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国家自然科学基金(10947005)

作品数:3 被引量:1H指数:1
相关作者:陶永春李健黄桂芹更多>>
相关机构:南京师范大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇第一性原理
  • 1篇第一性原理研...
  • 1篇电声子相互作...
  • 1篇电阻
  • 1篇声子
  • 1篇隧道结
  • 1篇迁移
  • 1篇迁移率
  • 1篇纳米CMOS...
  • 1篇晶格
  • 1篇晶格动力学
  • 1篇寄生电阻
  • 1篇TMR
  • 1篇ALAS
  • 1篇GAMNAS
  • 1篇SE

机构

  • 3篇南京师范大学

作者

  • 2篇陶永春
  • 1篇黄桂芹
  • 1篇李健

传媒

  • 2篇南京师大学报...
  • 1篇淮阴师范学院...

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2013
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种提取纳米CMOS器件中源/漏寄生电阻的恒定迁移率方法
2018年
源/漏寄生电阻作为器件总电阻的一个重要组成部分,严重制约着纳米CMOS器件性能.随着纳米CMOS器件尺寸不断减小,源/漏寄生电阻占器件总电阻比例越来越高,已经成为衡量CMOS器件可靠性的一个重要参数.本文提出一种恒定沟道迁移率条件下提取纳米CMOS器件中源/漏寄生电阻的方法.本方法通过测量固定偏压条件下一个器件的两条线性区I_d-V_(gs)曲线之比,推导出纳米CMOS器件中源/漏寄生电阻,操作简单,精确度高,避免了推导过程中由沟道迁移率退化引入与器件栅长相关的误差.我们详细研究并选取合适外加偏压条件,保持推导过程中沟道迁移率恒定,确保源/漏寄生电阻值的稳定性.在固定外加偏压条件下,我们提取了45 nm CMOS工艺节点下不同栅长器件的源/漏寄生电阻值,结果表明源/漏寄生电阻值与栅长不存在直接的依赖关系.最后,我们研究了工艺过程和计算过程引入的波动并进行了必要的误差分析.
鲁明亮陶永春
关键词:纳米CMOS器件
GaMnAs/AlAs/GaMnAs构成隧道结的隧道磁致电阻效应被引量:1
2019年
铁磁半导体构成隧道结的研究是凝聚态领域中一个重要的研究方向.k·p模型在处理半导体异质结空穴传输问题时非常有效,利用k·p模型研究GaMnAs/AlAs/GaMnAs隧道结的磁致电阻效应,通过将k·p微扰与多能带量子传输边界相结合的新方法,给出自旋量子轴的转换矩阵.计算了各种空穴的透射系数随能量的变化以及隧道结的磁致电阻,讨论了隧道磁致电阻对自旋量子轴方向的依赖关系,并对计算结果进行了理论分析.
鲁明亮马丽娟陶永春
关键词:隧道结TMR
铁基超导材料FeTe_(0.5)Se_(0.5)的第一性原理研究
2013年
采用第一性原理计算了FeTe0.5Se0.5在两种不同结构模型下的电子结构、晶格动力学以及电声子相互作用.结果表明:用两种结构模型计算得到的电子结构大致相同,费米面附近的态密度主要来自Fe d电子的贡献.对两种模型我们根据不可约表示分析了Γ点的光学模频率,并给出了声子谱及声子态密度.用模型1和模型2计算得到的电声子耦合常数λ分别为0.20和0.22,都非常弱,无法解释实验上较高的超导转变温度.因此,超导材料FeTe0.5Se0.5和其他的铁基超导材料一样,都不属于常规的电声子耦合超导材料.
李健茅伟华黄桂芹
关键词:晶格动力学电声子相互作用第一性原理
共1页<1>
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