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文跃荣

作品数：2 被引量：3H指数：1
供职机构：湖南大学更多>>
发文基金：湖南省自然科学基金更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电压
  • 1篇电压控制
  • 1篇动态功耗
  • 1篇扫描测试
  • 1篇组合逻辑
  • 1篇组合逻辑电路
  • 1篇逻辑电路
  • 1篇静态功耗
  • 1篇功耗
  • 1篇UART
  • 1篇DEBUG
  • 1篇测试功耗

机构

  • 2篇湖南大学
  • 1篇长沙大学

作者

  • 2篇文跃荣
  • 1篇张红南
  • 1篇邓榕

传媒

  • 1篇湖南大学学报...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
基于UART的电能芯片在线调试设计
嵌入式系统开发过程中，调试是一个不可或缺的环节，通过调试可以准确定位错误的所在。现阶段，处理器芯片会在芯片研制时增加一个单独的用于调试的模块，即Debug模块，本文针对的就是中国科学院研制的一款基于8051的单片机电能芯...
文跃荣
一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法
2011年
提出了一种通过电压控制来实现扫描测试低功耗优化的方法(压控法).该方法主要采用插入门控晶体管来控制组合逻辑单元供电,从而有效地解决了在扫描测试移入过程中测试信号向组合逻辑的无用传播,由于组合逻辑的供电受到控制,因此压控法不仅有效降低了无用的动态功耗,同时也大大降低了由于供电所产生的漏电静态功耗.而且门控晶体管的插入对于当前设计的面积和时序影响都很小.实验结果表明,压控法对面积和延迟的影响远远小于以往插入逻辑门单元的方法,同时对功耗的优化最高可达近32%的改善.
张红南文跃荣邓榕
关键词：动态功耗扫描测试组合逻辑电路静态功耗
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