您的位置: 专家智库 > >

杨玉芳

作品数:11 被引量:48H指数:5
供职机构:昆明贵金属研究所更多>>
相关领域:金属学及工艺一般工业技术理学化学工程更多>>

文献类型

  • 10篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 6篇金属学及工艺
  • 5篇一般工业技术
  • 4篇理学
  • 1篇化学工程

主题

  • 6篇ICP-AE...
  • 5篇
  • 4篇光谱
  • 4篇
  • 3篇合金
  • 3篇发射光谱
  • 3篇ICP-AE...
  • 2篇电感耦合
  • 2篇进样
  • 2篇光谱分析
  • 2篇
  • 2篇ICP
  • 2篇ICP-AE...
  • 2篇次成分
  • 2篇PD
  • 1篇等离子体原子...
  • 1篇等效
  • 1篇电感耦合等离...
  • 1篇电感耦合等离...
  • 1篇电感耦合等离...

机构

  • 11篇昆明贵金属研...

作者

  • 11篇杨玉芳
  • 9篇李惠芬
  • 9篇张新华
  • 2篇方卫
  • 2篇刘伟
  • 1篇赵云昆

传媒

  • 4篇光谱学与光谱...
  • 2篇分析试验室
  • 2篇贵金属
  • 1篇分析化学
  • 1篇理化检验(化...
  • 1篇中国机械工程...

年份

  • 1篇2002
  • 1篇2001
  • 1篇1996
  • 2篇1995
  • 2篇1993
  • 4篇1991
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
改进液体进样技术降低ICP直读光谱仪检出限的研究被引量:1
1996年
本文采用旋流雾室系统和原来使用的双管雾室系统,在相同条件下,对ICPQ-1015直读光谱仪的有关分析特性,进行了测试比较。当使用旋流雾室系统时,对于所测三十个元素的检出限,相对于双管雾室系统降低了二至三倍。因此,使用旋流雾室进样技术,可以降低分析下限和样品的取样量。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:发射光谱ICP
旋流雾室系统ICP─AES法测定Pd中的杂质被引量:1
1995年
用旋流雾室系统代替原用的Scott雾室系统,降低了ICP直读光谱仪分析下限。并引入外加内标元素(Y)的方法测定纯铯中的13个杂质元素。本法适用于纯度为99.9~99.995%纯他的分析。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:电感耦合进样光谱分析
电感耦合等离子体原子发射光谱等效浓度差减法测定纯铂中的杂质元素被引量:9
1991年
本工作采用溶液试样,在标准中不加入基体,亦不对被分析样品进行分离富集的ICP-AES 等效浓度差减法,测定纯铂中十三个杂质元素。方法简便、快速、准确、并能节省大量的铂。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:ICP-AES金属元素
ICP-AES法测定铂催化网中的次成分及杂质元素被引量:5
1995年
本文采用ICP-AES内标法,对硝酸生产用铂催化剂的次成分Pd和Rh,以及十一个杂质元素,进行直接快速测定。部分受干扰的元素,采用扣除其相应等效强度的方法进行校正。本方法的回收率和相对标准偏差,对于次成分分别为:99.1~100%和0.16~0.31%;对于杂质元素分别为:95~114%和0.83~13%。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:硝酸生产ICP-AES
ICP-AES法测定PtRh和PdRh系列合金中次成份Rh及杂质元素
1993年
以前,我所对PtRh系列合金的主、次成份和必测杂质元素An、Fe用化学法测定。1986年后,用粉末试样、杯状电极、电流电弧摄谱法测定PtRh系列合金中十多个杂质元素。但上述两个方法,均不尽完善。前者难于满足对多元素的测定,后者亦难满足对次成份测定,且流程长、耗贵金属量多。文献[l,2]报道,采用外加内标,不准确稀释法,测定小量合金样品中主、次成份。我们根据自己的情况,把工作扩展到测定微量杂质元素,测定了PtRh,PdRh系列合金中的次成份Rh和十二个杂质元素。本方法取样、制样灵活,简便,快速,准确。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:ICP-AES
ICP-AES法直接测定纯钯中的杂质元素被引量:3
1991年
在五十年代和六十年代,对贵金属冶金产品的分析多采用粉末、压丸、棒状的电弧激发技术。虽然上述诸法准确可靠,但是分析流程长,耗贵金属量多。采用化学分离富集试样中的待测杂质元素后,用ICP—AES法进行测定已见报道,但它有繁琐、分析时间长的缺点。用ICP—AES溶液法作钯的纯度分析,我们还未见报道。本文着重研究了钯基体对待测杂质元素的影响,拟定出一个ICP—AES法直接测定纯钯中十三个杂质元素,方法具有简便、快速、准确等优点。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:ICP-AES法
高温钛合金粉中氧氮的同时测定被引量:22
2001年
方卫刘伟杨玉芳
关键词:
发射光谱法同时测定纯铂中21个杂质元素被引量:9
2002年
本文结合国内外各分析方法的长处 ,对纯铂中杂质元素的测定进行了研究 ,采用粉末试样直流电弧激发摄谱 ,同时测定了纯铂中的 2 1个杂质元素 ,各元素测定的相对标准偏差≤ 2 5 %。方法简便 ,适用范围广 ,可用于 99 9%~ 99 995
方卫杨玉芳赵云昆刘伟
关键词:发射光谱光谱分析
ICP-AES可变浓度法测定PtIr和PdIr系列合金中的次成分Ir及杂质元素
1993年
本工作采用不称准样和不准确稀释的可变浓度的ICP-AES法,测定了PtIr_(5·30),PdIr_(5·30)系列合金中的次成分Ir和十二个杂质元素。Pt基和Pd基对待测元素的影响,采用等效浓度差减法进行校正。方法简便、快速、准确,并能节省大量的铂和钯。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:ICP-AES
ICP-AES等效浓度差减法测定高纯钯中的杂质元素被引量:7
1991年
本文采用ICP-AES等效浓度差减法,测定高纯钯中十三个杂质元素,方法快速、准确。将这种方法用于纯钯分析至今尚未见报道。一、仪器及参数ICPQ-1015直读光谱仪;CTM-50单色仪;B.G背景扣除装置;RF发生器频率27.12MHz,入射功率1.2kW,反射功率<5W;冷却气12L/min,等离子气1.0L/min,载气0.8L/min,观察高度15mm。标准溶液:按钯基体含量为40mg/mL计算出所需要的杂质量,制备成含有10%盐酸。
张新华李惠芬杨玉芳
关键词:ICP-AES
共2页<12>
聚类工具0