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国家科技重大专项(2009ZX02025)

作品数:3 被引量:10H指数:2
相关作者:张江华王春华李宗怿高盼盼侯珏更多>>
相关机构:复旦大学江苏长电科技股份有限公司更多>>
发文基金:国家科技重大专项更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇塑封
  • 1篇塑封料
  • 1篇通孔
  • 1篇羰基
  • 1篇温度循环
  • 1篇温度循环试验
  • 1篇系统级封装
  • 1篇互连
  • 1篇互连技术
  • 1篇环氧
  • 1篇环氧塑封料
  • 1篇封装
  • 1篇附着力
  • 1篇TCT
  • 1篇TSV
  • 1篇
  • 1篇EMC
  • 1篇P

机构

  • 2篇复旦大学
  • 1篇江苏长电科技...

作者

  • 1篇周乾飞
  • 1篇吴晓京
  • 1篇张昕
  • 1篇肖斐
  • 1篇刘立龙
  • 1篇卢茜
  • 1篇高盼盼
  • 1篇李宗怿
  • 1篇王春华
  • 1篇张江华
  • 1篇侯珏

传媒

  • 2篇半导体技术
  • 1篇中国集成电路

年份

  • 2篇2011
  • 1篇2009
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
硅通孔互连技术的可靠性研究被引量:4
2011年
随着电子封装持续向小型化、高性能的方向发展,基于硅通孔的三维互连技术已经开始应用到闪存、图像传感器的制造中,硅通孔互连技术的可靠性问题越来越受到人们的关注。将硅通孔互连器件组装到PCB基板上,参照JEDEC电子封装可靠性试验的相关标准,通过温度循环试验、跌落试验和三个不同等级的湿度敏感性测试研究了硅通孔互连器件的可靠性。互连器件在温度循环试验和二、三级湿度敏感试验中表现出很好的可靠性,但部分样品在跌落试验和一级湿度敏感性测试中出现了失效。通过切片试验和扫描电子显微镜分析了器件失效机理并讨论了底部填充料对硅通孔互连器件可靠性的影响。
侯珏陈栋肖斐
利用PⅢ技术改变框架与EMC间附着力的研究
2011年
利用等离子体浸没式注入(PⅢ)技术,使用O2,N2,CO和CO2做气体源,对镀镍铜框架表面进行处理。拉力测试实验结果表明,与未经处理的空白框架相比,经过CO和CO2等离子体注入处理的镀镍铜框架与环氧塑封料(EMC)间的附着力分别提高了约35倍和12倍,而在使用O2和N2等离子体注入处理的情况下,附着力基本没有变化。通过扫描电子显微镜(SEM)对处理前后的框架表面观察,发现PⅢ处理并未引起表面粗糙度的显著变化。利用X射线电子能谱(XPS)分析,可以发现在经过CO或CO2等离子体注入处理后的框架表面有羰基出现。基于这些结果,分析了导致附着力提升的机理。
刘立龙张昕卢茜周乾飞吴晓京
关键词:环氧塑封料附着力羰基
系统级封装技术及其应用被引量:6
2009年
本文介绍了系统级封装技术及其兴起背景,对比了与SoC的异同。通过分析系统级封装的技术特点,阐述了其优势;分析了系统级封装的成本构成和特点。本文从集成电路产业链整合的观点,分析了国内系统级封装的机遇与挑战;以长电科技为例,介绍了系统级封装在设计、制造上的关键技术与当前的能力,并分析了未来的趋势和挑战。本文还对当前的系统级封装产品与应用领域做了详细介绍。
陈一杲张江华李宗怿王春华高盼盼
共1页<1>
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