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朱绍平

作品数:5 被引量:8H指数:2
供职机构:重庆师范大学更多>>
发文基金:重庆市教委科研基金更多>>
相关领域:理学自动化与计算机技术电子电信冶金工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇理学
  • 1篇冶金工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇溅射
  • 3篇光致
  • 3篇光致发光
  • 3篇发光
  • 3篇磁控
  • 3篇磁控溅射
  • 3篇ZNO薄膜
  • 2篇射频磁控
  • 2篇射频磁控溅射
  • 2篇光学
  • 2篇ZNO
  • 1篇带隙
  • 1篇性能研究
  • 1篇氧浓度
  • 1篇直流磁控
  • 1篇直流磁控溅射
  • 1篇透射
  • 1篇透射率
  • 1篇退火
  • 1篇退火处理

机构

  • 5篇重庆师范大学

作者

  • 5篇朱绍平
  • 4篇马勇
  • 2篇闫勇彦
  • 1篇张召涛
  • 1篇孙彩芹
  • 1篇万勇
  • 1篇方成林
  • 1篇杨晓红
  • 1篇张爱民
  • 1篇房燕

传媒

  • 2篇重庆科技学院...
  • 1篇重庆师范大学...
  • 1篇传感器与微系...

年份

  • 3篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
ZnO薄膜的制备及发光研究进展被引量:2
2010年
ZnO作为一种新型的宽禁带半导体材料,具有优良的光电性能,在光电器件、压电器件、表面声波器件等领域具有广泛的应用前景。介绍了ZnO薄膜的制备方法及影响薄膜光致发光效果的不同因素。
朱绍平马勇方成林万勇
关键词:ZNO薄膜光致发光
Sb掺杂ZnO薄膜的制备及光学性能研究
ZnO薄膜作为一种新型的宽禁带氧化物半导体材料,具有优异的光电特性。在发光器件、表面声波器件、气敏传感器,透明导电膜等方面具有广泛的应用。ZnO薄膜室温下的禁带宽度为3.37eV,激子束缚能60meV,远高于ZnSe、G...
朱绍平
关键词:ZNO薄膜射频磁控溅射光学带隙光致发光
文献传递
退火处理对Ti-WO_3薄膜的结构和气敏特性的影响被引量:4
2008年
用X射线衍射和透射电镜表征了直流磁控溅射法制得的Ti-WO3薄膜的晶型、晶格常数、粒径等。研究了退火对Ti-WO3薄膜气敏性质和微结构的影响,找出了最佳退火温度和工作温度;并对机理进行了分析。结果表明:450℃退火的薄膜的气敏效应很好,最佳工作温度在150℃左右;
张召涛杨晓红马勇孙彩芹闫勇彦朱绍平
关键词:直流磁控溅射退火气敏特性
Sb掺杂ZnO纳米材料的研究进展
2009年
ZnO纳米材料是一种新型的直接带隙半导体材料,其禁带宽度为3.37eV。Sb掺杂ZnO纳米材料在光电、气敏效应、p型导电等方面具有优良的性质。介绍Sb掺杂ZnO纳米材料在这几方面的最新研究进展。
闫勇彦马勇朱绍平
关键词:ZNO薄膜P型ZNO
氧浓度对MS法制备的ZnO:Sb薄膜的光学性能影响被引量:2
2010年
在玻璃衬底上以Zn-Sb合金靶为靶材,采用射频反应磁控溅射法制备出具有良好C轴取向的ZnO:Sb薄膜。用X射线衍射仪、分光光度计和荧光发光光度计等测试手段分析了Sb掺杂ZnO薄膜的晶体结构和光学性质。薄膜在N2气中550℃退火后的X射线衍射谱表明:Sb掺杂ZnO薄膜主要沿ZnO的(002)方向生长,没有检测到其它杂质相的生成。退火前,薄膜的光学带隙随氧浓度的增大而增大,退火后薄膜光学带隙减少。薄膜的室温光致发光谱中有较强的蓝光发射峰,并对蓝光的发射机理作了分析:蓝光(487 nm左右)的发射与锌填隙(Zn i)和锌空位(VZn)缺陷能级有关,还与Sb3+离子提供了相应的蓝光中心有关;蓝光峰(436 nm左右)的发射与锌填隙缺陷能级和氧空位(VO)形成的浅施主能级有关,这些蓝光峰的出现对于开发出单色蓝光发光器件有重要意义。
朱绍平马勇房燕张爱民
关键词:射频磁控溅射透射率光致发光氧浓度
共1页<1>
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