博士科研启动基金(ZC304010012)
- 作品数：7 被引量：25H指数：4
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- 相关机构：成都精密光学工程研究中心浙江师范大学更多>>
- 发文基金：博士科研启动基金浙江省自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学机械工程更多>>
- 抑制相干噪声的环形光源技术被引量：5
- 2010年
- 为了提高干涉检测精度,必须抑制系统的相干噪声。根据统计光学建立了带环形光源干涉仪系统信噪比的理论模型,分析了环形光源参数、光场相干面积与系统信噪比之间的关系,以提高信噪比为目标,优化设计并采用计算全息方法控制环形光源的参数。分析结果表明,光场的相干面积与环形光源面积成反比,系统的信噪比主要由环形光源面积决定,面积相等时环形光源抑制相干噪声的效果优于圆形空间扩展光源;环形光源的参数由锥形波前的空间频谱宽度、毛玻璃与焦平面间的距离和计算全息图的空间载波频率控制。传统点光源和环形光源的对比实验表明,环形光源有效地抑制了相干噪声,将系统的平均信噪比从点光源的5.2 dB提高到8.6 dB.
- 徐建程王辉柴立群许乔
- 关键词：相干噪声信噪比计算全息
- 空间插值在功率谱密度计算中的应用被引量：2
- 2010年
- 为了提高光学元件波前中频PSD计算的精度和有效频谱宽度,提出了填补波前无效数据的双线性插值法和抑制欠采样噪声的六采样点插值法。模拟计算和实验结果表明:双线性插值法有效地保证了填充数据与真实数据的一致性,抑制了零填充方法引入的虚假中高频信息,使得填补后的PSD与原始PSD较好地吻合;六采样点插值法有效地分离了信号和欠采样噪声,使得有效PSD频谱上限从1/2 Nyquist频率提高到Nyquist频率。
- 徐建程许乔柴立群
- 关键词：功率谱密度双线性插值
- 干涉成像系统信噪比的统计分析被引量：2
- 2010年
- 根据统计光学建立了干涉成像系统信噪比的理论模型,数值分析了干涉成像系统信噪比与系统参数之间的关系。分析结果表明:为了提高系统的信噪比,应提高信号光场强度与噪声光场强度之比,使参考光和测试光光强接近相等,降低系统中光学元件的数量和每个元件的偏差,使光源相干长度约为测试光和参考光间光程差的2～5倍。要使信噪比大于10,则要求系统中光学元件总偏差的标准差小于1/4波长。信噪比的统计理论模型可为干涉成像系统设计和干涉测量提供理论指导。
- 徐建程许乔
- 关键词：信噪比统计分析
- 带旋转毛玻璃干涉成像系统的统计分析被引量：4
- 2011年
- 从统计光学出发,建立了带旋转毛玻璃干涉成像系统的信噪比理论模型,分析旋转毛玻璃参数、光场相干性与系统信噪比之间的关系。模拟计算和实验结果表明：旋转毛玻璃降低了干涉成像系统中光场的相干性,增大了曝光时间内采集的不相关散斑场个数,从而抑制了相干噪声;旋转毛玻璃表面粗糙度的增大,相关长度的缩短,转速的提高都会减小光场的相干时间。为了得到较理想的系统信噪比,应控制旋转毛玻璃参数使旋转周期约等于CCD曝光时间,并使光场相干长度为测试光和参考光间光程差的2~5倍。
- 徐建程刘志超杜雅薇柴立群许乔王辉
- 关键词：信噪比散斑噪声
- 基于低通滤波的相位掩模干涉图相位解调方法
- 2011年
- 传统的四步相移算法在分析相位掩模干涉图时存在相移值误差、分辨力降低和相干噪声等不足,从而影响了动态干涉仪的性能。为了提高相位掩模干涉图的分析精度,提出了一种基于低通滤波的相位解调方法。该方法根据相位掩模引入相位的空间频率远大于被测相位空间频率的最大值,采用低通滤波的方法提取相位信息。数值分析结果表明,该方法的精度高于传统四步相移算法。分析干涉图的信噪比,合理选择低通滤波器,可进一步提高相位解调的精度。
- 徐建程杜雅薇刘志超许乔金洪震王辉
- 关键词：低通滤波
- 基于Wigner分布函数的光学元件评价方法被引量：7
- 2010年
- 为了有效地表征和评价光学元件局部小尺度波前畸变,提出了能同时反映空间频率和空间位置的Wigner分布函数评价方法。通过理论分析Wigner分布函数与功率谱密度之间的关系,得到了局部波前畸变的评价方法和指标。模拟计算和实验结果验证了该方法的有效性,并表明:该方法不但能判断光学元件的中频误差是否满足惯性约束聚变系统要求,而且还能确定不满足要求的特定区域,从而有效地指导光学元件的返修。
- 徐建程李海波范长江许乔柴立群
- 关键词：WIGNER分布函数功率谱密度光学元件
- 大口径光学元件功率谱密度的统计法测量被引量：5
- 2010年
- 针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。
- 徐建程许乔柴立群
- 关键词：功率谱密度大口径光学元件子孔径拼接
