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株式会社爱德万测试
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2005
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测试装置用电源装置及利用它的测试装置
本发明提供一种测试装置用电源装置及利用它的测试装置,所述电源装置能够对应于负载和寄生阻抗而进行最佳控制。第一A/D转换器将与向DUT1的电源端子供给的电源信号对应的模拟测量值转换为数字测量值。数字信号处理电路通过数字运算...
清水贵彦
出川胜彦
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半导体集成电路测试装置
一种IC测试装置,可连续自动地作复合IC存储器部分的测试和逻辑部分的测试。在测试盘的循环移动路线上设置在存储器用测试头(104A)和逻辑测试用测试头(104B),使放置在测试盘上的被测试IC以放置在其测试盘上的状态,与装...
叶山久夫
后藤敏雄
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集成电路托盘保持架
伊藤明彦
小林义仁
测试托盘及具备该测试托盘的电子元件测试装置
测试托盘TST具备可收容IC器件的多个插入件82和可游动地保持该插入件82的框架构件81,各插入件82以与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向置放在框架构件82上,插入件82配置成沿与测试托盘TST的主要面基本垂直的方向...
相泽·光范
伊藤·明彦
文献传递
频率转换扫描测定方法
例如,在频谱分析器中省略防止图像信号输入的预选择器,藉此预置测量频率范围之外的图像信号可以被抑制。中频Fi在预置测量频率范围内设置为从F1到F2。扫描该扫描信号的频率部分F1+Fi到F2+Fi以确定第一测量数据,扫描该扫...
宫内康司
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处理器装置用托盘安装台
本发明为一种将放置DUT的托盘以正确的定位供给处理器装置而且可以容易地进行托盘的装入和取出作业的处理器装置用安装台。因此,相对于托盘调节杆的长度,将托盘导引杆的长度缩短,并将托盘基准杆配置到该托盘导引杆的上部。从而,当托...
清川敏之
大浦溥
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测试装置
本发明提供一种测试装置。第一定时比较器(TCP1)以与第一选通信号(STRB1a)的边沿相应的定时锁存数据信号(DQ)。第一延迟元件(D1)使第一选通信号(STRB1a)延迟,输出第一延迟选通信号(STRB1b)。第一时...
上松知宏
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部件保持装置
一种部件保持装置,包括底板(11),设置在底板中的中空的延长器保护器(12),对着延长器保护器沿轴向可移动地插入的、具有通孔(131)的延长器销(13),装在延长器销前端的、具有与该延长器销的通孔连通的通孔(141)的延...
柏崎利男
五十岚德幸
中嶋治希
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夹具特性测定装置、方法、程序、记录介质以及网络分析器、半导体试验装置
本发明涉及在运算测量被测定物的电路参数时使用的夹具的特性的测定。一种用于测定具有连接DUT2和网络分析器1的信号线3a、3b、3c、3d的夹具3的夹具特性(亦即信号线3a、3b、3c、3d的反射特性、传输S参数等)的夹具...
春田将人
绀野裕幸
木村直也
中山喜和
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连接器
一种连接器,实装于具有复数基板信号线、及基板接地线的基板的连接器。其中,基板信号线传送信号,基板接地线,加以接地。复数基板信号线的各个,具有各以对应所设的复数信号端子。各信号端子,包括信号芯线、芯线用屏蔽,信号电极、及复...
村山茂
金子雅则
松村茂
关塚高志
滨博之
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