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中国工程物理研究院科技基金(20050430)

作品数：1 被引量：3H指数：1
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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇射线
  • 1篇总剂量
  • 1篇总剂量效应
  • 1篇辐照
  • 1篇X射线

机构

  • 1篇中国工程物理...

作者

  • 1篇徐曦
  • 1篇牟维兵

传媒

  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
X射线不同方向辐照80C196KC20单片机研究被引量：3
2007年
为明确X射线不同方向入射对器件的影响,利用中国测试技术研究院的直流SJ-A X光机产生的X射线,从与垂直80C196KC20单片机表面不同方向角度对单片机进行辐照试验。试验结果显示,随着辐照角度由0°增加到90°,单片机所受的影响逐渐减小,90°时最不明显,表明此种单片机外壳在对其X射线总剂量效应的影响最大,原因在于X射线在不同方向照射时,需要穿过不同厚度的封套材料,X射线在此过程受到的衰减不同。
牟维兵徐曦
关键词：总剂量效应
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共1页<1>
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