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河北省自然科学基金(E2008000079)

作品数:5 被引量:5H指数:1
相关作者:陈贵锋蔡莉莉冯翠菊吴建海马晓薇更多>>
相关机构:河北工业大学华北科技学院天津职业技术师范大学更多>>
发文基金:河北省自然科学基金国家自然科学基金河北省教育厅科学技术研究计划更多>>
相关领域:电子电信交通运输工程建筑科学更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇建筑科学
  • 1篇交通运输工程

主题

  • 3篇电子辐照
  • 3篇直拉硅
  • 2篇单晶
  • 2篇氧沉淀
  • 2篇中子辐照
  • 2篇硅单晶
  • 2篇辐照缺陷
  • 1篇电学
  • 1篇电阻率
  • 1篇有限体积
  • 1篇有限体积法
  • 1篇直拉硅单晶
  • 1篇少子寿命
  • 1篇数值模拟
  • 1篇退火
  • 1篇气相外延
  • 1篇氢化物气相外...
  • 1篇中子
  • 1篇温场
  • 1篇流场

机构

  • 5篇河北工业大学
  • 2篇华北科技学院
  • 1篇浙江大学
  • 1篇天津理工大学
  • 1篇天津职业技术...

作者

  • 5篇陈贵锋
  • 2篇李养贤
  • 2篇蔡莉莉
  • 2篇马晓薇
  • 1篇徐建萍
  • 1篇郝秋艳
  • 1篇马巧云
  • 1篇冯翠菊
  • 1篇薛晶晶
  • 1篇陈雷英
  • 1篇赵勇明
  • 1篇白云娜
  • 1篇杨帅
  • 1篇邓晓冉
  • 1篇吴建海
  • 1篇闫文博

传媒

  • 1篇硅酸盐通报
  • 1篇硅酸盐学报
  • 1篇稀有金属
  • 1篇Chines...
  • 1篇浙江大学学报...

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2011
  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
5 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
Infrared studies of oxygen-related complexes in electron-irradiated Cz-Si
2009年
This paper investigates the infrared absorption spectra of oxygen-related complexes in silicon crystals irradiated with electron (1.5 MeV) at 360 K.Two groups of samples with low [Oi] = 6.9 x 10^17 cm^-3 and high [Oi] = 1.06 x 10^18 cm^-3 were used.We found that the concentration of the VO pairs have different behaviour to the annealing temperature in different concentration of oxygen specimen,it is hardly changed in the higher concentration of oxygen specimen.It was also found that the concentration of VO2 in lower concentration of oxygen specimen gets to maximum at 450 ℃ and then dissapears at 500 ℃,accompanied with the appearing of VO3. For both kinds of specimens,the concentration of VO3 reachs to maximum at 550 ℃ and does not disappear completely at 600 ℃.
陈贵锋阎文博陈洪建崔会英李养贤
关键词:CZ-SI
电子辐照对直拉硅单晶电学参数的影响被引量:3
2013年
对N型[111]晶向直拉硅样品进行电子辐照,然后在不同温度下进行常规热处理,对比研究了不同辐照剂量的样品少子寿命和电阻率随退火温度的变化。结果表明:直拉硅单晶样品经电子辐照后电阻率增加,少子寿命下降,辐照剂量越高电阻率增加的越多,少子寿命下降越明显。对辐照样品进行不同温度热处理发现热处理温度低于600℃,少子寿命基本处于稳定值,当退火温度达到650℃时,辐照样品的电阻率与少子寿命均恢复至辐照前的初始值,表明在该温度下辐照引入的缺陷基本消除,因此晶体的导电能力逐渐恢复。而经750℃热处理后,辐照样品的少子寿命和电阻率分别出现一个低谷,辐照剂量越高电阻率和少子寿命值在该温度下下降幅度越大,而且随着热处理时间的延长,辐照样品电阻率不断下降,通过间隙氧含量的测量也初步证明电阻率的下降与间隙氧原子的偏聚有关,该温度下电阻率的下降与辐照相关联。
蔡莉莉冯翠菊陈贵锋
关键词:电子辐照少子寿命辐照缺陷电阻率
快速热处理对电子辐照直拉硅中氧沉淀的影响被引量:1
2010年
对n型[111]晶向直拉硅样品进行电子辐照,然后分别在不同温度和降温速率下快速热处理(rapid thermal process,RTP),再在1100℃下进行常规一步退火。研究了RTP温度和降温速率对硅样品内氧沉淀的变化及样品表面清洁区形成的影响。结果表明:经过RTP再经高温一步退火后,硅晶体内形成了密度较高的氧化诱生层错以及完整的位错环,样品表面形成了一定宽度的清洁区;清洁区的宽度随RTP温度及降温速率的升高而变窄。当RTP温度达到1280℃时,样品中的层错和位错环明显减少,此时当RTP降温速率增加至150℃/s时,大部分层错消失,样品中出现了大量的点状腐蚀坑。
蔡莉莉陈贵锋李养贤
关键词:硅单晶电子辐照氧沉淀
快中子辐照硅中双空位的退火行为研究
2010年
本文利用傅立叶变换红外光谱技术(FTIR)及正电子湮没谱技术(PAS)对快中子辐照硅中的双空位(V2)的退火行为作了详细研究.研究发现区熔硅中双空位在250 ℃热处理会通过相互连接形成链状而在红外光谱中消失,提高退火温度到350~450 ℃,它们将进一步结合形成具有三维结构的四空位型缺陷;而在直拉硅中双空位主要通过捕获间隙氧或A中心(VO)形成V3O复合体而消失.
杨帅邓晓冉徐建萍陈贵锋闫文博
关键词:辐照缺陷FTIR
快速热处理对高能粒子辐照硅中氧沉淀的影响被引量:1
2011年
研究快速热处理对快中子辐照掺氮直拉硅(NCZ-Si)和电子辐照直拉硅(CZ-Si)中氧沉淀和清洁区(DZ)的影响.样品经过不同温度、降温速率和退火气氛快速热处理(RTP)预处理后,再进行高温一步长时间退火,以形成氧沉淀.研究结果表明:对于快中子辐照NCZ-Si,RTP有助于后期退火中DZ的生成,且RTP温度越高,形成的DZ越宽;而高的降温速率会使得DZ宽度变窄;对于电子辐照CZ-Si,在N2气氛下高温RTP更能促进氧沉淀形成,体缺陷(bulk micro defects,BMDS)密度较大.
陈贵锋马晓薇吴建海马巧云薛晶晶郝秋艳
关键词:中子辐照电子辐照直拉硅氧沉淀
垂直式HVPE反应器温场的数值模拟
基于CFD理论得出了不同条件下的温场分布,研究了流速变化对HVPE反应器温场的影响。在模拟计算中,流场数值模拟基于非交错网格系统的SIMPLE算法,用有限体积方法对控制方程进行离散,并采用改进的压力速度耦合方法进行求解温...
赵勇明陈贵锋陈雷英马晓薇白云娜李养贤
关键词:氢化物气相外延温场有限体积法流场
文献传递
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