法可用于抛物面反射镜检验,也可用于抛物面反射镜的调校工艺中。
- 陈钦芳徐昌杰王青松
- 关键词：非球面加工
- 退火温度对硅基硬质碳膜内应力和硬度的影响被引量：1
- 2007年
- 硬质碳膜中应力的存在限制了其应用,真空退火是降低内应力的有效措施.本文利用BGS6341型电子薄膜应力分布测试仪和HXD-1000型数字式硬度计,对在硅基片上用非平衡磁控溅射制备的碳膜应力和硬度随退火温度的变化进行了研究.研究结果表明:随退火温度的升高,碳膜平均应力减小,分布趋向均匀,但硬度下降;在退火温度300℃下平均应力减小为-2.29×108Pa,膜的硬度变化不明显,维氏硬度从4780.3589 MPa降到4194.099 MPa(类似于类金刚石(DLC)),此退火温度下保证了薄膜具有很小的内应力同时具有较高的硬度.
- 杭凌侠朱小琴
- 关键词：非平衡磁控溅射碳膜退火温度应力
- 三种银杏基因组DNA提取方法的比较被引量：1
- 2015年
- 为获得银杏基因组DNA的最佳提取方法,本文以银杏嫩叶为研究对象,利用传统CTAB法、改良CTAB法、改良SDS法等方法提取银杏基因组DNA,进而利用凝胶电泳法、紫外分光光度法、PCR扩增等方法分析提取效率和质量,确定最适合银杏基因组DNA的提取方法.结果表明,改良CTAB法对银杏基因组DNA提取效果最佳,为3种方法中最适合提取银杏基因组DNA的方法.
- 钱卫东周颖欣龚国利蔡长龙吴启航张雨
- 关键词：银杏基因组DNA改良CTAB法
- GaAs/Al_(0.3)Ga_(0.7)As QWIP暗电流特性HRTEM研究被引量：5
- 2014年
- 采用金属有机物化学气相沉积法（MOCVD）生长GaAs/Al0.3Ga0.7As量子阱材料，制备300μm×300μm台面，内电极压焊点面积为20μm×20μm，外电极压焊点面积为80μm×80μm的单元样品两种。用变温液氮制冷系统对样品进行77~300 K暗电流特性测试。结果显示，器件暗电流曲线呈现出正负偏压的不对称性。利用高分辨透射扫描电镜（HRTEM）获得样品纳米尺度横断面高分辨像，分析结果表明：样品横断面处存在不同程度的位错及不均匀性。说明样品内部穿透位错造成相位分离是引起量子阱光电性能变差的根本原因，不同生长次序中AlGaAs与GaAs界面的不对称性与掺杂元素的扩散现象加剧了暗电流曲线的不对称性。
- 胡小英刘卫国段存丽蔡长龙韩军刘钧
- 关键词：量子阱红外探测器GAAS/ALGAAS金属有机物化学气相沉积暗电流
- 基体偏压对磁控溅射AlSn20镀层组织形貌与性能的影响被引量：7
- 2011年
- 采用非平衡磁控溅射在铝基轴承合金表面制备了AlSn20镀层,分析不同基体偏压对AlSn20镀层的组织形貌、硬度、膜基结合力、摩擦因数等的影响。结果表明,非平衡磁控溅射AlSn20镀层,基体偏电压在-60～-120V范围内,镀层呈层状生长,随着基体偏电压增大,镀层由粗大结构向细晶结构变化,镀层硬度与基体偏电压成反比,当偏电压为-120V时,镀层硬度(HV0.025)最高为80,镀层与基体结合力最高可达35N,镀层的摩擦因数最低为0.15。
- 郭巧琴蒋百灵李建平吴兵
- 关键词：磁控溅射
- 基于图像处理的莫尔条纹测量的CCD亚像素标定被引量：2
- 2011年
- Talbot-Moiré技术是目前长焦距测量研究的热点。利用Talbot-Moiré技术测量长焦距时,很多都需要测量莫尔条纹的宽度或斜率,而CCD的标定精度直接影响测量精度,因此需要对CCD精确标定。文中提出采用光栅作为系统的自基准进行标定,再用图像处理的方法标定CCD。为了检验该方法的精度,在MATLAB中生成一个标准条纹图案,用图像处理和灰度拟合对其进行亚像素定位。经过对标准条纹的标定,验证了采用该文的定位方法条纹中心定位误差小于0.1个像素。最后用光栅为自基准标定了CCD,并与量块的标定结果进行了对比,证明该文的标定方法不但简单可行,而且精度较高。
- 吴玲玲王星陈靖武继安张维光
- 关键词：图像处理莫尔条纹亚像素
- 基于Talbot-Moiré法的长焦透镜焦距测量的极限精度分析被引量：5
- 2011年
- 长焦距测量的Talbot-Moiré法是研究热点,目前很多方法虽然都是基于Talbot现象和Moiré技术,但基本原理和实验方案各不相同,因此焦距计算公式也不相同。基于透镜位相变换作用,利用Talbot效应和Moiré条纹,通过图像处理的方法获得条纹的斜率变化,根据焦距与莫尔条纹斜率之间的关系求得透镜焦距。由于长焦透镜的焦距相对于被测透镜厚度大得多,完全可以看作是薄透镜对光束的变换,可用薄透镜对球面波的变换作用来近似表示其对高斯光束的变换。因此,该方法测量长焦透镜焦距对于高斯光束与非高斯光束焦距测量结果无差别,均适用。最后全面分析了该测量方法的误差及精度极限。在影响测量精度的各个误差因素中,光栅节距误差对焦距测量的影响最为显著。
- 吴玲玲王星陈靖武继安陈靖
- 关键词：焦距测量TALBOT效应莫尔条纹
- 氢键型N-马来酰-L-丙氨酸/PVA旋光性聚合物的合成被引量：1
- 2016年
- 以马来酸酐与手性丙氨酸（L-丙氨酸）为原料,通过两步法合成了N-马来酰-L-丙氨酸,再通过氢键作用将其与聚乙烯醇（PVA）复合制备了氢键型N-马来酰-L-丙氨酸/PVA旋光性聚合物.采用傅里叶变换红外光谱仪,熔点仪和旋光仪对中间产物和最终产物的结构及性能进行了表征和测试,讨论了反应过程中的影响因素.结果表明：合成N-马来酰-L-丙氨酸较佳的工艺条件为：第一步的氨解反应温度25～35℃,反应介质采用冰乙酸;第二步是自缩聚合,以三乙胺为催化剂,得到最终产物的产率为93%.
- 翟宁牛小玲
- 轴对称非球面透镜光轴共轴度的测量研究被引量：7
- 2008年
- 介绍了一种轴对称非球面透镜的光轴共轴度的测量方法。激光管发出的光束经束腰变换透镜入射到被测透镜的非球面表面,由CCD摄像头接收非球面的反射激光光斑,CCD的光敏面位于反射激光光束的束腰位置;调整被测透镜位置,直到激光束腰中心位置不随被测非球面透镜的旋转而变化,这说明被测透镜的非球面对称轴与机械旋转轴重合;再利用球面偏心测量原理检测被测透镜球面一面的偏心量,即可以求得被测非球面透镜的光轴共轴度。该测量方法的误差小于20″。该方法适用于判定非球面透镜和非球面反射镜是否合格,以及调整非球面透镜的制造工艺。
- 陈钦芳徐昌杰
- 关键词：非球面检测非球面透镜
