杨伟
- 作品数：83 被引量：49H指数：4
- 供职机构：中国科学院光电技术研究所更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划中国科学院光束控制重点实验室基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信一般工业技术更多>>
- 一种在子孔径拼接检测光学系统透射波前中调整平面反射镜倾斜的装置和方法
- 本发明公开了一种在子孔径拼接检测光学系统透射波前中调整平面反射镜倾斜的装置和方法，组合使用干涉仪与光电自准直仪，以调整透射波前检测中平面镜倾斜角度。该系统包括干涉仪，标准镜头，被测光学系统，双面平面反射镜，光电自准直仪，...
- 罗倩张海妮吴时彬汪利华杨伟范斌
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- 一种检测大型望远镜主次镜间距的装置
- 一种检测大型望远镜主次镜间距的装置，其特征在于包括：自准直平行光管、五棱镜、导轨、分划板、CCD探测系统和主控计算机；导轨安装在平行于主镜竖直直径方向上；五棱镜安装在导轨上并可沿竖直方向平移；自准直平行光管发出平行光线经...
- 杨伟吴时彬曹学东景洪伟杨文志
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- 一种基于波前编码技术的大视场衍射望远系统
- 本发明公开了一种基于波前编码技术的大视场衍射望远系统，该系统包括位相编码板、衍射主镜、次镜、聚焦透镜、探测器、解码器。平行光线经过位相编码板调制，使无穷远目标光束依次通过衍射主镜、次镜、聚焦透镜后在探测器上成像，最后解码...
- 杨静静王帅杨平许冰汤国茂杨伟孔庆峰官春林
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- 熔石英玻璃材料测试用折射液配制技术研究被引量：2
- 2012年
- 为了对熔石英光学玻璃应力及光学均匀性进行测试,提出一种测试用高精度折射液配制方法。根据分子结构定量关系及组分的摩尔折光度定量可加的原理,推导了折射液配比公式并制定了折射液的配比工艺;分析了折射液的折射率随测试温度和测试波长不同的变化规律,并进行了实验验证;最后分析了折射液精度对测试结果的影响。通过上述方法在实验室环境配制出与熔石英折射率匹配精度为±2×10-5的折射液;通过对粗磨光学玻璃透射比实验表明,采用该方法配制的折射液对粗磨光学玻璃在450～700nm光谱范围内透射比从低于20%提高到97%以上;利用该方法和选用的成分配制的折射液具有毒性小、挥发性小、无色无味、长时间保存折射率保持性好的优点,可以很好地用于熔石英光学玻璃材料特性测试。
- 胡明鹏吴时彬龚秀明杨伟景洪伟
- 关键词：光学均匀性应力双折射熔石英
- 微结构薄膜望远镜研究进展分析被引量：9
- 2017年
- 微结构薄膜望远镜通过表面微纳结构调制光波相位和传播方向,具有轻量化、公差容限大、易于折叠展开的特点,因此成为大口径轻量化空间光学成像技术中的颠覆性技术。本文通过对国内外微纳薄膜望远镜研究进展的调研和分析,概括了薄膜望远镜研制的关键技术和主要技术途径,重点分析了薄膜材料制备、微结构类型研究、系统光学设计理论等内容。微纳薄膜望远镜研制涉及材料、空间环境工程、微纳加工工艺、精密机械和二元光学等众多交叉学科,随着工程化程度要求的提高,会出现新的技术问题,而随着问题的解决很可能获得具有影响力的科技成果。
- 杨伟吴时彬汪利华范斌罗先刚杨虎
- 关键词：微结构高分辨成像
- 正支共焦非稳腔的失调特性实验分析被引量：3
- 2006年
- 在理论分析基础上,采用Hartmann-Shack(H-S)波前传感器方法实验分析了无源正支共焦非稳腔失调后输出光束像差特性。结果表明,腔内倾斜像差对光束强度分布有显著的影响,约1′的腔内倾斜即可使强度分布呈现明显不均匀,并使相位中的倾斜像差Zernike系数增大。但小的腔内倾斜像差不会使波面中的高阶像差发生明显变化,当引入较大的腔内倾斜时相位中的离焦、像散等高阶像差则有所增大。大菲涅耳数,且腔长较长的非稳腔对于离焦像差有一定的容限度。因此,在进行腔内像差自适应校正时,应首先考虑腔内倾斜像差的校正。
- 张翔杨伟许冰柳建
- 关键词：信息光学像差校正
- 一种不规则表面光学玻璃材料应力检测装置及方法
- 本发明是一种不规则表面光学玻璃材料应力检测装置，其中包括光源、折射液、被测玻璃、透射窗口、盛装容器、密封塞、探头和支架，光源输出测试光；被测玻璃置于折射液中，使测试光对准探头；透射窗口呈十字形分布，沿测试光的光轴方向安装...
- 吴时彬林昭恒杨伟胡明鹏
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- 一种拼接镜中边缘子镜的波前检测装置和方法
- 本发明公开了一种拼接镜中边缘子镜的波前检测装置和方法，组合使用干涉仪和激光跟踪仪，采用计算全息片补偿像差检测拼接镜中边缘子镜的波前，波前检测装置包括高精度平面反射镜、升降架、被测边缘子镜、倾斜调整装置、计算全息片、小五维...
- 罗倩吴时彬汪利华杨伟范斌
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- 一种微纳结构透镜衍射效率测试装置与方法
- 本发明提供了一种微纳结构透镜衍射效率测试装置与方法，包括：激光光束经过扩束准直系统形成平行光束；分光单元将平行光束分为两束，一束进入参考探测系统，一束垂直入射待测微纳结构透镜；测试探测系统设置在待测透镜焦面位置，采集衍射...
- 刘盾汪利华杨伟吴时彬范斌
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- 一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置
- 一种检测大口径抛物面镜K值系数的装置，其特征在于：包括测角仪、标准平面反射镜、校准平面反射镜、标准球面反射镜、平移台、二维旋转调节架；检测时，测角仪发出平行光束，经标准平面反射镜和被测大口径抛物面镜反射后，到达标准球面反...
- 杨伟章明吴时彬古斌伍凡
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