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教育部科学技术研究重点项目(109111)

作品数:2 被引量:2H指数:1
相关作者:雷琼周静陈文沈杰欧刚更多>>
相关机构:武汉理工大学更多>>
发文基金:教育部科学技术研究重点项目更多>>
相关领域:一般工业技术理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇电性能
  • 2篇介电
  • 2篇介电性
  • 2篇介电性能
  • 1篇钛酸
  • 1篇钛酸钙
  • 1篇晶格
  • 1篇晶格失配
  • 1篇厚度
  • 1篇
  • 1篇
  • 1篇
  • 1篇CMN

机构

  • 2篇武汉理工大学

作者

  • 2篇周静
  • 2篇雷琼
  • 1篇赵雷康
  • 1篇欧刚
  • 1篇沈杰
  • 1篇陈文
  • 1篇朱杰

传媒

  • 1篇硅酸盐学报
  • 1篇武汉理工大学...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
厚度对CMN/CT薄膜结构与性能的影响研究
2009年
采用Pechini方法制备Ca(Mg1/3Nb2/3)O3(CMN)及CaTiO3(CT)前驱体溶液,采用液相旋涂技术按照一定的排布方式制备CMN/CT介电异质薄膜,研究薄膜厚度、异质层排布方式及热处理时间等对薄膜的结构与介电性能的影响。结果表明,CMN/CT介电异质薄膜具有单一的钙钛矿结构,异质界面具有介电增强效应,随着薄膜厚度增加,异质结构变得不明显,晶粒尺寸和表面粗糙度增加,介电性能增强,厚度到一定程度以后,介电损耗会明显增加。排列方式对异质薄膜的介电性能产生大的影响,CT薄膜层越靠近底层的异质薄膜的表面粗糙度越大,界面数越多的排布方式的介电增强效应越明显。
赵雷康朱杰雷琼周静
关键词:介电性能
铌镁酸钙/钛酸钙多层异质薄膜中的晶格失配与粗糙度累积被引量:2
2010年
采用Pechini法制备Ca(Mg1/3Nb2/3)O3(CMN)及CaTiO3(CT)前驱体溶液,用液相旋涂技术按照一定的排布方式制备了总厚度相同而异质界面数不同的CMN/CT异质结构介电薄膜。研究表明:无论是CMN还是CT,其同质层间均会由于前一层的籽晶作用而产生粗糙度的累积,从而对其相结构、微观形貌和介电性能产生不利影响。异质层间的晶格失配可以消除这种粗糙度累积效应,改善薄膜的相结构和微观形貌。随着薄膜中异质界面数的增加,获得了结晶较好的单一钙钛矿结构异质薄膜,薄膜表面粗糙度降低,介电性能得到提高。
沈杰周静雷琼欧刚陈文
关键词:晶格失配介电性能
共1页<1>
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