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李悦

作品数:10 被引量:8H指数:2
供职机构:中国科学院电子学研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家科技重大专项国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 5篇专利

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 7篇单粒子
  • 5篇单粒子翻转
  • 4篇电路
  • 3篇锁存
  • 2篇读操作
  • 2篇读写
  • 2篇限流
  • 2篇限流作用
  • 2篇灵敏放大器
  • 2篇回读
  • 2篇功耗
  • 2篇辐照
  • 2篇FPGA
  • 2篇存储器
  • 1篇冗余
  • 1篇三模冗余
  • 1篇失效率
  • 1篇试验验证
  • 1篇数对
  • 1篇瞬态模拟

机构

  • 10篇中国科学院电...
  • 5篇中国科学院大...

作者

  • 10篇李悦
  • 10篇杨海钢
  • 10篇蔡刚
  • 8篇李天文
  • 6篇贾海涛
  • 4篇支天
  • 4篇秋小强
  • 4篇卢凌云
  • 4篇舒毅
  • 3篇徐宇
  • 2篇丁健
  • 2篇方钊
  • 2篇李林

传媒

  • 3篇微电子学
  • 1篇电子与信息学...
  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2018
  • 2篇2017
  • 5篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟被引量:3
2015年
介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照加固效果进行定量预评估,验证不同加固方案的有效性,同时还可减少辐照试验的次数,降低试验成本.基于Virtex-4SRAM型FPGA,针对三模冗余(TMR)的单粒子翻转加固方法进行了定量评估.评估试验结果表明,该方法较好地模拟了入射粒子LET值和系统电路失效率之间的关系,验证了三模冗余加固方法的有效性.
李林徐宇卢凌云贾海涛蔡刚李悦杨海钢
抗单粒子翻转的锁存型灵敏放大器
本发明提供了一种抗单粒子翻转的锁存型灵敏放大器。该锁存型灵敏放大器在普通锁存灵敏放大器的结构基础上添加两个P型晶体管构成的隔离单元,在保持了普通结构的高性能的同时由于隔离单元的限流作用同时降低了电路的功耗,当节点n1或n...
杨海钢李天文蔡刚秋小强贾海涛舒毅支天李悦
文献传递
一种片外配置和回读FPGA装置
本发明提出一种片外配置和回读FPGA装置,具有片内配置回读和片外配置回读两种模式;其包括FPGA芯片和片外配置控制器,其中所述FPGA芯片包括:片内配置控制器,其用于在片内配置回读模式下对所述FPGA芯片进行配置和回读操...
蔡刚杨海钢舒毅贾海涛方钊支天李天文李悦丁健秋小强
文献传递
抗单粒子翻转的锁存型灵敏放大器
本发明提供了一种抗单粒子翻转的锁存型灵敏放大器。该锁存型灵敏放大器在普通锁存灵敏放大器的结构基础上添加两个P型晶体管构成的隔离单元,在保持了普通结构的高性能的同时由于隔离单元的限流作用同时降低了电路的功耗,当节点n1或n...
杨海钢李天文蔡刚秋小强贾海涛舒毅支天李悦
文献传递
基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法被引量:2
2016年
随着工艺尺寸的不断缩小,由单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)效应引起的软错误已经成为影响宇航用深亚微米VLSI电路可靠性的主要威胁,而SET脉冲的产生和传播也成为电路软错误研究的热点问题。通过研究SET脉冲在逻辑链路中的传播发现:脉冲上升时间和下降时间的差异能够引起输出脉冲宽度的展宽或衰减;脉冲的宽度和幅度可决定其是否会被门的电气效应所屏蔽。该文提出一种四值脉冲参数模型可准确模拟SET脉冲形状,并采用结合查找表和经验公式的方法来模拟SET脉冲在电路中的传播过程。该文提出的四值脉冲参数模型可模拟SET脉冲在传播过程中的展宽和衰减效应,与单参数脉冲模型相比计算精度提高了2.4%。该文应用基于图的故障传播概率算法模拟SET脉冲传播过程中的逻辑屏蔽,可快速计算电路的软错误率。对ISCAS’89及ISCAS’85电路进行分析的实验结果表明:该方法与HSPICE仿真方法的平均偏差为4.12%,计算速度提升10000倍。该文方法可对大规模集成电路的软错误率进行快速分析。
李悦蔡刚李天文杨海钢
关键词:超大规模集成电路
基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法
2017年
介绍了一种基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法。借助XDL工具,该方法解析了Virtex-4SX55型FPGA的帧地址与物理资源之间的对应关系;将电路网表中的资源按模块分组,利用部分重构技术分别对电路整体及各分组相关的配置帧进行随机故障注入,以评估电路整体及其子模块的抗单粒子翻转能力;按模块分组对电路分别进行部分三模冗余(TMR)加固和故障注入实验,以比较不同加固方案的效果。实验结果表明:电路的抗单粒子翻转能力与其功能和占用的资源有关;在FPGA资源不足以支持完全TMR的情况下,该方法可以帮助设计者找到关键模块并进行有效的电路加固。
卢凌云徐宇李悦李天文蔡刚杨海钢
基于向量传播的单粒子瞬态模拟方法研究
2017年
提出了一种基于向量传播的单粒子瞬态(SET)模拟方法。基于4值参数的模型来表征SET脉冲的形状,建立脉冲参数传播的数据库。使用查找表及经验公式来计算SET脉冲形状参数在逻辑门节点之间的传播。为了模拟SET脉冲在传播过程中的重汇聚,定义了4种重汇聚模式,并给出对应的等效脉冲计算方法。提出的基于向量传播的分析算法能够对SET脉冲的产生、传播及捕获过程进行精确分析。ISCAS'89电路的实验结果表明,该方法与Hspice仿真方法的平均误差为1.827%,计算速度提升了1 700倍。在不损失精度的前提下,该方法可对VLSI电路在通用或特定测试向量下的可靠性进行快速自动分析。
李悦蔡刚李天文杨海钢
关键词:可靠性
一种片外配置和回读FPGA装置
本发明提出一种片外配置和回读FPGA装置,具有片内配置回读和片外配置回读两种模式;其包括FPGA芯片和片外配置控制器,其中所述FPGA芯片包括:片内配置控制器,其用于在片内配置回读模式下对所述FPGA芯片进行配置和回读操...
蔡刚杨海钢舒毅贾海涛方钊支天李天文李悦丁健秋小强
文献传递
一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法
本发明提供了一种基于辐照试验环境模拟的SRAM型FPGA测试方法,对采用SRAM型FPGA实现的电路进行故障注入,通过持续向电路中注入随机地址和随机类型的单粒子翻转故障,模拟地面辐照试验中入射粒子LET值、注量率Flux...
杨海钢李林蔡刚贾海涛李悦卢凌云徐宇
文献传递
单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证被引量:3
2016年
对目前基于软错误屏蔽、施密特触发及双互锁单元结构的几种单粒子翻转加固锁存器进行分析,并从面积、延时、功耗和抗单粒子翻转能力等方面进行综合比较。着重剖析了DICE结构的多节点翻转特性,研究了敏感节点隔离对抗单粒子翻转能力的影响,设计了测试芯片,并进行了辐照试验验证。辐照试验结果表明,相比于其他加固锁存器结构,DICE结构的单粒子翻转阈值最高,翻转截面最低,功耗延时积最小。当敏感节点隔离间距由0.21μm增大到2μm时,DICE结构的单粒子翻转阈值增大157%,翻转截面减小40%,面积增大1倍。在DICE结构中使用敏感节点隔离可有效提高抗单粒子翻转能力,但在具体的设计加固中,需要在抗辐照能力、面积、延时和功耗之间进行折中考虑。
李天文杨海钢蔡刚李悦卢凌云
关键词:辐照效应单粒子翻转锁存器
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