国际科技合作与交流专项项目(2004DFB03400)
- 作品数：3 被引量：8H指数：2
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- 相关机构：中国航空工业集团公司西北工业大学更多>>
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- Hg_3In_2Te_6晶体欧姆接触及电学特性
- 2011年
- 碲铟汞Hg3In2Te6是(In2Te3)x-(Hg3Te3)1-x(x=0.5)的化合物,被称为缺陷相化合物。为了研究In/HgInTe欧姆接触特性,首先运用热电子蒸发技术在单晶Hg3In2Te6表面形成了In/Hg3In2Te6接触,运用传输线模型(TLC)对In/Hg3In2Te6欧姆接触特性进行了分析,结果表明:In/Hg3In2Te6形成了欧姆接触,接触电阻率为6.71×10-2Ω·cm2,粘附性好,电极质量理想,满足于欧姆电极性质的要求。并在此基础上对Hg3In2Te6材料的电学性能运用范德堡方法进行了测试,测试结果表明:Hg3In2Te6单晶在室温下的导电类型为n型,电阻率为6.16×102Ω·cm,载流子浓度为2.888×1013cm-3,载流子迁移率为350cm2/(V·s)。实验表明:该样品载流子浓度降低后,漏电流减小,探测器的噪声降低,从而探测器的能量分辨率得到了提高。
- 张小雷孙维国张亮张向锋丁嘉欣
- 关键词：欧姆接触传输线模型接触电阻率
- ITO/HgInTe肖特基的光电特性被引量：4
- 2008年
- 碲铟汞Hg3In2Te6是(In2Te3)x-(Hg3Te3)1-x(x=0.5)的化合物,被称为缺陷相化合物。在表面运用透明电极可以得到很高的量子效率。为了克服形成肖特基后漏电流过大的影响,运用等离子增强化学气相沉积在碲铟汞表面形成氧化层。运用直流平面磁控溅射技术和热电子蒸发技术分别在单晶HgInTe表面形成了ITO(SnO2+In2O3)/HgInTe和In/HgInTe接触,利用I-V测试仪对其I-V特性进行测量,运用能带结构和异质结理论对测量的I-V结果进行了描述,测量结果符合热电子发射理论。结果表明:ITO/HgInTe形成具有整流特性的肖特基接触,通过计算得到了ITO/HgInTe的肖特基势垒高度为0.506eV,理想因子n为3.2,串联电阻Rs为2600Ω;In/HgInTe形成欧姆接触。并且发现了在波长1.55μm处有很好的响应光谱,同时室温下峰值探测率D*λ达到了1011cm·Hz1/2·W-1。
- 张小雷孙维国鲁正雄张亮赵岚孟超丁嘉欣
- 关键词：ITO肖特基接触欧姆接触响应光谱
- Pt/HgInTe肖特基红外探测器的抗辐照特性被引量：4
- 2009年
- 碲铟汞Hg3In2Te6是(In2Te3)x-(Hg3Te3)1-x(x=0.5)的化合物,被称为缺陷相化合物。为了研究γ辐照对碲铟汞肖特基红外探测器的影响,首先运用直流平面磁控溅射技术在单晶HgInTe表面形成了Pt/Hg3In2Te6接触,然后对HgInTe晶片及其制作的Pt/HgInTe肖特基器件用不同剂量的γ射线进行辐照,利用I-V测试仪对其辐照前后的I-V特性进行测量,得到了辐照前后的反向漏电流,利用傅里叶红外光谱仪对辐照前后的响应光谱进行了对比,发现在短波方向响应光谱随辐照剂量的增大明显下降,但辐照剂量对于峰值波长的位置和截止波长的位置基本上没有明显影响,同时对辐照前后器件的探测率进行了对比,发现探测率随着辐照剂量的增大有所下降,但下降幅度和器件本身性能有关。最后对γ辐照引起探测器性能变化的辐照损伤机制进行了探讨,认为HgInTe在辐照剂量达到1×108rad(Si)时,其性能也没有数量级的变化,具有很好的抗辐照特性。
- 张小雷孙维国鲁正雄张亮赵岚丁嘉欣
- 关键词：Γ射线辐照肖特基接触响应光谱
