邹翔
- 作品数：7 被引量：9H指数：1
- 供职机构：郑州航天电子技术有限公司更多>>
- 相关领域：电气工程电子电信一般工业技术更多>>
- 国内高速率电连接器技术发展方向研究被引量：1
- 2010年
- 本文概述了高速率电连接器的特征,国内外行业发展状况及差距;提出国内行业应亟待从人才队伍、新品研发、研制平台、生产保障、综合测试等方面进行能力提升建设,以满足电子信息化装备技术的飞速发展,缩小与国外行业差距。并结合当前电子信息化装备技术的发展,提出了国内高速率电连接器未来的发展方向。
- 邹翔曹勇
- 关键词：高速率LVDSEMIRFIEMP
- 连接器行业最新发展趋势分析被引量：8
- 2014年
- 通过对连接器行业产品和科研领域的调研,简要介绍了行业内一些前沿产品,总结了连接器行业的发展趋势,分析了发展中遇到的技术难点并介绍了常用的解决方案。
- 邹翔彭清华
- 关键词：信号完整性
- SiO2涂层提高PEI绝缘材料耐原子氧剥蚀能力的验证
- 2020年
- 目的验证SiO2涂层对PEI绝缘材料耐原子氧剥蚀能力的提升效果。方法以某航天器舱外用电连接器PEI绝缘材料为研究对象,将全氢聚硅氮烷(PHPS)作为涂层材料,利用底涂浸涂、面涂喷涂的KH-AORX湿化学法镀膜工艺,把PHPS直接转化为二氧化硅(SiO2)无机防护涂层。基于型号在轨15年的工作寿命要求,开展5年原子氧总通量为2.61×10^26 atoms/m^2、原子氧通量率为6.5×10^15 atoms/(cm^2·s)的试验验证,分析试验前后的材料质量损失率、原子氧剥蚀率和外观形貌的变化。结果采用的KH-AORX湿化学法镀膜工艺可实现将PHPS涂层材料作用于PEI绝缘材料并直接转换为SiO2保护涂层。涂层边缘厚度及中心厚度具有较好的一致性,涂层硬度及附着力满足设计指标要求。已涂覆SiO2的PEI绝缘体经历5年通量的原子氧剥蚀后,质量损失率为0.05%,拟合计算后,经历15年通量的原子氧剥蚀后的质量损失率为0.29%。经电子显微镜检查,PEI绝缘体表面SiO2涂层未见起层、脱落和基体暴露现象。结论利用KH-AORX湿法镀膜工艺在PEI绝缘材料上将PHPS转化为SiO2涂层,能够获得较大的膜层,且膜层厚度分布均匀。SiO2涂层能有效提高PEI绝缘材料的耐原子氧性能,满足舱外应用在轨服役寿命要求。
- 王征张义范壮壮李江邹翔李成宾张翔
- 关键词：原子氧试验验证
- 焊片式及软线式三通模块化电连接器
- 一种焊片式及软线式三通模块化电连接器，它包括有针孔一体化结构的接触件、焊片或软导线、绝缘体、盖板及胶粘剂，所述的接触件具有两个插配端，一端为阳插配端，另一端为阴插配端，其特点是，针孔一体化接触件的中部与焊片或软导线横向相...
- 郑治友邹翔
- 文献传递
- 高速率电连接器的发展与技术现状
- 2010年
- 随着信息化技术的快速发展,高速率电连接器必将成为解决设备间高速互联问题的基础元件,在电子信息系统中广泛应用。本文介绍了高速率电连接器产品应用的背景;阐述了高速传输原理以及高速率电连接器在高速数据传输时需满足的条件;分析了国内外高速率电连接器技术的发展状况,以及国内外技术的差距;并根据信息化技术的发展,预测了高速率电连接器的市场前景。
- 邹翔曹勇
- 关键词：高速率分布式
- 二次锁紧推拉式锁紧装置
- 一种二次锁紧推拉式锁紧装置，它由固定连接端外壳和活动连接端外壳组成，在活动连接端外壳的圆表面设有至少一个定位槽，该定位槽包括轴向分布槽和圆周向解锁槽，在该定位槽所对应的锁紧套上连接有进入定位槽的定位销，其特征是，在所述的...
- 刘洪滔邹翔
- 文献传递
- 卡口式快速连接锁紧机构
- 一种卡口式快速连接锁紧机构，主要包括连接器插头壳体、绝缘体、连接环、限位环、活动压环、弹簧、弹簧安装槽、以及连接器插座壳体。锁紧时，推动连接环向前运动，受到限位槽的阻挡后，变直线运动为旋转运动，在右旋30°后，卡钉固定在...
- 邹翔张高峰
- 文献传递
