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王桂华

作品数:3 被引量:13H指数:3
供职机构:北京科技大学应用科学学院化学系更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学

主题

  • 2篇荧光
  • 2篇影响系数法
  • 2篇基本参数法
  • 1篇迭代法
  • 1篇荧光分析
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱分析
  • 1篇射线
  • 1篇逆问题
  • 1篇稀释率
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱分析
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光分...

机构

  • 3篇北京科技大学

作者

  • 3篇王桂华
  • 3篇谭秉和

传媒

  • 3篇光谱学与光谱...

年份

  • 2篇2002
  • 1篇2000
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
Arai实测谱分布数据的应用被引量:5
2002年
对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论影响系数法分析结果与确认值一致 ,对Cr,Ni分析的相对误差 <1 0 %。结果表明 :经处理的Arai的靶原级谱分布数据应用于FPM程序 ,提高了分析准确性 ,并扩大了基本参数法与理论影响系数法的应用范围。
王桂华谭秉和
关键词:影响系数法基本参数法X射线荧光光谱分析
理论强度公式在X-射线荧光光谱分析中的应用被引量:4
2002年
介绍理论强度公式的应用 :计算基体效应 ,估算三次荧光 ;标准样品数据及实验条件的检验 ;预测标样的适用性 ;稀释率的确定。
王桂华谭秉和
关键词:稀释率
X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)被引量:4
2000年
本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、X射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热钢标样 ,主量、常量元素的平均相对分析误差 <0 .5 %,对低含量轻元素Si、P、
谭秉和王桂华
关键词:X射线荧光分析迭代法影响系数法
共1页<1>
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