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纪红

作品数:2 被引量:7H指数:1
供职机构:天津理工大学更多>>
发文基金:天津市自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇溅射
  • 2篇磁控
  • 1篇氮化铝
  • 1篇氮化铝薄膜
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控反应...
  • 1篇金刚石
  • 1篇溅射制备
  • 1篇反应溅射
  • 1篇刚石
  • 1篇SAW器件
  • 1篇SI(111...
  • 1篇
  • 1篇ALN
  • 1篇ALN薄膜
  • 1篇磁控反应溅射
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 2篇天津理工大学

作者

  • 2篇纪红
  • 1篇杨保和
  • 1篇李翠平

传媒

  • 1篇光电子.激光

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
适于SAW器件“AlN/硅”“AlN/金刚石”多层膜制备及结构性能研究
近年来,移动通信迅猛发展,使无线电通信频带成为一个有限而宝贵的自然资源。因此它们需要更大的无线频谱宽度和向高频方向发展。声表面波器件正是以高频的特点得到了国内研究人员的关注。AlN作为压电材料可以实现声信号和电信号之间的...
纪红
关键词:氮化铝薄膜磁控溅射
文献传递
Si(111)和Si(100)衬底上磁控反应溅射制备AlN薄膜被引量:7
2010年
采用射频磁控反应溅射法在Si(111)和Si(100)两种衬底上制备了AlN薄膜,用X射线衍射(XRD)对AlN薄膜进行了表征,研究了衬底Si(111)、Si(100)取向以及N2百分比对AlN(002)薄膜c-轴择优取向的影响。实验结果表明,Si(100)较适合生长c-轴择优取向AlN薄膜,而且N2百分比为40%时,AlN薄膜的c-轴取向最好,具有尖锐的XRD峰,此时对应于AlN(002)晶向。计算了(002)取向AlN和两种Si衬底的失配度,Si(111)面与AlN(002)面可归结为正三角形晶系之间的匹配,失配度为23.5%;而Si(100)面与AlN(002)面可归结为正方形晶系与正三角形晶系之间的匹配,失配度为0.8%,可以认为完全共格。理论分析和实验结果相符。
纪红杨保和李翠平
关键词:ALN薄膜射频磁控反应溅射
共1页<1>
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