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国家创新方法工作专项(2009IM031100)

作品数:3 被引量:31H指数:2
相关作者:卓尚军钱荣干福熹盛成申如香更多>>
相关机构:中国科学院中国科学院上海光学精密机械研究所华东师范大学更多>>
发文基金:国家创新方法工作专项国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 2篇质谱
  • 1篇多晶
  • 1篇多晶硅
  • 1篇直流辉光
  • 1篇直流辉光放电
  • 1篇质谱法
  • 1篇质谱法测定
  • 1篇雾化
  • 1篇粒状
  • 1篇金属
  • 1篇颗粒状
  • 1篇辉光
  • 1篇辉光放电
  • 1篇辉光放电质谱
  • 1篇半定量
  • 1篇半定量分析
  • 1篇
  • 1篇ICP-AE...
  • 1篇ICP-AE...
  • 1篇铂网

机构

  • 3篇中国科学院
  • 2篇中国科学院上...
  • 1篇华东师范大学
  • 1篇西北核技术研...

作者

  • 3篇卓尚军
  • 2篇钱荣
  • 1篇韩小元
  • 1篇张瑞荣
  • 1篇何品刚
  • 1篇申如香
  • 1篇盛成
  • 1篇田梅
  • 1篇刘洁
  • 1篇干福熹

传媒

  • 2篇分析化学
  • 1篇光谱学与光谱...

年份

  • 2篇2012
  • 1篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
直流辉光放电质谱法测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子被引量:13
2012年
采用直流辉光放电质谱(dc-GD-MS)测定多晶硅中关键杂质元素的相对灵敏度因子(RSF)。标样制作过程中主要是在连续通入氩气条件下将固定量的非标准多晶硅样品熔化,向硅熔体中均匀掺入浓度范围为1~30μg/g的关键杂质元素(如B和P),采用快速固化法制成标样;再将制成的标准样品加工成一系列适合GD-MS扁平池(Flat Cell)的片状样品(20 mm×20 mm×2 mm)。采用二次离子质谱法(SI-MS)对标准样品中关键掺杂元素进行多次定量测定,取平均值作为关键杂质元素的精确含量。优化一系列质谱条件后,运用GD-MS对标样中关键掺杂元素的离子强度进行多次测定,计算平均结果,得到未校正的表观浓度,利用标准曲线法计算出关键杂质元素的相对灵敏度因子。
刘洁钱荣斯琴毕力格卓尚军何品刚
关键词:多晶硅
辉光放电质谱新方法分析颗粒状金属铪被引量:19
2011年
采用直流辉光放电质谱方法(dc-GD-MS)分析颗粒状(2 mm×1 mm×1 mm)金属铪中的杂质元素。本方法解决金属铪样品尺寸太小难以直接进行辉光放电质谱分析的问题。采用聚四氟乙烯管(内径2.3 mm×外径3.2 mm)与医用注射器连接并密封接口,再将粒状铪置于管子前端(管长的1/3处),接着将PTFE管水平插入已被加热至熔融态的铟中,迅速抽取铟并确保铟与铪紧密连接,实现金属样品的"嫁接",冷却形成新的样品。优化分析条件后,运用dc-GD-MS对金属铪中75种元素进行分析,均能得到较好的检出限、稳定性和重复性。另外,可以对其中32种元素进行半定量分析,均得到较好的结果。结果表明,此种"嫁接"dc-GD-MS方法不仅操作简单、无污染、绿色环保,而且能够达到较好的检出限、稳定性和重复性,适合微小尺寸金属样品的分析。
钱荣斯琴毕力格卓尚军申如香盛成干福熹
关键词:辉光放电质谱半定量分析
双铂网雾化和超声雾化进样系统对ICP-AES分析性能的影响被引量:2
2012年
从元素检出限、基体效应、ICP稳健性及记忆效应方面实验研究了双铂网雾化与超声雾化两种进样方式对ICP-AES分析性能的影响。结果表明,在超声雾化进样条件下,Cu,Pb,Zn,Cr,Cd,Ni的检出限较双铂网雾化的检出限降低了6~23倍;在基体效应方面,超声雾化进样时基体对元素原子及离子谱线强度的影响均较双铂网雾化系统明显,元素谱线增强/减弱的幅度受元素谱线、基体组成和浓度的影响;Ca和Mg基体对谱线强度的影响强于K和Na基体;离子谱线受基体的影响明显强于原子谱线。超声雾化系统进样时ICP的稳健性要劣于双铂网雾化系统,而且超声雾化系统的记忆效应较双铂网雾化器严重。
田梅韩小元卓尚军张瑞荣
关键词:超声雾化ICP-AES
共1页<1>
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