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孙宏波

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：浙江大学光电信息工程学系现代光学仪器国家重点实验室更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法

机构

  • 1篇浙江大学

作者

  • 1篇孙宏波
  • 1篇曾广杰
  • 1篇吴国忠
  • 1篇贺银波
  • 1篇余飞鸿

传媒

  • 1篇光学仪器

年份

  • 1篇2003
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
基于光谱法的晶体厚度测量被引量：1
2003年
首次提出利用光谱特性来确定晶体厚度。从理论上推导出其实现的可行性 ,然后结合实验分析了测量系统的具体实现过程及计算厚度的算法 ,并分析了影响测量精度的主要因素。
孙宏波贺银波吴国忠曾广杰余飞鸿
关键词：光谱法
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共1页<1>
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