万威
- 作品数：10 被引量：8H指数：2
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- 相关领域：电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>
- 高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC
- 万威唐春艳王迪何万中王怀斌李方华
- 文献传递
- GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理
- 2004年
- 万威唐春艳王玉梅李方华
- 关键词：晶体缺陷高分辨电子显微镜分辨率
- 透射电镜原子像的数值分析被引量：1
- 2006年
- 万威陈江华
- 关键词：透射电镜高分辨电子显微术材料结构图像处理技术结构信息HRTEM
- 球差校正高分辨电子显微像的像衬和解卷处理
- 2009年
- 本工作将赝弱相位物体近似像衬理论延伸至球差校正高分辨电子显微像,分析了球差校正像的衬度随样品厚度的变化规律。指出非Scherzer聚焦条件下球差校正电镜拍摄的高分辨像仍未必反映晶体结构,讨论了解卷处理方法应用于球差校正像的有效性,并以有I2型层错的GaN晶体为例,借助像模拟肯定了解卷处理能用于复原原子分辨率晶体缺陷的结构像。
- 万威李方华
- 关键词：GAN
- La0.8Ca2.2Mn2O7无公度调制结构研究
- @@在理想情况下，巨磁阻材料La2.2xCa1+2xMn2O7具有双层钙钛矿结构，属四方晶系，空间群为/4/mmm。但是在实际的锰氧化物中，由于Mn0八面体的倾转或者Mn3+和Mn4+的有序排列，此类晶体可形成超结构或无...
- 王玉梅葛炳辉万威李方华
- 关键词：巨磁阻材料钙钛矿结构
- 文献传递
- 高分辨电子显微学的晶体缺陷结构表征及球差校正电镜像衬研究
- 高分辨电子显微学是晶体结构，特别是缺陷晶体结构表征最有效的方法之一。然而，由于成像系统的像差和样品厚度的影响，高分辨像未必直接反映晶体结构。为了得到可靠的结构信息，往往需要对高分辨像像衬作仔细分析或使用图像处理方法。近年...
- 万威
- 关键词：图像处理晶体缺陷晶体结构
- 高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC被引量：4
- 2005年
- 万威唐春艳王迪何万中王怀斌李方华
- 关键词：DEC晶体厚度晶体结构计算机程序
- GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究被引量：3
- 2005年
- 借助高分辨电子显微像结合解卷处理的方法研究了GaN晶体中的堆垛层错.简要介绍了高分辨电子显微像的解卷处理原理,指出通过解卷处理可以把本来不直接反映待测晶体结构的高分辨电子显微像转换为直接反映晶体结构的图像.用高分辨电子显微像观察了GaN晶体中的堆垛层错,对高分辨电子显微像作了解卷处理.在解卷像上清晰可见缺陷核心的原子排列情况,据此确定了层错的类型.此外,还讨论了解卷处理在研究晶体缺陷中的效用.
- 万威唐春艳王玉梅李方华
- 关键词：GAN晶体缺陷晶体结构堆垛层错原子排列
- 透射电镜原子像的数值分析
- ＜正＞高分辨电子显微术（HRTEM）已广泛应用于材料结构的测定,且分辨率已达到原子尺度。特别是近年来球差校正电子显微术的发展大大增加了获取各种材料结构原子像的可行性。然而,球差校正的高分辨电子显微像并未像人们期望的那样以...
- 万威陈江华
- 文献传递
- GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理
- 拍摄高分辨电子显微像时未必总靠近Scherzer聚焦条件,且晶体有一定厚度,致使像未必反映晶体结构。对高分辨像进行解卷处理是校正像中畸变的晶体结构信息并提高图像分辨率的有效方法。本文用高分辨像图像解卷处理方法研究GaN
- 万威唐春艳王玉梅李方华
- 关键词：GAN
- 文献传递
