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冯笑然

作品数：3 被引量：2H指数：1
供职机构：西安电子科技大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇低频噪声
  • 2篇电流放大
  • 2篇电流放大器
  • 2篇噪声测试
  • 2篇数据精度
  • 2篇锁相放大
  • 2篇锁相放大器
  • 2篇介质材料
  • 2篇放大器
  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇电阻器
  • 1篇阻值
  • 1篇可靠性
  • 1篇高阻

机构

  • 3篇西安电子科技...

作者

  • 3篇冯笑然
  • 2篇庄奕琪
  • 2篇陈文豪
  • 2篇杜磊

年份

  • 1篇2013
  • 2篇2011
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
高阻器件低频噪声测试技术与应用研究
电子器件噪声理论表明低频噪声对电子器件或材料内部的各种缺陷和损伤非常敏感，因而电子器件的低频噪声可以用来表征器件的质量和可靠性，分析失效机理，进行产品筛选。上述各种低频噪声应用的实现要以低频噪声测试技术为基础，所以国内外...
冯笑然
关键词：可靠性电容器
高阻器件与介质材料电流噪声测试方法
本发明公开了一种高阻器件与介质材料电流噪声测试方法，其测试步骤为：首先通过样品适配器激发出高阻值样品的低频电流噪声，再通过低噪声电流放大器将样品低频噪声放大，继而通过数据采集卡采集放大后的噪声信号并计算这些采集得到的高频...
杜磊陈文豪冯笑然庄奕琪
高阻器件与介质材料电流噪声测试方法
本发明公开了一种高阻器件与介质材料电流噪声测试方法，其测试步骤为：首先通过样品适配器激发出高阻值样品的低频电流噪声，再通过低噪声电流放大器将样品低频噪声放大，继而通过数据采集卡采集放大后的噪声信号并计算这些采集得到的高频...
杜磊陈文豪冯笑然庄奕琪
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