中国电子科技集团第五十八研究所
- 作品数：3,047 被引量：2,123H指数：14
- 相关作者：于宗光魏敬和洪根深刘国柱肖培磊更多>>
- 相关机构：江南大学无锡中微亿芯有限公司西安电子科技大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程经济管理更多>>
- 一种基于PWM斩波技术的比例电磁阀恒流控制电路
- 本实用新型公开一种基于PWM斩波技术的比例电磁阀恒流控制电路，属于集成电路领域，包括DSP主控器、MOS管驱动电路、MOS管、比例阀线圈、采样电阻、采样调理电路和续流二极管；DSP主控器集成有PWM控制模块与AD采集模块...
- 吴松孙晓冬顾林
- 一种高频高速的芯片封装联合设计方法
- 本发明涉及射频集成电路技术领域，特别涉及一种高频高速的芯片封装联合设计方法，可用于指导系统级电路的匹配优化设计。包括如下：步骤一：集成电路封装建模：使用LGA_package封装模块对LNA芯片开展系统级封装建模工作；其...
- 孙文俊张礼怿秦战明张斌汪柏康
- 一种基于机器视觉的高空抛物检测识别方法及系统
- 本发明公开一种基于机器视觉的高空抛物检测识别方法及系统，使用监控视频图像前10～100帧初始化高斯混合模型进行背景建模；使用高斯混合模型，预测出每一个像素属于前景还是背景，得到前景中潜在的运动目标，并更新高斯混合模型；根...
- 章琦程虎朱鸿泰张俊吕璐
- 文献传递
- 一种用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路
- 本发明提供了一种用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路，属于集成电路技术领域。所述用于多通道ADC的时钟相位失配校准电路，包括时钟接收电路、时钟占空比稳定电路、时钟驱动电路、M个延迟电路、M个多相时钟产生电路、M个时钟等...
- 魏敬和陈珍海侯丽苏小波薛颜王淑芬邵键于宗光
- 文献传递
- 抗辐射PIP型ONO反熔丝结构及CMOS工艺集成法
- 本发明涉及抗辐射PIP型ONO反熔丝结构及CMOS工艺集成法，ONO反熔丝结构制作在场区之上；由下至上包括反熔丝下极板、反熔丝孔腐蚀掩蔽层、ONO反熔丝介质层、反熔丝上极板，反熔丝下极板为N型饱和掺杂的非晶硅薄膜，覆盖于...
- 刘国柱洪根深赵文斌吴建伟朱少立徐静刘佰清
- 文献传递
- 一种精确测量MOSFET晶圆导通电阻的方法被引量：4
- 2014年
- 导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET晶圆测试中的一个难点。要实现毫欧级导通电阻的测试,必须用开尔文测试法;但实际的MOSFET晶圆表面只有两个电极(G、S),另外一个电极(D)在圆片的背面,通常只能将开尔文的短接点接在承载圆片的吸盘边缘,无法做到真正的开尔文连接,由于吸盘接触电阻无法补偿而且变化没有规律,导致导通电阻无法精确测量。介绍了一种借用临近管芯实现真正开尔文测试的方法,可以实现MOSFET晶圆毫欧级导通电阻准确稳定的测量。
- 顾汉玉武乾文
- 关键词：MOS管导通电阻自动测试设备晶圆测试管芯
- 一种基于JTAG接口的SIP测试调试系统设计技术被引量：8
- 2018年
- 随着系统级封装（SIP）的内部器件数量和规模的不断增长,SIP内部器件的可测性、可调试性以及SIP后的可靠性问题变得越来越突出。当SIP器件在使用过程中出现问题,进行无损测试定位的难度也越来越大。为此,针对一款集成了片上系统（SOC）、一片四通道模拟数字转换器（ADC）、两片两通道数字模拟转换器（DAC）和多个无源器件的SIP系统,开发了基于联合测试行动组（JTAG）接口的能复用中央处理器（CPU）调试软件的SIP测试调试技术。该技术通过复用SOC自有的JTAG引脚,实现对SIP内各个器件的测试。编写了基于Lab View软件的图形化测试程序,提高了测试效率。测试结果表明,设计的SIP测试调试系统能够完好地复用CPU的调试软件并完成测试工作,满足设计要求和测试调试需求,为后续集成更多器件的SIP测试奠定了良好的技术基础。
- 杨亮于宗光魏敬和
- 关键词：LABVIEW软件
- 用于存储器电路的ONO结构特性研究
- 2008年
- 为研究存储器的多晶间介质采用ONO(Oxide-Nitride-Oxide)结构的基本特性,从ONO叠层的工作原理和它在器件制作中的工艺结构出发,设计了采用ONO结构存储器的模拟实验,对不同工艺条件下的ONO叠层作对比实验,通过ONO叠层的I-V曲线、漏电流、击穿场强和电荷保持特性的测试及分析,研究了不同生长条件对ONO结构的影响程度,获得了最优的ONO叠层制作条件,为存储器的设计和工艺控制提供了参考。
- 吴晓鸫周川淼
- 关键词：IPD
- 基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法被引量：5
- 2018年
- 目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求。研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法。以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试。与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好。实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求。
- 韩先虎张凯虹王建超郭晓宇
- 关键词：模拟开关漏电流
- 一种基于SPI通信协议的一次性熔丝修调电路
- 本发明公开一种基于SPI通信协议的一次性熔丝修调电路，属于电子电路领域，包括SPI通信模块和熔丝烧写数字逻辑电路；SPI通信模块包括正常模式和熔丝模式；正常模式包含数据位、控制位和冗余位；熔丝模式包含熔丝地址位、熔丝控制...
- 张皓然张涛盛炜吴江王佳琪
