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李向库

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金：湖南省自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇处理器
  • 1篇动态功耗
  • 1篇扫描测试
  • 1篇通用微处理器
  • 1篇自测试
  • 1篇组合逻辑
  • 1篇组合逻辑电路
  • 1篇微处理器
  • 1篇向量
  • 1篇芯片
  • 1篇芯片设计
  • 1篇龙芯
  • 1篇龙芯处理器
  • 1篇逻辑电路
  • 1篇内建自测试
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇集成电路
  • 1篇功耗

机构

  • 3篇中国科学院
  • 1篇湖南大学

作者

  • 3篇李向库
  • 1篇张红南
  • 1篇齐子初
  • 1篇王松
  • 1篇张志伟
  • 1篇徐君

传媒

  • 1篇湖南大学学报...
  • 1篇第十三届全国...

年份

  • 3篇2009
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
一款通用微处理器的CAM内建自测试方法
CAM(Content Addressable Memory)是通用微处理器中至关重要的功能器件，通过有效的测试方法来保证CAM器件的高可靠性是确保芯片质量的重要手段。但CAM的功能行为与RAM不同，CAM不能直接应用R...
李向库齐子初马麟刘慧王剑
关键词：微处理器内建自测试
文献传递
一种有效降低扫描结构测试功耗的方法被引量：1
2009年
提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案.通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播.同时,设计了时序优化算法以保持电路其他性能不发生大的改变.实验结果显示:通过采用ISCAS89基准测试程序进行分析,优化前无用动态功耗值约占总功耗的19.84%,优化后整体测试功耗降低约23%,有效地降低了无用动态功耗,并且此方案容易在已有的设计流程里实现.
张红南王松徐君李向库张志伟
关键词：扫描测试测试向量组合逻辑电路动态功耗
龙芯三号处理器的存储器可测性设计
随着集成电路工艺尺寸不断缩小、电路设计规模不断变大，高性能多核通用处理器正面临着高可靠性、高质量、低成本、低功耗等日益严峻的挑战，为了降低处理器芯片的测试难度，减少测试成本，必须在芯片设计阶段进行可测性设计。根据ITRS...
李向库
关键词：集成电路龙芯处理器芯片设计存储器测试
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