您的位置: 专家智库 > >

黄金林

作品数:4 被引量:1H指数:1
供职机构:复旦大学更多>>
相关领域:电子电信一般工业技术更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 3篇功函数
  • 2篇扫描隧道显微...
  • 1篇电荷
  • 1篇电荷密度
  • 1篇电容法
  • 1篇电压
  • 1篇电压扫描
  • 1篇原子尺度
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇杂散电容
  • 1篇三维形貌
  • 1篇上升沿
  • 1篇势垒
  • 1篇锁相
  • 1篇锁相技术
  • 1篇近场
  • 1篇近场光学
  • 1篇局域
  • 1篇局域态
  • 1篇局域态密度

机构

  • 4篇复旦大学

作者

  • 4篇黄金林
  • 2篇陈虞峰
  • 1篇张强基
  • 1篇章壮健

传媒

  • 2篇仪器仪表学报
  • 2篇真空科学与技...

年份

  • 2篇1989
  • 1篇1988
  • 1篇1986
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
扫描隧道显微镜的一种新模式
1989年
本文提出了扫描隧道显微镜(STM))在高隧道电压区(Fowler-Nordheim区)工作的一种新模式——恒流和极大电导率(CCMC)模式。分析和计算表明,由此得到的CCMC图象能给出不依赖于表面功函数变化及表面局域态密度结构的表面形貌图,同时还能给出表面局域功函数分布图。最后对CCMC图象的分辨率和适用范围作了讨论。
陈虞峰黄金林许卫华中一
关键词:扫描隧道显微镜功函数局域态密度表面形貌分布图三维形貌
一种新的功函数测量法被引量:1
1986年
一、前言功函数是表面现象研究中一个重要的参数,目前已有多种测量方法〔1〕。但是要在超高真空条件下,对样品表面进行具有相当空间分辨率的功函数测量,仍是一项十分困难的工作。本文将介绍一种利用二次电子低能峰上升沿(以下简称上升沿)和功函数有关的原理来测量功函数的方法。用现成的俄歇谱仪不作改动或略作改动即可进行测量。如果俄歇谱仪具有电子束扫描功能,则还能达到一定的空间分辨率〔2〕。对于扫描电镜,如果配备上电子能量分析器,也能同样实现功函数测量〔3〕。
黄金林张强基
关键词:功函数二次电子上升沿电压扫描表面势垒
扫描隧道显微镜
1989年
一、引言扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)是G. Binnig和H. Robrer等1979年发明的一种新型表面分析技术,近几年来得到了迅速发展。它能在实空间、原子尺度上研究金属和半导体表面的几何结构和电子结构,且能在真空、气体或液体中操作,其适用范围极为广泛。它在表面科学中的应用已取得了丰硕的成果。
陈虞峰黄金林
关键词:扫描隧道显微镜原子尺度半导体表面近场光学原子力显微镜电荷密度
大气中测量功函数的Kelvin探头
1988年
Kelvin 振动电容法对于研究固体表面,由于气体吸附所引起的功函数变化是极其有用的。它能对大部分材料进行测量,并能工作在很宽的压强和温度范围内。本文介绍了一种在大气中测量功函数的Kelvin 探头,它结构简单,能适用于室温至400℃范围内大气环境中的固体表面现象的研究。信号采用锁相技术检测,能跟踪功函数的变化。该装置具有较高精度,约10mV。在文中,对引起测量误差的因素,如杂散电容效应、频飘等进行了较为详尽的讨论。最后,还给出了应用该探头研究乙醇气体在氧化铟锡薄膜上吸附的例子。
陈烈敏黄金林章壮健
关键词:KELVIN功函数杂散电容参考电极锁相技术电容法
共1页<1>
聚类工具0