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马靖

作品数:7 被引量:9H指数:2
供职机构:天津理工大学更多>>
发文基金:天津市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信理学化学工程自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇科技成果
  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇化学工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇理学

主题

  • 3篇多层膜
  • 3篇多层膜结构
  • 3篇平面度
  • 3篇平面度测量
  • 3篇膜厚
  • 3篇金刚石膜
  • 3篇薄膜厚度
  • 3篇传感
  • 2篇样片
  • 2篇声表面波
  • 2篇滤波器
  • 2篇感器
  • 2篇SAW
  • 2篇SAW滤波器
  • 2篇SAW器件
  • 2篇ZNO
  • 2篇IDT
  • 2篇层膜
  • 2篇传感器
  • 1篇电压

机构

  • 7篇天津理工大学

作者

  • 7篇马靖
  • 6篇杨保和
  • 6篇陈希明
  • 4篇孙大智
  • 3篇吴小国
  • 2篇常明
  • 2篇王芳
  • 2篇杨晓苹
  • 2篇徐晟
  • 1篇苏林
  • 1篇熊瑛
  • 1篇吴轶卓
  • 1篇吴晓国

传媒

  • 1篇光电子.激光

年份

  • 1篇2007
  • 2篇2006
  • 3篇2005
  • 1篇2004
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
测量多层膜结构中薄膜厚度的一种新方法被引量:7
2005年
提出一种基于平行板电容测微原理进行多层膜材料的测厚方法。该方法用有效电极直径Φ3 mm电容传感头,通过变化空气隙Δh进行多次测量,对输出电压V值进行线性拟合,得到空气隙与测量电压的关系,计算出被测厚度,测量精度达0.01μm。若采用有效电极直径Φ1 mm传感头,测量精度可达0.001μm。通过理论分析和实验证实,该方法不需对被测材料提前标定相对介电常数,不需特殊制备样件,是非接触测量,测量方法简单、成本低。因此适用于各种薄膜、特别是多层结构膜的无损膜厚测量及平面度测量。
陈希明马靖徐晟吴小国孙大智杨保和
关键词:多层膜结构薄膜厚度平面度测量测量电压传感头空气隙
多层膜结构SAW器件的各层薄膜厚度无损测量方法
本发明公开了一种多层膜结构SAW器件的各层薄膜厚度无损测量方法,该方法首先确定被测膜样片的测量系数k,再测定该被测膜样片的总厚度h,然后计算被测薄膜层的厚度h<Sub>film</Sub>=h<Sub>基片</Sub>-...
杨保和陈希明吴小国马靖
文献传递
2.5GHzSiO_2/ZnO/IDT/金刚石膜SAW滤波器的研究
杨保和陈希明王芳马靖孙大智常明
成功设计并集成了ZnO/IDT/金刚石的多层膜结构声表面波滤波器,其中心频率相对传统的材料LiNbO_3的SAW表面波滤波器中心频率大大提高。总之,利用金刚石膜独特的优异性能,采用目前半导体工业技术水平,制备叉指换能器(...
关键词:
关键词:滤波器金刚石膜
多层结构高频声表面波器件的分析与研制
声表面波器件(SurfaceAcousticWaveDevice)是通讯系统中重要的器件之一。由于目前通讯器件朝着高频化发展,优良的高频声表面波器件必须具有高声速、高机电耦合系数、低传播损耗、高温度稳定性等特性。通过在压...
马靖
关键词:CVD金刚石膜声表面波传感器声表面波器件金刚石膜光学工程
文献传递
2.5GHz SiO2/ZnO/IDT/金刚石膜SAW滤波器的研究
杨保和陈希明吴晓国杨晓苹王芳马靖孙大智常明
成功设计并集成了ZnO/IDT/金刚石的多层膜结构声表面波滤波器,其中心频率相对传统的材料LiNbO_3的SAW表面波滤波器中心频率大大提高。总之,利用金刚石膜独特的优异性能,采用目前半导体工业技术水平,制备叉指换能器(...
关键词:
关键词:金刚石膜SAW滤波器
高性能无线无源声表面波(SAW)传感器研究
陈希明苏林杨晓苹熊瑛孙大智马靖吴轶卓徐晟杨保和
该项目提供适用于高频SAW无源传感器的金刚石膜/IDT/压电材料薄膜基片优化结构方案,构造了SAW无源无线传感虚拟仪器系统;提供SAW滤波器样件数件(最宽指宽d=1.7um,中心频率达到1.6GHz~2.5GHz);主要...
关键词:
关键词:高性能传感器
多层膜结构SAW器件的各层薄膜厚度无损测量方法
本发明公开了一种多层膜结构SAW器件的各层薄膜厚度无损测量方法,该方法首先确定被测膜样片的测量系数k,再测定该被测膜样片的总厚度h,然后计算被测薄膜层的厚度h<Sub>film</Sub>=h<Sub>基片</Sub>-...
杨保和陈希明吴小国马靖
文献传递
共1页<1>
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