吴斌
- 作品数：7 被引量：8H指数：2
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- 发文基金：湖北省自然科学基金更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术电气工程电子电信更多>>
- 纵向磁记录介质研究进展
- 2006年
- 综述了纵向磁记录介质研究进展情况,主要针对常用的CoCrX型介质,以及正在开发的SmCo型介质的研究进展情况进行了总结。
- 黄致新章平王辉刘敏吴斌张锋张玉龙
- 关键词：介质
- 基于原子力显微的多模式扫描探针显微镜被引量：2
- 2007年
- 扫描探针显微镜是目前世界上分辨率最高的显微镜之一,也是纳米技术研究的主要工具。本文在分析原子力显微镜工作原理的基础上,探讨多模式扫描探针显微镜的相关功能,并对扫描探针显微镜的发展前景进行展望。
- 吴斌黄致新王辉张峰
- 关键词：扫描探针显微镜原子力显微镜多模式
- SmCo薄膜的共溅射制备及磁学性能研究
- 2007年
- 采用磁控共溅射方法制备了非晶态的SmCo磁性薄膜,用振动样品磁强计(VSM)分析了薄膜的磁学性能,并通过原位后退火处理研究了其磁学性能。结果表明,在600℃下退火30分钟,SmCo薄膜样品的矫顽力升高,并且磁化取向有从面内转向垂直方向的趋势。
- 王辉黄致新吴斌张峰刘敏张玉龙章平
- 关键词：退火矫顽力
- 溅射工艺及底层对SmCo薄膜磁性能的影响被引量：2
- 2007年
- 用多靶射频磁控溅射系统在玻璃基片上制备了SmCo磁性薄膜。并采用控制变量法研究了溅射功率、溅射时间以及溅射气压等工艺参数对薄膜磁性能的影响。结果发现，当磁性层溅射功率为60W,溅射气压为0.5Pa，溅射时间为8min；底层溅射功率为125W，溅射气压为0．5Pa，溅射时间为4min时，薄膜的矫顽力高达2．79×10^5。底层对SmCo薄膜的磁性能也有影响，振动样品磁强计测量结果表明：相比Cr、Ti底层，以Cu作为底层所得到的SmCo薄膜磁性能更好，薄膜矫顽力分别比用Cr、Ti作底层时高出56％，40％。
- 张峰黄致新王辉吴斌杨晓非程伟明
- 关键词：磁控溅射控制变量法矫顽力
- 制备工艺及参数对TbCo薄膜垂直磁各向异性能的影响被引量：3
- 2007年
- 采用射频磁控溅射法制备了TbCo非晶垂直磁化膜,并就制备工艺及参数对其磁各向异性能的影响进行了研究。结果表明:磁性层组分、溅射气压、基片偏压以及后退火温度对TbCo非晶垂直磁化膜的磁各向异性能都有不同程度的影响。当Tb含量为30%左右,或溅射气压为0.53Pa时,TbCo薄膜的磁各向异性能Ku会呈现极大值。基片偏压超过–60V以后,TbCo薄膜Ku值开始显著上升,但超过–120V以后,Ku值开始趋向饱和。200℃以上真空退火会使TbCo薄膜磁各向异性能Ku值明显下降。产生这些现象的原因与薄膜微观结构的改变有关。
- 黄致新章平张玉龙王辉吴斌张锋李佐宜
- 关键词：磁各向异性磁控溅射工艺参数
- 基于SIP的多媒体会议框架研究与实现
- 随着信息技术的高速发展，视频会议已经成为当下一个非常热门的话题。在视频会议中，目前比较成熟的多媒体会话信令协议主要有H.323和SIP，H.323较之SIP，它的研究时间比较长，但SIP借助其简单灵活，开放和扩展性好等优...
- 吴斌
- 关键词：SIP协议体系结构功能特性信令控制
- 文献传递
- 基于SPM系统的双探针实验研究
- 纳米科技是二十世纪90年代发展起来的一门新兴学科。扫描探针显微镜/(SPM/)是纳米科学研究的重要工具。纳米技术的飞速发展，带动了其测量工具SPM的不断发展和创新；同时，SPM的不断创新也促进了纳米科技的研究与发展。
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- 吴斌
- 关键词：扫描隧道显微镜扫描探针显微镜
- 文献传递
