李旭
- 作品数：22 被引量：10H指数：2
- 供职机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学自动化与计算机技术更多>>
- 软X射线波段透射光栅检测系统被引量：1
- 2012年
- 目前,透射光栅被广泛地应用于软X射线波段光谱测量当中。但由于在软X射线波段几乎所有材料都有非常明显的吸收,因此利用传统方法很难在该波段对透射光栅进行检测。为了检测透射光栅在软X射线波段的光谱分辨本领,我们基于掠入射理论,采用凹面反射光栅单色仪配X射线CCD相机组成一套软X射线波段透射光栅检测装置。首先利用He空心阴极光源的30.38nm、53.70nm和58.43nm三条线谱对透射光栅检测系统进行波长标定。然后更换激光等离子体光源,测量并得到了金自支撑式透射光栅在6.67nm和9.10nm两个波长位置上一级衍射位置和一级衍射光谱线宽度,利用半宽度法计算并得出在以上两个波长位置时被测透射光栅一级谱所能分辨的最小波长差为2.38nm和2.05nm。实验结果表明该投射光栅检测系统完全可以应用于软X射线波段透射光栅检测工作当中。
- 李旭何飞陈波
- 关键词：透射光栅软X射线
- 方孔微通道板成像元件评价方法
- <正>方孔微通道板(micro channel plate,MCP)是龙虾眼光学系统中的主要成像元件,在软X射线与极紫外波段当中,相比其它成像元件,方孔MCP具有大视场、高分辨率、低成本和重量轻等优点。本文将首先从方孔M...
- 李旭
- 文献传递
- 立体测绘相机整机内方位元素定标方法、装置及系统
- 本发明实施例公开了一种立体测绘相机整机内方位元素定标方法、装置及系统。包括高精度自准直经纬仪、设置于三维调整机构的网格板、出射平行光束的光源模块及参数计算装置，通过调节三维调整机构带动网格板在三维空间内移动。高精度自准直...
- 周兴义马洪涛张鹰金辉李旭
- 13．9和19．6nm正入射Mo／Si多层膜反射镜的反射率测量被引量：4
- 2008年
- 为了进一步研究13.9 nm类镍银和19.6 nm类氖锗X射线激光,制备了工作在上述两个波长的Mo/Si多层膜反射镜。设计了结构简单、操作方便的小型反射率计,将其安装在Mcpherson247单色仪出射狭缝附近,以铜靶激光等离子体辐射源为极紫外光源,组建了一套适合反射率测量的实验装置,利用此装置测量了实验室制备的多层膜反射镜的反射率。测量之前对单色仪进行了标定并对光源稳定性进行了测量,结果显示,波长准确度是0.08 nm,光源信号抖动范围<5%,光源稳定性好。反射率测量结果显示,实验室能够制备出中心波长分别是13.91和19.60 nm的Mo/Si多层膜反射镜,相应反射率分别为41.9%和22.6%,半宽度为0.56和1.70 nm。同时还用WYKO测量得到13.9和19.6 nmMo/Si多层膜的表面粗糙度分别为0.52和0.55 nm。
- 李敏董宁宁刘震刘世界李旭范鲜红王丽辉马月英陈波
- 关键词：表面粗糙度
- 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法
- 超长焦距空间相机焦距的精密测量方法，涉及光学测量方法技术领域，解决现有测量长焦距相机焦距时测量精度低、配套设备需求经费高等问题，本发明采用球径仪测量干涉仪球面标准镜的曲率半径，采用镜面定位仪测量标准镜的透镜厚度，并根据获...
- 马洪涛金辉韩冰李旭周兴义
- 一种红外光学系统MTF测试系统及其方法
- 本发明提供一种红外光学系统MTF测试系统，包括：目标发生器、平行光管、载物台、信号接收器和电控系统；载物台用于固定被测光学系统；平行光管用于将红外目标投射到被测光学系统的入曈处；目标发生器产生红外目标后，红外目标经过平行...
- 李旭
- 文献传递
- 红外传递函数测量仪的装调方法
- 本发明公开了一种红外传递函数测量仪的装调方法包括干涉仪主体、球面标准镜、标准平面镜；所述干涉仪产生口径为9mm的平面波，经干涉仪球面标准镜变成球面波，球面波汇聚点调试到被测非球面镜焦点处，球面波经折转镜、非球面镜以平面波...
- 马洪涛袁理许洪刚陈晓苹李旭
- 文献传递
- 立方镜相对位姿的标定方法
- 一种立方镜相对位姿的标定方法及该系统，利用采集的图像进行计算获得。采用倾斜一定角度的条纹像进行推扫成像，当目标移动速度与TDI图像传感器行频匹配时，动态图像中拍频条纹的倾斜角度与实际条纹倾斜角度相同，当目标移动速度与TD...
- 袁理马洪涛李旭鞠德晗
- 用于芯片封装的光学准直成像系统
- 本发明实施例公开了一种用于芯片封装的光学准直成像系统，包括光源、分划板、第一准直物镜、第二准直物镜、分光模块、反射镜组、光学成像装置、芯片载台及基板载台。分划板和光学成像装置位于准直物镜的焦平面上，芯片载台、基板载台分别...
- 马洪涛金辉李旭韩冰周兴义
- 文献传递
- 方孔微通道板结构缺陷对成像质量的影响被引量：2
- 2012年
- 方孔微通道板(MCP)作为一种新型X射线波段光学成像系统,因其具有大视场、高分辨率、能够收集大量辐射并将其准直或聚焦等优点,越来越多地受到了人们的关注。但在MCP制作和加工过程中,难免会使微通道产生一定的结构缺陷,对其成像质量造成严重的影响。利用Tracepro软件建立了标准方孔MCP模型和具有不同结构缺陷的MCP模型,并基于蒙特卡罗(MTC)光线追迹方法对这些模型进行模拟成像。分别讨论了Taper型、Twist型和Nonsquare型结构缺陷对成像质量的影响。然后以溴钨灯作为光源,在可见光波段对实验室现有的4块方孔MCP进行了成像实验,所得实验结果与模拟结果基本吻合,验证了模拟结果的正确性。模拟和实验结果表明,以上3种结构缺陷均会造成十字像中央亮斑面积增大、强度降低等情况,所不同的是Taper型结构缺陷使会聚光线分裂成两条,而这两组平行的会聚线相交形成4个焦点,其能量要比单一聚焦能量衰减很多,从而对成像质量影响更大。该研究为今后研究曲面MCP和基于MCP的X射线光学系统奠定了重要基础。
- 李旭何飞李达陈波
- 关键词：成像系统X射线光学微通道板光线追迹
