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赵长虹

作品数:17 被引量:11H指数:2
供职机构:复旦大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金美国国家科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 11篇专利
  • 5篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 7篇电路
  • 6篇集成电路
  • 6篇布图
  • 5篇芯片
  • 4篇退火算法
  • 4篇平面布局
  • 4篇模拟退火
  • 4篇模拟退火算法
  • 4篇布图规划
  • 4篇超大规模集成
  • 4篇超大规模集成...
  • 4篇大规模集成电...
  • 3篇电压
  • 3篇电压降
  • 3篇系统级芯片
  • 3篇规划方法
  • 2篇定理
  • 2篇时间复杂度
  • 2篇时钟
  • 2篇时钟系统

机构

  • 17篇复旦大学

作者

  • 17篇赵长虹
  • 12篇周电
  • 12篇周晓方
  • 8篇陈建
  • 2篇王琳凯
  • 2篇林殷茵
  • 2篇唐璞山
  • 2篇荆明娥
  • 2篇陈珊珊
  • 2篇陈建
  • 1篇王俊宇
  • 1篇陈更生
  • 1篇孙劼

传媒

  • 2篇计算机辅助设...
  • 1篇复旦学报(自...
  • 1篇小型微型计算...
  • 1篇计算机工程与...

年份

  • 1篇2011
  • 2篇2010
  • 1篇2009
  • 5篇2008
  • 6篇2006
  • 2篇2005
17 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
考虑热点及热量分布系统级芯片的测试规划被引量:1
2006年
在SoC的测试规划时,考虑为避免在测试过程中出现热点以及测试过程中使热量均匀分布,基于建立的问题模型得到一系列的并行测试集合,再通过Bin-Packing算法构造测试规划,并进行全局的优化.对ITC’02测试用例的实验结果表明,该方法在牺牲一定的测试时间的情况下,有效地控制了在测试时芯片温度的升高,从而避免出现由热量引起的一系列问题.
陈建赵长虹周电周晓方
关键词:系统级芯片
一种基于全局的扫描链构架方法
本发明属集成电路计算机辅助设计和辅助测试技术领域。具体为一种基于全局的扫描链构架及相应的测试资源分配方法。目前对组合电路的测试已经比较成熟,但是对时序电路的测试现有的测试方法需要较长的测试时间。本发明提出一种基于全局扫描...
赵长虹陈建王俊宇周晓方周电
文献传递
基于权重的超大规模集成电路布图规划算法被引量:8
2006年
针对超大规模集成电路布图规划问题各个模块的面积以及长边长度的不同,提出权重的概念,并根据各个模块权重的不同;在优化过程中以不同概率选择相应的模块,克服了原有算法以相同的概率选择各个模块的缺点,达到了更好的布图规划效果.
赵长虹陈建周电周晓方孙劼
关键词:布图规划
可避免热点并可均匀分布热量的系统级芯片测试方法
本发明属集成电路计算机辅助测试技术领域,具体为一种在系统级芯片测试过程中避免出现热点和均匀分布测试热量的方法。该方法包括建立SOC测试升温表、构造测试兼容图、提取并行测试集合和进行测试规划等步骤,测试规划包括对并行测试集...
陈建周晓方赵长虹周电
文献传递
一种考虑集中约束的平面布图规划算法被引量:1
2010年
在超大规模集成电路(VLSI)物理设计中,将更多约束实现放在更高的设计阶段考虑可以有效的加速设计收敛,减少设计时间.文中针对宏模块平面布图规划中约束的实现方法进行了分析和研究,基于B*-tree表示方法提出一种考虑集中约束(clustering constraints)的平面布图规划算法,针对布图规划中集中约束的实现取得了较好效果.
王琳凯赵长虹陈珊珊周晓方
关键词:布图规划
多时钟系统的平面布图规划方法
本发明属集成电路计算机辅助设计技术领域,具体为一种多时钟系统的平面布图规划方法。本发明给出了允许的多时钟平面布局定义以及相应的定理和证明,并基于序列对的表示法和模拟退火算法提出了多时钟平面布图规划方法。本方法在不增加时间...
赵长虹陈建周晓方周电
文献传递
多时钟系统的平面布图规划方法
本发明属集成电路计算机辅助设计技术领域,具体为一种多时钟系统的平面布图规划方法。本发明给出了允许的多时钟平面布局定义以及相应的定理和证明,并基于序列对的表示法和模拟退火算法提出了多时钟平面布图规划方法。本方法在不增加时间...
赵长虹陈建周晓方周电
文献传递
新型不可挥发存储器的工艺波动性控制方法
本发明属于超大规模数字集成电路技术领域,具体为一种新型不可挥发存储器的工艺波动性控制方法,该方法将新型不可挥发存储器的工艺波动性控制与其测试相结合,利用测试过程对存储阵列的读写和相应的控制电路实现对新型不可挥发存储器的工...
赵长虹林殷茵
文献传递
可避免热点并可均匀分布热量的系统级芯片测试方法
本发明属集成电路计算机辅助测试技术领域,具体为一种在系统级芯片测试过程中避免出现热点和均匀分布测试热量的方法。该方法包括建立SOC测试升温表、构造测试兼容图、提取并行测试集合和进行测试规划等步骤,测试规划包括对并行测试集...
陈建周晓方赵长虹周电
文献传递
考虑电压降的平面布局规划方法
本发明属集成电路计算机辅助设计技术领域,具体为一种考虑电压降的平面布局规划方法。本发明在传统的布局规划中引入电压降的优化目标,提出了一个快速的量化电压降的模型,并且在模拟退火过程中采用特定的选择策略,有效地降低一个布局的...
陈建赵长虹周晓方周电
文献传递
共2页<12>
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