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杨锁龙: 作品数：29 被引量：13H指数：3; 供职机构：中国工程物理研究院更多>>; 发文基金：中国工程物理研究院科学技术发展基金国家自然科学基金中国工程物理研究院基金更多>>; 相关领域：理学一般工业技术金属学及工艺化学工程更多>>

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一种铜锌锡硫吸收层薄膜的化学合成方法: 本发明公开了一种铜锌锡硫吸收层薄膜的化学合成方法，包括：（S10）将铜源、锌源、锡源和硫源采用水热法制备Cu2ZnSnS4纳米晶；（S20）对制备的Cu2...; 杨盼赵晓冲杨蕊竹杨锁龙杨瑞龙; 文献传递

铀酰离子选择电极的研制: 2003年; 开链酰胺ETH295为铀酰离子选择性中性载体,配以不同的增塑剂,分别改变中性载体和阴离子定域体的含量组成电极,通过改变电极内参比溶液和缓冲溶液进行测试,考察了影响铀酰离子选择电极电位Nemst响应和稳定性的一些关键因素。其中,质量配比为1.2％ETH295、0.3％KTm(CF_3)_2PB、65.7％DOS和32.8％PVC的膜溶液制备的电极,在pH3.0的0.1mol·L^(-1)Tris-HNO_3或HCOOH-HCOOK缓冲溶液中,对铀酰离子呈很好的Nemst响应。平均响应斜率分别为42.3mV/decade和44.8mV/decade,线性响应范围为6.3×10^(-5)mol·L^(-1)～1.0×10^(-1)mol·L^(-1)[UO_2^(2+),检测下限为3.2×10^(-5)mol·L^(-1),电极具有很好的稳定性、重现性。加标回收方法测试铀试液样品,回收率范围在94％～104％之间,测量精度小于5％,说明在环境检测中具有一定实用性。; 仲敬荣杨锁龙余春荣丁平肖吉群褚明福; 关键词：铀酰离子选择电极中性载体电位响应

磷化铟量子点的掺杂和光学性质: 金属离子掺杂由于可对量子点的结构、形貌尺寸和荧光性能产生明显的影响而广受关注[1-4],但是关于III-V族量子点中最有代表性的In P量子点的掺杂合成以及荧光性能的文献报道还较少。本文采用文献[4]的热注入法,选择离子...; 杨锁龙王晓方蒋春丽王怀胜赖新春; 关键词：磷化铟量子点掺杂; 文献传递

一种锡掺杂磷化铟量子点敏化太阳能电池的制备方法: 本发明公开了一种锡掺杂磷化铟量子点敏化太阳能电池的制备方法，包括：（1）将Sn2+、In3+和长链烷基酸混合，并加入至十八烯溶剂中混合，得到混合溶液；（2）将混合溶液制成含掺杂...; 杨锁龙赖新春赵晓冲赵鹏翔杨盼杨蕊竹

预热退火对铀和铀铌合金氢化动力学的影响被引量：1: 2004年; 用压力体积温度(P V T)法研究了铀和铀铌合金与氢气反应的动力学过程。研究结果表明,加热预处理可以缩短铀和铀铌合金试样与氢气反应的孕育期;加热预处理温度(600～700℃)对铀和铀铌合金与氢气反应的影响不同。加热预处理温度为600℃、反应温度为200℃时,低碳铀、高碳铀、铀 7%铌合金和铀 3.5%铌合金与氢气反应的活性依次增强。因此,高碳铀和铀铌合金比低碳铀更易于与氢气反应。; 邹乐西孙颖齐连柱杨锁龙郭文胜李庆松; 关键词：铀铀铌合金氢气反应动力学储氢合金

石墨烯/纳米银导电薄膜的制备: 介绍一种在不添加任何稳定剂的情况下，采用超声化学法原位制备石墨烯基纳米银复合物的方法，并研究了反应时间、温度、还原剂对石墨烯基纳米银复合物性能的影响.利用紫外-可见吸收光谱、X射线衍射、原子力显微镜和拉曼光谱等手段对制得...; 杜云峰姜交来云雯杨锁龙廖俊生; 关键词：石墨烯纳米银单分散导电性

一种锡掺杂磷化铟量子点敏化太阳能电池的制备方法: 本发明公开了一种锡掺杂磷化铟量子点敏化太阳能电池的制备方法，包括：（1）将Sn2+、In3+和长链烷基酸混合，并加入至十八烯溶剂中混合，得到混合溶液；（2）将混合溶液制成含掺杂...; 杨锁龙赖新春赵晓冲赵鹏翔杨盼杨蕊竹; 文献传递

磷化铟量子点的掺杂和光学性质: 金属离子掺杂由于可对量子点的结构、形貌尺寸和荧光性能产生明显的影响而广受关注[1-4]，但是关于Ⅲ-Ⅴ族量子点中最有代表性的InP量子点的掺杂合成以及荧光性能的文献报道还较少。本文采用文献[4]的热注入法，选择离子半径与...; 杨锁龙王晓方蒋春丽王怀胜赖新春; 关键词：磷化铟量子点掺杂

DEB-硅橡胶吸氢拉曼检测技术研究: 本文制备了DEB-Pd/C粉末氢敏剂和DEB-Pd/C-硅橡胶氢敏膜,并对氢敏粉末和薄膜进行拉曼在线吸氢反应,研究DEB氢敏剂和薄膜的特征拉曼谱以及炔基特征峰强度随吸氢时间的变化规律.实验结果表明,DEB Pd/C-硅橡...; 杨锁龙仲敬荣王晃杨开旭肖吉群刘佳汐廖俊生; 关键词：DEB RAMAN DETECTION; 文献传递

U-Ta合金中Ta含量的EDXRF法测定被引量：3: 2012年; 介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定U-Ta合金中Ta含量的分析方法。该方法将样品溶解,加载于滤纸片上,制成滤纸试样片,用X射线荧光光谱仪测定试样片中Ta含量。该方法简便、快速、准确,适用于Ta含量在1%～6%范围的U-Ta合金样品的Ta含量测定。对Ta含量为1.5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.6%;Ta含量为5%的样品,测量结果的相对标准偏差(n=6)不大于0.3%。; 杨锁龙余春荣杨光文高戈吴伦强; 关键词：X射线荧光光谱分析