华北电力大学电气与电子工程学院电子与通信工程系（保定）
- 作品数：6 被引量：0H指数：0
- 相关机构：中国科学院计算技术研究所合肥工业大学计算机与信息学院合肥工业大学电子科学与应用物理学院更多>>
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- 考虑NBTI空穴俘获释放机制的组合逻辑门延迟预测
- 2014年
- 随着集成电路工艺尺寸下降到纳米级,负偏置温度不稳定性(NBTI)成为影响电路可靠性的首要老化效应.精确的老化预测模型是节省防护开销的重要前提.针对已有反应扩散机制下阈值电压变化预测模型存在的预测偏差问题,本文分析了NBTI空穴俘获释放机制下阈值电压变化模型,提出了新的组合逻辑门传输延迟预测模型(TDDP),达到了更精确预测数字电路老化的目的,为老化防护提供了更优的参考模型.实验结果表明,针对设置时序余量的老化防护方法,在保证10年等值生命周期可靠性的前提下,参考TDDP模型比参考已有的RD延迟模型减少平均17.8%的时序余量开销.
- 李军梁华国许达文靳松
- 基于漏电变化表征的参数偏差在线预测方法
- 负偏置温度不稳定(NBTI)引发的动态参数偏差给集成电路的生命期可靠性带来严重威胁。已有的方法主要通过设计片上检测电路实时监测关键通路的时延偏差来阻止NBTI导致的电路失效。然而，不断恶化的静、动参数偏差，不断增加的设计...
- Jin Song靳松Han Yinhe韩银和Xu Qiang徐强
- 关键词：纳米集成电路
- 基于漏电变化表征的参数偏差在线预测方法
- 负偏置温度不稳定(NBTI)引发的动态参数偏差给集成电路的生命期可靠性带来严重威胁。已有的方法主要通过设计片上检测电路实时监测关键通路的时延偏差来阻止NBTI导致的电路失效。然而，不断恶化的静、动参数偏差，不断增加的...
- 靳松韩银和徐强
- 文献传递网络资源链接
- 面向基于电压/频率岛设计的三维多核SoC硅后能耗优化方法
- 随着晶体管集成规模的不断增加,越来越多的处理芯核能够被集成到一个硅片上.然而,参数偏差却会导致核间性能出现差异,降低系统能效.为了克服参数偏差的负面影响,基于电压/频率岛的设计方法被广泛应用于多核平台.电压/频率岛设计方...
- 靳松韩银和王瑜
- 关键词：集成电路能耗优化
- 文献传递
- 一种静态漏电与NBTI效应协同优化模型
- 随着制造工艺的不断进步，老化效应导致的动态参数偏差和漏电给集成电路的可靠性带来了严峻挑战。目前关于电路老化和漏电的协同优化方法或者以侵入式方法实现，或者采用输入向量控制方法(IVC)。然而，侵入式方法会增加设计复杂度...
- 靳松韩银和刘立
- 关键词：占空比
- 文献传递网络资源链接
- 一种静态漏电与NBTI效应协同优化模型
- 随着制造工艺的不断进步，老化效应导致的动态参数偏差和漏电给集成电路的可靠性带来了严峻挑战。目前关于电路老化和漏电的协同优化方法或者以侵入式方法实现，或者采用输入向量控制方法(IVC)。然而，侵入式方法会增加设计复杂度，并...
- Jin Song靳松Hart Yinhe韩银和Liu Li刘立
- 关键词：集成电路
