陈诚
- 作品数：16 被引量：5H指数：1
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术一般工业技术电气工程更多>>
- 一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅用...
- 于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
- 文献传递
- 基于SIP的FPGA驱动电压补偿测试研究
- 2025年
- 在基于SIP的现场可编程门阵列(FPGA)性能参数验证测试时,驱动电压测试会受到多种因素的影响,如PCB线阻、插座信号损耗以及测试温度等,这些因素导致ATE测试的实测值与真实值之间存在偏差。为了提高驱动电压的测试精度,提出一种基于卷积神经网络(CNN)与长短时记忆(LSTM)网络的误差补偿方法。将PCB线长、测试温度等参数作为特征输入到CNN-LSTM模型中,模型经过训练迭代后能够预测出驱动电压的误差值;再将预测的误差值应用于ATE测试机中,对实测值进行补偿和修正,从而使得测试结果更加接近真实值。实验结果表明,所提方法能够有效地减小测试误差,提高FPGA驱动电压测试的准确性。
- 黄健陈诚王建超李岱林杜晓冬
- 关键词：误差补偿现场可编程门阵列
- 基于UltraFlex系统的FPGA直流参数补偿测试方法被引量：1
- 2018年
- 现场可编程集成电路FPGA是在信息产业中硬件、软件和系统集成三位一体、不可取代的高端处理芯片,对电子信息系统的先进性、安全性、可靠性等起着决定性作用。由于FPGA电路测试中pogopin精密连接器和字母板连接方式的引入电阻,使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高的难度,因此必须在测试大电流负载直流参数时对这些通路电阻进行修正,否则会导致测试失效。在UltraFlex测试系统自带的PPMU模板的基础上,提出一种改进型的电阻修正模板。实验证明,该模板可以大大提高对于FPGA直流参数测试的准确性。
- 陈诚陈龙肖艳梅
- 关键词：FPGA
- 一种基于FPGA的SIP互联输出驱动故障测试方法及其系统
- 本发明属于芯片故障测试技术领域，特别涉及一种基于FPGA的SIP互联输出驱动故障测试方法及其系统。包括：通过FPGA和DSP模块所对应的仿真软件，生成FPGA和DSP配置向量，通过自动生产测试系统将FPGA和DSP配置向...
- 黄健陈诚解维坤王建超
- 基于机器学习的芯片老化状态估计算法研究
- 2024年
- 随着芯片的集成度越来越高,其晶体管数量也越来越多,老化速度加快。由于工业应用、装备系统等领域对芯片可靠性的要求较高,因此研究估计芯片老化的方法至关重要。总结现有的芯片老化估计和预警的技术方法,将机器学习算法应用于芯片老化状态估计,实验结果表明,极端梯度提升树算法的效果较好。对现有的极端梯度提升树算法进行贝叶斯优化,寻找模型的最优参数,使用优化后的算法估计的状态值与真实值的均方误差比优化前降低了0.13~0.25,优化后的模型预测结果较为精准。
- 宋国栋邵家康陈诚
- 一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法
- 本发明涉及微电子集成电路技术领域，特别涉及一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法。包括：芯粒检测器，包括上层芯粒检测器和下层芯粒检测器；每个单芯粒的上层芯粒检测器和下层芯粒检测器接收并输出来自相邻单芯粒的下层...
- 解维坤 洪浩斐宋国栋 陈龙 林晓会陈诚 刘小婷 魏梦凡 蔡志匡
- 一种FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法
- 本发明公开了一种配置次数尽可能少的基于Virtex架构的FPGA六长线及其斜向互连开关的测试方法，该方法以移位寄存器链模式测试FPGA电路的六长线，可以测试6根为一组的同方向的六长线的任意2根信号之间的桥接故障；总计采用...
- 于大鑫徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
- 文献传递
- 一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法
- 本发明涉及反熔丝FPGA测试技术领域，具体涉及一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法。包括：步骤a：ATE测试系统实时采集并比对反熔丝FPGA的输出结果，如果芯片失效，将失效的向量地址形成测试报告输出a1，修改特定的...
- 李岱林陈诚王建超黄健康培培
- 一种FPGA单长线及其直连开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线及其直连开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的24根单长线，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅...
- 陆峰徐彦峰于大鑫陈诚季正凯李晓磊
- 一种FPGA单长线斜向开关的测试方法
- 本发明涉及一种基于Virtex架构的FPGA单长线斜向开关的测试方法，仅用四次配置就完成。本发明的优点是：以移位寄存器链模式测试FPGA电路的单长线斜向开关，可以测试24根为一组的单长线的任意2根信号之间的桥接故障；仅用...
- 于大鑫周亚丽徐彦峰陈诚季正凯李晓磊
