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林腾

作品数：8 被引量：4H指数：1
供职机构：北京大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 6篇现场可编程
  • 6篇现场可编程门...
  • 6篇门阵列
  • 6篇可编程门阵列
  • 4篇阵列
  • 4篇逻辑函数
  • 4篇互连
  • 4篇互连线
  • 4篇寄存器
  • 2篇电路
  • 2篇异或
  • 2篇终端
  • 2篇自然数
  • 2篇组合电路
  • 2篇现场可编程门...
  • 2篇向量
  • 2篇逻辑单元
  • 2篇逻辑值
  • 2篇二叉树
  • 2篇被覆

机构

  • 8篇北京大学

作者

  • 8篇林腾
  • 7篇冯建华
  • 6篇徐文华
  • 5篇王阳元
  • 2篇孙博韬
  • 1篇赵建兵

传媒

  • 1篇北京大学学报...

年份

  • 2篇2011
  • 1篇2010
  • 5篇2009
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路
本发明涉及一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路，包括：偶数个向量生成和响应分析器，所述偶数个向量生成和响应分析器中的各个所述向量生成和响应分析器包括一个n输入n输出的逻辑组合电路和一组n位寄存器，其中，n取自然...
冯建华林腾徐文华王阳元
文献传递
一种新的面向应用的FPGA测试方法(英文)被引量：4
2009年
提出一种新的面向应用的FPGA测试方法。该方法将FPGA设计配置(DC)抽象成由LUT、非LUT逻辑门、寄存器和互连线所组成的模型,将目标故障集设定为互连线的固定故障(SAFI)和LUT的功能故障(FFL)。提出了两种可选的测试配置(TC)以提高自动测试向量生成(ATPG)工具所得到的SAFI覆盖率,同时给出了可对LUT进行穷举测试的TC以检测FFL。实验结果表明,对于7个最大的ISCAS89基准电路,该方法可得到86.82%～99.16%的SAFI覆盖率和100%的FFL覆盖率。
林腾冯建华赵建兵王阳元
关键词：现场可编程门阵列查找表
面向应用的FPGA的延迟故障测试方法及系统
本发明涉及一种面向应用的FPGA的延迟故障测试方法，该方法包括步骤：将所有关键路径按照逻辑级数排序；以逻辑级数最高的关键路径的终端寄存器为根节点，从所有终端为该寄存器、子节点不属于该关键路径的路径中选取第二被测路径构成测...
冯建华孙博韬林腾徐文华
文献传递
面向应用的FPGA的延迟故障测试方法及系统
本发明涉及一种面向应用的FPGA的延迟故障测试方法，该方法包括步骤：将所有关键路径按照逻辑级数排序；以逻辑级数最高的关键路径的终端寄存器为根节点，从所有终端为该寄存器、子节点不属于该关键路径的路径中选取第二被测路径构成测...
冯建华孙博韬林腾徐文华
文献传递
一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路
本发明涉及一种现场可编程门阵列器件中使用的互连线测试电路，包括：偶数个向量生成和响应分析器，所述偶数个向量生成和响应分析器中的各个所述向量生成和响应分析器包括一个n输入n输出的逻辑组合电路和一组n位寄存器，其中，n取自然...
冯建华林腾徐文华王阳元
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一种现场可编程门阵列的测试方法及系统
本发明涉及一种现场可编程门阵列(FPGA)的测试方法，包括：获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置；采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能，得到初始测试网表和初始测试配置；基...
冯建华林腾徐文华王阳元
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FPGA测试技术研究
FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)器件由于其可配置、应用设计开发周期短、小批量实现成本低等特点，在通信、消费电子、汽车电子、工业控制、医疗设备以及国防武器装备系统中得...
林腾
关键词：现场可编程门阵列测试技术电子器件
一种现场可编程门阵列的测试方法及系统
本发明涉及一种现场可编程门阵列(FPGA)的测试方法，包括：获取现场可编程门阵列的初始设计网表和初始设计配置；采用逻辑函数的异或功能替换所述初始设计网表和初始设计配置的查找表单元的功能，得到初始测试网表和初始测试配置；基...
冯建华林腾徐文华王阳元
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