盛世敏 作品数:31 被引量:93 H指数:5 供职机构: 北京大学信息科学技术学院微电子研究院 更多>> 发文基金: 国家高技术研究发展计划 国防科技技术预先研究基金 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 电子电信 自动化与计算机技术 机械工程 更多>>
一种Montgomery模乘算法硬件实现的改进电路 被引量:2 2004年 速度与面积是数字集成电路设计的两个重要目标 ,由于它们之间通常是一种相互制约的关系 ,所以往往要在一定程度上进行折中。作者提出的改进方法可以在几乎不增加硬件面积的条件下有效地提高速度。 张怡浩 田则 于敦山 盛世敏关键词:MONTGOMERY WISHBONE IP核互联总线 被引量:8 2005年 介绍了一种新兴的SOC片上总线--WISHBONE。对总线的结构、连接方式、接口信号、数据传输方式及数据顺序作了详细说明,并总结了WISHBONE总线的技术特征。 田泽 张怡浩 于敦山 盛世敏 仇玉林关键词:片上总线 IP核 系统级设计 设计复用 基于计数器实现的加法器自测试 被引量:2 2003年 文章研究了行波进位加法器和先行进位加法器的测试向量生成,并基于计数器实现了这两种加法器的自测试。实验结果表明,所得的测试向量针对不同的目标工艺均可以实现被测加法器的100%故障覆盖率,且测试向量生成电路易扩展,能够实现测试复用。 李兆麟 田泽 于敦山 盛世敏关键词:计数器 集成电路 防病毒软件固化电路的设计 1991年 本文介绍了防病毒软件固化电路的设计方法。它利用一种容量为1K×8的MASK ROM来实现。并具体介绍了译码器和单元的设计,单元采用并联多晶硅位线,用引线孔选择码点,单元码点实现了自动编程。 莫邦燹 吉利久 倪学文 盛世敏 傅一玲关键词:病毒 ROM ASIC 同时支持两种有限域的模逆算法及其硬件实现 被引量:5 2007年 有限域的运算是密码学的基础,而在有限域的所有运算中模逆运算是最核心也是最复杂的运算。提出了一种同时支持素域和二进制域两种有限域的模逆算法,通过对算法的优化和对硬件结构的设计,使得256位的模逆运算电路的时钟频率达到167MHz,电路面积和其他电路相比较也有明显优势。 王健 蒋安平 盛世敏关键词:有限域 模逆运算 维特比译码的双读出回溯算法及ASIC实现 1996年 在分析维特比译码器回溯算法的基础上,归纳出回溯算法的规律,提出了双读出回溯(DRTB)算法。计算表明,DRTB算法在不增加硬件开销的情况下,使回溯运算速度达到原来的4倍。本文还介绍了基于DRTB算法幸存路径存储器单元(SMU)的ASIC结构和物理设计。对半导体集成电路的测试表明,本文提出的DRTB算法及电路结构是成功的。 盛世敏 刘越 吉利久关键词:维特比译码器 存储器 集成电路 基于硬件优化的H.264 VBSME SAD算法及其VLSI结构 2008年 以硬件代价优化为目的,对H.264宏块级的VBSME SAD VLSI结构进行了详细的分析,提出一种像素平滑重采样的SAD算法及其VLSI结构.该算法先将当前块和参考块像素划分成2×2的子块进行平滑和重采样,再进行7种可变块大小的SAD运算,以有效地降低SAD运算中级联加法器的深度和宽度,减少硬件代价.实验结果表明,该算法的编码性能与SAD标准算法的RDO曲线相比偏差小于1%,而硬件面积和功耗在不同的综合时钟频率下可节省53%以上.鉴于其优良的硬件性能,文中算法及其结构非常适合高并行度的H.264 VLSI解决方案. 彭春干 于敦山 曹喜信 盛世敏关键词:H.264 VLSI 信息安全集成电路可测性与安全性设计方法 本发明提供了一种提高信息安全集成电路的可测性与安全性的方法,属于集成电路设计技术领域。该方法对需要进行观察的测试点通过连线连接到可以用探针进行探测的探测点上,这些探测点和连线没有改变原来的逻辑,在不影响集成电路的可控制性... 蒋安平 盛世敏 刘越 孙卫文献传递 固态电路会议述评 1996年 第43届国际固态电路会议于1996年2月8—10日在美国旧金山市举行。会议发表了来自15个国家的159篇学术论文,其中美国74篇,日本44篇。内容涉及通讯电路、存储器、微处理器、数字信号处理、高速电路、模拟电路以及数据转换等领域。会议前还举办了数字电视的短期课程,另外有关一些具体电路的讲座也反映了当前普遍关注的问题,例如单片锁相环,低功耗DSP,微机械传感器,动态电路,无绳通讯电路和不挥发存储器等。 盛世敏关键词:电路 固态电路 基于单元故障模型的树型加法器的测试 被引量:6 2003年 首先分析了树型加法器的原理 ,总结了其运算特性 .其次在介绍单元故障模型的基础上分析了树型加法器的测试向量生成 .分析结果表明 ,5n - 1个测试向量可以实现树型加法器中所有单元故障的检测 .这些测试向量具有很好的规则性 ,能够利用片上测试向量生成器实现 ,适合于应用内建自测试技术测试 .基于此 ,作者提出了一种内建自测试的测试结构 ,测试时只需存储 7个籽测试向量 ,其它测试向量可以在这 7个籽测试向量的基础上通过循环移位实现 .最后给出了实验分析结果 . 李兆麟 盛世敏 吉利久 王阳元关键词:集成电路