南京电子器件研究所 作品数:2,404 被引量:3,141 H指数:16 相关作者: 薛舫时 贾正根 陈辰 林金庭 李忠辉 更多>> 相关机构: 东南大学 南京大学 电子科技大学 更多>> 发文基金: 国家自然科学基金 江苏省自然科学基金 国家高技术研究发展计划 更多>> 相关领域: 电子电信 电气工程 理学 一般工业技术 更多>>
南京电子器件研究所1989年度科研成果介绍之二 1990年 一九八九年南京电子器件研究所在科研工作中取得了丰硕的成果,已经通过鉴定的项目共41项.其中微波半导体专业34项,光电专业7项.12月19日在南京召开了部分科研成果鉴定会,对18项成果进行了专家评议鉴定.其中半导体专业15项,光电专业3项.大部分成果处于国内领先地位,部分达到目前国际先进水平.现将半导体专业的部分鉴定项目介绍如下: 王烈强 钱鼎荣关键词:电子器件 半导体器件 光电器件 微波单片集成电路的一种中心设计方法 1993年 本文系统地提出了一种微波单片集成电路的中心设计方法,有效地提高了单片电路的成品率,改善了电路性能;同时,占机时少,收敛速度快。试用结果表明,该方法是有效和可靠的,具有应用前景。 戚颂新 杨铨让 过常宁关键词:单片集成电路 微波集成电路 G波段1W GaN固态功率放大器 被引量:1 2022年 南京电子器件研究所首次成功研制了G波段瓦级固态功率放大器。该固态放大器以南京电子器件研究所自主研制的G波段GaN功率MMIC为基础,结合太赫兹低损耗传输技术和高效合成技术,实现了16路高效功率合成,典型输出功率达到1W。G波段固态功率放大器的实物照片如图1所示,该固态功率放大器外形尺寸为:280 mm ×204 mm ×48 mm。 成海峰 朱翔 徐建华 周明 王维波关键词:固态功率放大器 功率合成 固态放大器 GAN 传输技术 MMIC C/Si比对Si(100)衬底3C-SiC薄膜质量的影响 SiC具有优异的材料特性,可以用来制造各种耐高温的高频、高效大功率器件[1].相对于衬底价格昂贵的SiC同质外延,Si基SiC异质外延在衬底价格及外延尺寸上面具有其独特的优势,同时Si基SiC异质外延材料还可以兼容于成熟... 赵志飞 李赟 尹志军 朱志明 陆东赛K波段收发多功能GaAs MMIC芯片 被引量:2 2015年 介绍了一种基于0.15μm GaAs pHEMT功率工艺的K波段收发一体多功能芯片。该多功能芯片包含了功率放大器和低噪声放大器及收发开关。接收支路19.6-23.0GHz内增益大于23dB,增益平坦度为±0.2dB,输入输出驻波均小于1.8,噪声低于3.5dB;发射支路21-23GHz内输出驻波小于2.2,输入驻波小于2,增益大于25.6dB。在22GHz时饱和输出功率为23.3dBm,饱和电流170mA,效率达到25.2%。该多功能芯片接收/发射由单刀双掷开关控制。芯片尺寸为:4.1mm×2.75mm×0.05mm。 凌志健 彭龙新关键词:微波单片集成电路 K波段 相位体制数模转换器动态参数的表征与测试 2006年 详细分析并讨论了相位体制数模转换器(DAC)动态参数的表征方法,提出用无杂散动态范围(SFDR)、近区谐波失真(TH D 6)、有效工作带宽(EW B)、输出信号功率及正交输出信号幅度一致性来全面描述相位DAC的频域性能。采用上述方法对利用南京电子器件研究所标准76 mm G aA sM ESFET全离子注入工艺流片得到的3b it相位DAC进行了频域测试。结果显示其EW B大于1.5 GH z,转换速率大于12 G bps,全频带内输出信号的正交精度低于4%,幅度一致性低于26%(大多数测试点低于10%)。在500 MH z输入信号下,其SFDR、TH D 6分别为33.8 dB c-、33.7 dB c。该相位DAC的动态参数良好,尤其正交性能优异。 张有涛 夏冠群 李拂晓 高建峰关键词:动态参数 谐波 CRT投影显示近况 1997年 CRT显示近十年取得较快的发展,市场也稳定增加。显示功能逐步改进。 贾正根关键词:CRT 电子枪 静电聚焦 磁聚焦 象差 由TPS看研究型企业生产精益化管理策略 2021年 TPS是基于精益思想的一种生产方式,为研究型企业应对市场竞争、提升企业的经营能力与活力提供了很好的启示。文章通过对TPS精益生产的分析,结合研究型企业的具体实践,对研究型企业生产经营精益化管理的策略进行了探讨。 吴亚洁关键词:TPS 精益化管理 K波段低噪声放大器的设计与测试 本文研究了K波段微波低噪声放大器的设计方法和测试方法.在设计中,分别对FMM5701X芯片的输入输出电路进行设计,再对其馈电电路和版图进行设计.在测试方法上对微组装工艺进行了要求.此款K波段低噪声放大器在24GHz下噪声... 薛静 张忻 钱锋关键词:K波段 低噪声 放大器 哪种结构优越? Npn还是Pnp? 被引量:1 1993年 在分析影响f_(max)的因素后,导出了f_(max)与载流子迁移率的关系式,指出f_(max)不仅与少子迁移率有关,也与多子迁移率相关,是一种综合效应。并推断在材料和器件结构参数相同情况下,Pnp晶体管的f_(max)与Npn晶体管的f_(max)基本相等或稍高。 陈福荫关键词:晶体管 振荡频率 载流子 迁移率