赵维艳
- 作品数：15 被引量：17H指数：2
- 供职机构：昆明物理研究所更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术电气工程自动化与计算机技术更多>>
- 外加偏压下BST薄膜/体材料热释电系数测试
- 本文利用基于已授权专利——动态法热释电系数测试装置(专利号:ZL200420033536.5)所研制出的一台新型的、采用计算机自动控制、居于动态法原理的热释电系数测试系统,在外加偏压下对钛酸锶钡(BST)体材料及薄膜材料...
- 赵维艳普朝光信思树杨培志
- 文献传递
- 制导用微型金属杜瓦内管
- 一种制导用微型金属杜瓦内管，杜瓦内管的薄壁部分由内管根部、均匀过渡壁厚部分和均匀壁厚部分构成，其中，内管根部的壁厚在0.1mm至0.6mm之间，长度在5mm至12mm之间；均匀壁厚部分的壁厚在0.01mm至0.1mm之间...
- 朱颖峰徐冬梅徐世春和自强李冉赵维艳倪珺瑞何江玲
- 文献传递
- 基于TC4/Ni杜瓦冷指焊缝微观组织及接头结构的研究
- 2024年
- 针对微型节流制冷型红外焦平面探测器杜瓦冷指,选取TC4/Ni的钎焊形式,从钎焊方法和钎料类型的焊缝微观组织以及接头结构设计的可靠性等方面对TC4/Ni的钎焊工艺进行了研究。结果表明,结合应力、形变和降温时间仿真以及防锈蚀分析结果,研究TC4/Ni冷指端面结构钎焊工艺具有一定工程实用意义;并通过正交试验确定了高温真空钎焊+AgCu28钎料组合的较佳工艺方案,满足对控制元素偏析和减少焊接脆性相生成的目的;同时综合考虑钎透率、充耐压试验及剪切强度测试的结果,确定锥形焊缝为较佳焊接结构。
- 沈练李冉魏超群赵维艳朱鹏飞徐世春戚雁武
- 关键词：真空钎焊TC4钛合金
- 一种杜瓦冷屏的异形粘接面结构及其封装方法
- 本发明公开了一种杜瓦冷屏的异形粘接面结构及其封装方法，该结构包括杜瓦冷屏以及用于杜瓦冷屏粘接在装载基板的粘接面，该粘接面沿圆周由平面段和波纹面段交替连接形成，所述波纹面段用于与装载基板进行胶接固定，所述平面段用于支撑和安...
- 尹爽邓蔚任海刘湘云赵维艳戚雁武杨顺昌牛思怡杨曼云王明伟崔晓梅陈萧宇
- 一种高强度高导热高反射多层复合冷屏的制备方法及冷屏
- 本发明公开了一种高强度高导热高反射多层复合冷屏的制备方法及冷屏，采用高导热纯铜材料作多层复合冷屏的中间层，高强度镍钴合金材料作多层复合冷屏的边界层；利用双脉冲电铸，通过调控纯铜和镍钴的成分占比配合特殊的表面抛光处理制备出...
- 李增弟 戚雁武徐冬梅 彭雪蕾杨秀华 杨曼云 杜丽婷 李金红 杨强赵维艳 王灌鑫 杨泽东
- 红外焦平面杜瓦冷屏挡光环杂散辐射的抑制被引量：8
- 2015年
- 从光学设计的角度出发,介绍了冷屏杂散辐射抑制的基本原理。基于几何光学的基本原理,应用ASAP软件的计算机仿真模拟手段进行实际的光学系统建模,在现有冷屏设计的基础上,仿真具有不同挡光环个数和不同开孔形状的挡光环的冷屏,分析筛选杂散辐射抑制效果最好的冷屏,在尽量减轻重量、减小体积的前提下,获得尽可能好的消杂散辐射效果。
- 尹爽朱颖峰黄一彬张娴静赵维艳徐思轶
- 关键词：红外焦平面
- 基于材料放气特性的杜瓦真空失效时间研究被引量：6
- 2016年
- 杜瓦真空失效的两类模式是漏气和材料放气。漏气是导致杜瓦真空早期失效的主要原因,可通过工艺控制手段解决真空短命问题,材料放气是制约长寿命杜瓦真空寿命的根本原因。杜瓦放气特性是进行杜瓦真空失效时间计算的基础,建立杜瓦材料放气特性的合理测试方法成为评估杜瓦真空失效时间的关键。本文分析了小孔流导法和压强上升法测试杜瓦放气特性存在的固有问题,提出了进行杜瓦放气量测试的合理方案。杜瓦放气量测试是杜瓦真空可靠性研究的有效手段。杜瓦的放气特性不仅可用于杜瓦真空失效时间的评估,而且可用于计算杜瓦真空加速寿命试验的加速因子。
- 张亚平朱颖峰刘湘云徐冬梅徐世春赵维艳聂喜亮
- 关键词：杜瓦
- 分级退火在PZT铁电薄膜中的运用
- 采用溶胶-凝胶和射频磁控溅射相结合的方法制备了PZT铁电薄膜.用溶胶-凝胶法制备一层PZT薄膜作为籽晶层.在衬底PZT(seedlayer)Pt/Ti/SiO2/Si上用射频磁控溅射Pb1.1(Zr0.3Ti0.7)O3...
- 王忠华赵维艳李振豪普朝光杨培志林猷慎
- 关键词：PZT铁电薄膜溶胶-凝胶法射频磁控溅射法红外探测器
- 文献传递
- 热电制冷HgCdTe中波红外探测器的研制被引量：1
- 2017年
- 利用碲镉汞(HgCdTe)体晶材料,采用HgCdTe材料拼接技术、磨抛技术等成熟的探测器芯片制备工艺以及三级热电制冷技术,设计并研制出了热电制冷型13元HgCdTe中波红外光导探测器。在-50℃时,峰值电压响应率可达2.7×104 V/W,峰值探测率达到2.3×1010 cm·Hz1/2·W-1,响应波段在3.0~4.6mm之间,峰值响应波长为4.2mm。
- 苏玉辉冯江敏赵维艳龚晓霞马启邓功荣余连杰
- 关键词：红外探测器碲镉汞热电制冷
- 提升红外焦平面探测器杜瓦组件的贮存寿命被引量：2
- 2018年
- 杜瓦内真空度退化和芯片盲元增加是影响红外焦平面探测器杜瓦组件贮存寿命的两大方面。杜瓦组件的排气策略直接关系到红外红外探测器杜瓦的真空寿命和红外芯片的贮存寿命,是影响红外探测器杜瓦组件可靠性的关键。本文以杜瓦放气率测试技术为依托,结合杜瓦组件在贮存环境下的退化规律和模型预测杜瓦贮存寿命。最后,综合平衡排气温度/时间对杜瓦真空寿命及芯片盲元损耗的影响,提供一种实现红外芯片和杜瓦真空同时失效的技术途径。
- 张亚平朱颖峰徐冬梅徐世春刘湘云高玲赵维艳王艳何晶
- 关键词：红外焦平面探测器盲元
