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郭涛涛: 作品数：11 被引量：56H指数：5; 供职机构：呼和浩特供电局更多>>; 相关领域：电气工程自动化与计算机技术金属学及工艺一般工业技术更多>>

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基于SolidWorks的运输小车整体设计与结构分析被引量：1: 2011年; 首先根据实际数据设计一个车间运输小车,然后利用SolidWorks对运输小车三维建模,最后利用SolidWorks的motion和simulation功能插件对小车进行运动仿真和强度校核。; 郭铁桥郭涛涛方俊元张磊; 关键词：三维建模运动仿真强度校核 SOLIDWORKS

电力设备X射线检测技术及图像处理技术的研究: X射线DR检测技术是由云南电力研究院率先引入到输变电设备的带电检测与状态监测当中的。X射线检测技术的引入为电气设备的带电与在线检测提供了一种新的手段，为设备的状态监测与全寿命周期管理提出了一种新的方法。由于DR检测技术是...; 郭涛涛; 关键词：电气设备图像处理算法

GIS设备X射线可视化检测中焦距的选择被引量：18: 2012年; 焦距参数的选择对GIS设备X射线可视化检测中图像质量影响很大,讨论了断路器、隔离开关和母线三种GIS设备的焦距参数选择问题,提出应根据GIS设备的内部结构大小,结合几何不清晰度的要求以及设备检测时射线机的参数等因素来选取不同的X射线检测等级,并给出各种变压器设备的推荐检测等级。; 郭涛涛王达达于虹郭铁桥吴章勤; 关键词：GIS 焦距 X射线

曝光量在GIS设备X射线可视化无损检测中的选择应用被引量：24: 2012年; 针对GIS设备缺乏有效检测手段且其在电网中的重要性,云南电网在全球率先将X射线数字成像DR检测技术应用到GIS设备的可视化无损检测中。目前,X射线数字成像DR检测技术在电力设备可视化检测中的应用才刚刚起步,还没有现场试验操作规程、X射线机参数选择标准、图像处理系统等理论支撑。然而,在X射线成像过程中,曝光量直接影响着X射线数字成像质量,由此基于大量的现场试验及计算,提出了曝光量在GIS设备X射线可视化图像的选择方法。; 郭涛涛王达达于虹吴章勤郭铁桥; 关键词：GIS 曝光量 X射线

复合绝缘子陡波击穿原因可视化分析被引量：6: 2016年; 南方电网某线路在雷击跳闸后,对线路雷击区域用±500 k V直流复合绝缘子按照标准DL/T 810—2002进行例行试验中,有两串复合绝缘子高压端金具护套在陡波试验中发生击穿,但击穿区域现场目测未发现明显致因。为了确定陡波击穿的原因,笔者运用X射线DR检测技术,周详设计实验方案,对被陡波击穿的复合绝缘子金具区段进行多参数、多角度的拍摄,确定了最优拍摄参数,并运用相似原理在所拍摄的X射线结果图中测量了该区段护套厚度,最终确认了陡波击穿原因为复合绝缘护套与金具胶接处有明显间隙和金具尾部复合绝缘覆盖层厚度不匀导致,同时发现了金具端部与第1伞裙之间护套内部靠近金具端部约3 mm处环绕芯棒内部三角气道的缺陷。笔者所确定的最优拍摄参数及检测流程可为X射线对复合绝缘子进行内部结构可视化检测提供依据,而X射线DR检测技术为复合绝缘子不解体、高效率检测提供了方法上的创新。; 闫文斌王达达李卫国于虹屠幼萍郭涛涛; 关键词：复合绝缘子 X射线陡波

变电站X射线检测的防护措施被引量：2: 2013年; 通过对射线强度衰减的计算,得出公众人员与现场操作人员的安全距离。然后设计出现场操作人员的铅屏蔽装置,使得操作人员在距离射线源20米处即可处于安全状态。最后通过昆明疾控中心的试验验证,得出了安全距离与防护设备的有效性。; 郭涛涛王达达于虹吴章勤郭铁桥; 关键词：X射线计算方法

变电站X射线检测防护措施的研究: 目前X 射线数字成像技术由于实时、可视化等特点在各个领域得到了广泛的应用。云南电力研究院率先将该技术应用于电力设备的状态检测中，鉴于变电站、发电厂一般现场比较开阔而工业X 射线能量较大，如不采取一定的措施势必会对现场工作...; 王达达郭涛涛于虹吴章勤郭铁桥; 关键词：X射线变电站

x射线DR技术在变电站开关类设备检测中的应用: X 射线DR 成像技术是近几年发来起来的无损检测技术，由于其实时性、可视化、快速性等优点，在机械制造、航空航天、安检等领域得到了广泛的应用。云南电力研究院率先将该技术应用于变电站设备的无损检测当中，并在生产实际中不断改进...; 郭涛涛王达达于虹赵现平吴章勤; 关键词：X射线变电站

基于ARM的振动信号采集分析系统设计被引量：1: 2011年; 主要介绍了基于s3c2410A ARM9微处理器的振动信号采集分析系统的设计方案,该系统主要由硬件和软件两部分组成,其中重点研究了基于Qt/E的图形界面的应用程序和AD Linux驱动的开发。此系统比传统的振动信号采集分析系统具有更好的实时性和性价比。; 郭铁桥张磊郭涛涛; 关键词：振动信号数据采集分析 ARM9微处理器嵌入式

二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸被引量：1: 2013年; 将设备缺陷分成表面缺陷与内部缺陷两种情况进行讨论,表面缺陷尺寸直接利用三角形相似定理进行计算,而内部缺陷则需用二次透照方法所得的图形利用两次三角形相似定理进行计算。最后将设备解体(即打开罐体)后直接对缺陷进行测量,将这直接测量值与以前透照方法所得的计算值进行比较,验证了该方法的准确性。; 郭铁桥郭涛涛王达达高阔于虹吴章勤; 关键词：X射线计算方法